总线CRC校验系统及总线系统CRC校验方法技术方案

本发明专利技术揭示了一种总线CRC校验系统及总线系统CRC校验方法，所述总线CRC校验系统包括：AHB总线，以及电性连接至所述AHB总线的CRC模块、监测模块和外设模块；CPU通过AHB总线对CRC模块进行读写配置；所述CRC模块包括CRC寄存器与CRC编码电路，所述CRC寄存器与所述CRC编码电路电性连接；所述AHB总线包括地址总线与数据总线；所述监测模块直接监视所述地址总线和所述数据总线，通过CPU将外设模块的数据进行读取并写入所述CRC寄存器。本发明专利技术提供的总线CRC校验系统，通过采用CRC校验克服了校验值对存储资源的过分占用，通过设置直接监视地址总线和数据总线的监测模块，使得CRC寄存器中数据的写入与CPU同步，省去了CPU向CRC寄存器的写操作，从而节省大量时间。从而节省大量时间。从而节省大量时间。

【技术实现步骤摘要】
总线CRC校验系统及总线系统CRC校验方法


[0001]本专利技术属于总线系统
，具体涉及一种总线CRC校验系统及总线系统CRC校验方法。

技术介绍

[0002]芯片出厂前会将程序存储在ROM(Read
‑
Only Memory，只读存储器)内，而随着时间的推移或者受到电子干扰，芯片在交给客户时，ROM内程序可能会出现丢包的情况。市场上常用于校验ROM程序丢包的方式为ECC(Error Correcting Code，误差校正码)校验，这种方法将会对每32位二进制数生成7位的校验码，从而导致存储代码的空间需要扩大将近1/4用于存储ECC校验码，导致有效数据没有足够的存储空间存放，相当于不必要地减少了芯片或其他总线系统的存储空间。
[0003]此外，在对芯片或其他总线系统进行校验时，通常需要控制CPU(Central Processing Unit，中央处理器)将需要计算的数据从寄存器中读出来，再写入相应的寄存器，如此，还会导致计算周期较长，校验工序复杂冗长等问题。

技术实现思路

>[0004]本专利本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种总线CRC校验系统，其特征在于，包括：AHB总线，以及电性连接至所述AHB总线的CRC模块、监测模块和外设模块；CPU通过AHB总线对CRC模块进行读写配置；所述CRC模块包括CRC寄存器与CRC编码电路，所述CRC寄存器与所述CRC编码电路电性连接；所述AHB总线包括地址总线与数据总线；所述监测模块直接监视所述地址总线和所述数据总线，通过CPU将外设模块的数据进行读取并写入所述CRC寄存器。2.根据权利要求1所述的总线CRC校验系统，其特征在于，所述CRC编码电路内置有CRC算法逻辑的组合逻辑电路，所述CRC编码电路用于将输入的数据进行组合逻辑算法，得到CRC编码值和/或CRC校验值。3.根据权利要求1所述的总线CRC校验系统，其特征在于，所述总线CRC校验系统还包括ROM模块，所述ROM模块与所述CRC模块电性连接；所述CRC模块用于监测所述ROM模块的读写数据，对所述ROM模块内的芯片程序进行CRC编码，将CRC编码值储存在所述ROM模块的选项字节区，且/或，所述CRC模块用于对所述芯片程序执行二次编码，对比得到的CRC校验值与所述CRC编码值，判断所述芯片程序的出错情况。4.根据权利要求1所述的总线CRC校验系统，其特征在于，所述总线CRC校验系统还包括ROM模块；所述ROM模块内部设置有多个程序区，所述CRC模块对每一个程序区进行单独编码，并生成对应于该程序区的CRC编码值和/或CRC校验值。5.根据权利要求1所述的总线CRC校验系统，其特征在于，所述CRC寄存器包括CRC控制寄存器、CRC数据输入寄存器、CRC数据输出寄存器或CRC监测地址寄存器中的一种或两种以上的组合。6.根据权利要求5所述的总线CRC校验系统，其特征在于，所述CRC数据输入寄存器为32位寄存器；所述CRC数据输入寄存器用于写入相应多项式计算的数据。7.根据权利要求5所述的总线CRC校验系统，其特征在于，所述CRC数据输出寄存器为读/写32位寄存器；所述CRC数据输出寄存器用于存储计算后的CRC编码值和/或CRC校验值，且/或，所述CRC数据输出寄存器用于在CR...

【专利技术属性】
技术研发人员：董厚希，石国城，杨维，王荣华，王成，张季润，陈家敏，岳海群，
申请(专利权)人：芯弦半导体苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：