一种电容寿命测试机，适用于测试多个电容元件，电容寿命测试机包含容置设备，以及探测设备。容置设备包括具有外侧设置面的容置体、位于容置体内且分别适用于供多个电路板设置的多个电路板连接部，以及位于外侧设置面且分别电连接对应的电路板连接部的多个探测连接部，每一个电路板设置有电容元件，每一个探测连接部具有多个探测点组，探测点组各自对应于其中一个电容元件。探测设备包括移动装置，以及探测件组，移动装置包括供探测件组设置的滑动座，移动装置的滑动座能被驱动以使探测件组连接于探测点组中的任一探测点组。借此，能够减少容置设备与所述探测设备之间的缆线数量，以减少缆线产生的电磁干扰使所述电容元件的运行数据失真的状况。运行数据失真的状况。运行数据失真的状况。
【技术实现步骤摘要】
电容寿命测试机
[0001]本专利技术涉及一种寿命测试机，特别是涉及一种电容寿命测试机。
技术介绍
[0002]现有一种电容寿命测试机能用于测试电容元件的寿命，以确保电容元件的制造品质，这种电容寿命测试机包括用于设置多个电容元件的容置设备，以及量测设备，所述量测设备与所述容置设备之间连接有多个缆线组，所述缆线组分别通过所述容置设备电连接于所述电容元件，以使所述量测设备能获取所述电容元件的运行数据。然而，由于所述缆线组的数量众多，因此容易因所述缆线组产生的电磁波而对所述电容元件产生电磁干扰，进而使所述电容元件的运行数据失真。
技术实现思路
[0003]本专利技术的一目的在于提供一种能改善先前技术中至少一缺点的电容寿命测试机。
[0004]本专利技术的电容寿命测试机在一些实施态样中，适用于测试多个电容元件，所述电容寿命测试机包含容置设备，以及探测设备。所述容置设备包括具有外侧设置面的容置体、位于所述容置体内且分别适用于供多个电路板设置的多个电路板连接部，以及位于所述外侧设置面且分别电连接对应的所述电路板连接部的多个探测连接部，每一个所述电路板设置有所述电容元件中的至少一部分，每一个所述探测连接部具有多个探测点组，所述探测点组各自对应于其中一个所述电容元件其中，各所述电路板能各自设置于对应的各所述电路板连接部。所述探测设备包括移动装置，以及探测模块，所述移动装置包括滑动座，所述探测模块包括设于所述滑动座的探测件组，所述移动装置的滑动座能被驱动以滑动至对应于所述探测连接部的探测点组中的任一探测点组之处，以使所述探测件组连接于所述探测点组中的所述任一探测点组。
[0005]在一些实施态样中，每一个所述探测点组具有多个探测孔，每一个所述探测件组具有多个探测针。
[0006]在一些实施态样中，所述移动装置还包括横向地延伸的横向滑轨、竖向地延伸且可横向滑动地设置于所述横向滑轨的竖向滑轨，以及可竖向滑动地设置于所述竖向滑轨的滑动台，所述滑动座设于所述滑动台且能朝所述容置设备的外侧设置面或远离所述容置设备的外侧设置面滑动。
[0007]在一些实施态样中，所述容置设备还包括位于所述外侧设置面且分别电连接对应的所述电路板连接部的多个第一充电连接部，以及设于所述外侧设置面且分别对应于所述第一充电连接部的多个压合机构，每一个所述压合机构包括具有第二充电连接部的压合滑块，所述压合滑块能被驱动地朝所述外侧设置面或远离所述外侧设置面滑动，以使所述第一充电连接部与所述第二充电连接部接触或分离。
[0008]本专利技术电容寿命测试机通过能滑动至对应于所述探测连接部的探测点组中的任一探测点组之处的所述滑动座，使设于所述滑动座的探测件组能够连接于所述探测点组中
的所述任一探测点组，借此使所述探测模块能够探测到所述电容元件的运行数据，这种设置方式能够减少所述容置设备与所述探测设备之间的缆线数量，以减少缆线产生的电磁干扰使所述电容元件的运行数据失真的状况。
附图说明
[0009]本专利技术的其他的特征及功效，将于参照附图的实施方式中清楚地呈现，其中：
[0010]图1是本专利技术电容寿命测试机的一个实施例及多个电容与多个电路板的前视图；
[0011]图2是所述实施例从后方观看的立体图；
[0012]图3是类似图2的立体图，图中所述实施例的探测设备的滑动座滑动至对应于探测连接部的探测点组中的其中一者处，以使探测件组连接于所述探测点组；
[0013]图4是图3的局部放大立体图；以及
[0014]图5及图6是剖视图，用于说明所述实施例的容置设备的压合机构。
具体实施方式
[0015]参阅图1至图4，本专利技术电容寿命测试机100的一个实施例，适用于测试多个电容元件200，所述电容寿命测试机100包含容置设备1，以及探测设备2。
[0016]所述容置设备1包括具有外侧设置面111的容置体11、位于所述容置体11内且分别适用于供多个电路板300设置的多个电路板连接部12，以及位于所述外侧设置面111且分别电连接对应的所述电路板连接部12的多个探测连接部13。其中，各所述电路板300能各自设置于对应的各所述电路板连接部12。在本实施例中，所述容置体11呈箱体结构且还具有朝前的开口112，以及用于盖合所述开口112的门板113，所述外侧设置面111详细来说是位于所述容置体11的后方外侧面。另外，所述容置体11内可设有温度控制单元(图未示)，以模拟所述电容元件200在不同温度下的运行状况。每一个电路板300设置有所述电容元件200中的至少一部分，每一个探测连接部13具有多个探测点组131，所述探测点组131各自对应于其中一个所述电容元件200，在本实施例中，每一个所述探测点组131具有四个探测孔131a，但在其他实施态样中，所述探测点组131的探测孔131a的数量也可以为其他数量，不以本实施例的数量为限制，另外，所述探测点组131的探测孔131a可以被其他连接结构所取代，例如探测接触点等等，不以本实施例为限。探测连接部13与电路板连接部12可通过现有技术来实现电连接,例如各自为连接器，两个连接器之间通过导线或柔性电路板等导体连接。
[0017]所述探测设备2包括移动装置21，以及探测模块22。所述移动装置21对应于所述容置设备1的外侧设置面111，所述移动装置21包括横向地延伸的横向滑轨211、竖向地延伸且可横向滑动地设置于所述横向滑轨211的竖向滑轨212、可竖向滑动地设置于所述竖向滑轨212的滑动台213，以及设于所述滑动台213且可朝所述容置设备1的外侧设置面111或远离所述容置设备1的外侧设置面111滑动的滑动座214。所述探测模块22包括设于所述滑动座214的探测件组221，以及与所述探测件组221通过线路(图未示)连接的探测仪器(图未示)。在本实施例中，每一个探测件组221具有四个探测针221a，但在其他实施态样中，所述探测针221a的数量也可以为其他数量，不以本实施例的数量为限制，另外，所述探测针221a可以被其他连接结构所取代，例如探测接触点等等，不以本实施例为限。
[0018]通过所述横向滑轨211、所述竖向滑轨212与所述滑动台213的配合，让所述滑动座
214能够三轴地滑动，使所述移动装置21的滑动座214能被驱动以滑动至对应于所述探测连接部13的探测点组131中的任一探测点组131之处，以使所述探测件组221连接于所述探测点组131中的所述任一探测点组131，当连接完成后所述探测模块22的探测仪器便能够探测到所述电容元件200的运行数据。进一步来说，在上述连接过程中，是先通过所述竖向滑轨212相对于所述横向滑轨211的横向滑动及所述滑动台213相对于所述竖向滑轨212的竖向滑动，使所述探测件组221与对应的探测点组131对准，接着再通过所述滑动座214相对于所述滑动台213的滑动，使所述探测件组221的探测针221a插入对应的探测点组131的探测孔131a，但不以此为限制。通过所述探测设备2的移动装置21能够减少所述容置设备1与所述探测设备2之间的本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电容寿命测试机，适用于测试多个电容元件，其特征在于，所述电容寿命测试机包含：容置设备，包括具有外侧设置面的容置体、位于所述容置体内且分别适用于供多个电路板设置的多个电路板连接部，以及位于所述外侧设置面且分别电连接对应的所述电路板连接部的多个探测连接部，每一个所述电路板设置有所述电容元件中的至少一部分，每一个所述探测连接部具有多个探测点组，所述探测点组各自对应于其中一个所述电容元件，其中，各所述电路板能各自设置于对应的各所述电路板连接部；及探测设备，包括移动装置，以及探测模块，所述移动装置包括滑动座，所述探测模块包括设于所述滑动座的探测件组，所述移动装置的滑动座能被驱动以滑动至对应于所述探测连接部的探测点组中的任一探测点组之处，以使所述探测件组连接于所述探测点组中的所述任一探测点组。2.根据权利要求1所述的电容寿命测试机，其特征在...
【专利技术属性】
技术研发人员：李昶均，邱煜哲，
申请(专利权)人：振海资通股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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