一种ECC错误注入功能验证方法技术

本发明专利技术公开了一种ECC错误注入功能验证方法，包括步骤：基于待测设计功能搭建验证平台，所述待测设计为需要进行功能验证的模块；获取待测设计添加ECC校验位后的地址和数据信息；设置错误随机约束条件，调用脚本生成满足约束条件的注错测试向量，从注错测试向量中随机选择进行注错；根据测试的注错向量中注错个数，测试ECC功能。与传统定向注错的方法相比，通过获取内部添加ECC校验位的信息，可在任意时刻随机选择注错位，有效提高ECC功能验证的随机性及全面性。同时通过监测数据进入存储模块的时机，能够随机选择注错时机，相比于传统定向注错方法更具可控性。注错方法更具可控性。注错方法更具可控性。

【技术实现步骤摘要】
一种ECC错误注入功能验证方法


[0001]本专利技术涉及信息通信领域，更具体涉及ECC错误注入功能验证领域。

技术介绍

[0002]ECC（Error Correcting Code，误差校正码）是一种既能检查错误又能对错误进行纠正的技术。在片上系统（SOC）芯片设计开发过程中，为了满足不同的设计需求，芯片中会设计存储模块来存储相应信息，而ECC的纠错和检错功能在一定程度上能够提高数据信息的稳定性和可靠性，因此，为保证存储数据的完整性，芯片设计人员通常会在存储模块添加ECC功能。
[0003]由于ECC功能存在于存储模块内部，添加ECC校验位后的数据信息是存储模块的内部信号，且在正常仿真环境下，不会出现错误数据，因此验证ECC功能时需进行错误注入。传统的ECC错误注入需要修改内部添加校验位后的数据，且仅能定向对部分数据位进行注错，无法随机选择注错位，注错的时间也有局限性。

技术实现思路

[0004]本专利技术目的是提供一种ECC错误注入功能验证的方法，能够有效提高ECC功能验证的灵活性和全面性。
[0005]本专利技术为实现上述目的，通过以下技术方案实现：一种ECC错误注入功能验证方法，包括步骤：S1.基于待测设计功能搭建验证平台，所述待测设计为需要进行功能验证的模块；S2.获取待测设计添加ECC校验位后的地址和数据信息；S3.设置错误随机约束条件，调用脚本生成满足约束条件的错误向量，从错误向量中随机选择进行注错；S4.根据注错测试向量中的注错个数，测试ECC功能。
[0006]进一步的，约束条件包括错误个数和注错位置。
[0007]进一步的，根据选择的注错测试向量标记的注错位置，对原始数据中对应位取反，实现错误注入。
[0008]进一步的，步骤S4还包括：S4.1判断注入错误个数；S4.2通过地址信息匹配对应数据信息的ECC验证结果与待测设计输出结果进行比对。
[0009]进一步的，步骤S4.1还包括：通过与未注错的原始数据异或得到注错位置，并进行注错个数计算。
[0010]若注入错误个数大于1，输出注入错误后的数据，同时置位ECC错误位；否则执行步骤S4.2。
[0011]进一步的，步骤S4.1还包括：
若注入错误个数等于0，输出未注错数据，不置位ECC校验错误标志。
[0012]若注入错误个数等于1，ECC功能可正常纠错，输出未注错数据，不置位ECC校验错误标志。
[0013]进一步的，验证平台包括：监测器，监测添加ECC校验位后数据的状态，同时将监测到的地址和数据信息传递给参考模型；错误生成模块，调用配置脚本随机生成错误向量；激励生成器，对错误生成模块生成的错误注入位进行取反，实现错误注入；参考模型，根据地址信息，将注错后的数据信息与原始未注错信息对比，计算错误注入个数；记分板，将经过待测设计ECC校验后的结果与参考模型得出的校验结果进行对比；错误生成模块、激励生成器、参考模型、记分板依次存在信息传输，待测设计与激励生成器和记分板存在信息传输，监测器与待测设计、错误生成模块和参考模型均存在信息传输。
[0014]进一步的，步骤S4还包括：将经过待测设计ECC校验后的结果与参考模型得出的校验结果进行对比，若输出一致，证明ECC校验功能正常，否则校验失败，打印错误信息。
[0015]本专利技术的有益效果是：与传统定向注错的方法相比，通过获取内部添加ECC校验位的信息，可在任意时刻随机选择注错位，有效提高ECC功能验证的随机性及全面性。同时通过监测数据进入存储模块的时机，能够随机选择注错时机，相比于传统定向注错方法更具可控性。
附图说明
[0016]图1为本专利技术ECC错误注入功能验证流程图；图2为本专利技术验证平台连接关系示意图。
具体实施方式
[0017]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
[0018]本专利技术公开了一种ECC错误注入功能验证方法，具体流程请参考图1，包括步骤：S1.基于待测设计功能搭建验证平台，待测设计即需要进行功能验证的模块。ECC错误注入功能验证平台架构可以参照图2，监测器用于监测添加ECC校验位后数据的状态，同时将监测到的地址和数据信息传递给参考模型。错误生成模块根据存储数据位宽设置随机约束条件，包括注错个数、注错位置等，通过调用脚本文件随机产生多种注错测试向量。激励生成模块对错误生成模块生成的错误注入位进行取反，从而实现错误注入，并将注错后的数据信息发送至待测设计内部。参考模型根据地址信息，将注错后的数据信息与原始未注错信息对比，计算错误注入个数，从而判断该错误是否能被纠正或检测。记分板将经过待测设计ECC校验后的结果与参考模型得出的校验结果进行对比，根据对比结果判断ECC校验功能。
[0019]S2.监测模块获取待测设计添加ECC校验位后的地址和数据信息。
[0020]S3.错误生成模块根据数据位宽设置随机约束条件（错误注入个数和注入位置），以数据位宽为N位为例，可对添加校验位后的内部数据信息的0
‑
(N
‑
1)位注错，因此注错个数可约束为0
‑
N。同时可对注错位置进行约束，可配置随机选择连续注错或非连续注错。可设置随机错误生成个数，从而通过调用脚本生成满足设置个数的错误向量，激励生成器产生注错数据时，可从产生的错误向量中随机选择进行注错。
[0021]S4. 通过接口监测添加ECC校验位后的数据信息，可随时获知是否有数据进入存储模块，因此可在监测到数据信息后随时选择是否对该数据信息注错，测试ECC功能。
[0022]同时该方法中可设置不对数据进行注错，通过配置注错个数为0来设置。参考模型进行错误分析时，通过与未注错的原始数据异或得到注错位置，并进行注错个数计算，将计算结果与该数据的地址信息对应，并将ECC验证结果发送至记分板。若注错个数为0，则表示未对数据信息进行注错，参考模型输出未注错数据，ECC校验错误标志不会置位；若注入错误个数为1，则可纠正该错误，参考模型输出数据为未注错数据，且不会置位ECC校验错误位；若注入错误个数大于1，则无法纠正错误，参考模型输出注入错误后的数据，同时置位ECC错误位。在记分板中通过地址信息匹配对应数据信息的ECC验证结果与待测设计输出结果，通过结果对比可验证ECC的校验功能。若验证结果与待测设计输出一致，则表示ECC可正常纠错和检错，该存储模块ECC功能正常。
[0023]最后应说明的是：以上所述仅为本专利技术的优选实施例而已，并不用于限制本专利技术，尽管参照前述实施例对本专利技术进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本专利技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本专利技术的保护范围之内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种ECC错误注入功能验证方法，其特征在于，包括步骤：S1.基于待测设计功能搭建验证平台，所述待测设计为需要进行功能验证的模块；S2.获取待测设计添加ECC校验位后的地址和数据信息；S3.设置错误注入个数和注入位置，调用脚本生成满足设置个数的错误向量，从错误向量中随机选择进行注错；S4.根据注错测试向量中的注错个数，测试ECC功能。2.根据权利要求1所述的ECC错误注入功能验证方法，其特征在于，所述约束条件包括错误个数和注错位置。3.根据权利要求1所述ECC错误注入方式，其特征在于，根据选择的注错测试向量，对原始数据中错误向量标记的对应位取反，实现错误注入。4.根据权利要求1所述的ECC错误注入功能验证方法，其特征在于，所述步骤S4还包括：S4.1判断注入错误个数；S4.2通过地址信息匹配对应数据信息的ECC验证结果与待测设计输出结果进行比对。5.根据权利要求4所述的ECC错误注入功能验证方法，其特征在于，所述步骤S4.1还包括：通过与未注错的原始数据异或得到注错位置，并进行注错个数计算；若注入错误个数大于1，输出注入错误后的数据，同时置位ECC错误位。6.根据权利要求5所述的ECC错误注入功能验证方法，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：烟晓凤，姚香君，夏丽煖，覃耀，陈国强，张楠，姜宝来，张世凯，
申请(专利权)人：山东华芯半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：