一种晶圆夹持装置制造方法及图纸

技术编号:37104902 阅读:31 留言:0更新日期:2023-04-01 05:04
本发明专利技术公开了一种晶圆夹持装置,安装在晶圆卡盘上,包括:基座,设置在晶圆卡盘上;支撑台,设置在基座上,支撑晶圆;导向柱,设置在基座上,引导并限位晶圆于设定位置;夹持件,与基座活动连接,用于晶圆被引导并限位于设定位置后,夹持并固定晶圆,夹持件与晶圆卡盘的径向方向成设定角度。此发明专利技术考虑了湿法药液的粘度、疏水性,从而设计出角度可调的加持件,实现了晶圆在晶圆卡盘不同转速的带动下,由于湿法药液离心力的不同,需要从不同角度来释放飞溅的湿法药液,提升了湿法工艺的可靠性和稳定性。性。性。

【技术实现步骤摘要】
一种晶圆夹持装置


[0001]本专利技术涉及半导体器件制造
,具体涉及一种晶圆夹持装置。

技术介绍

[0002]在集成电路制造过程中,晶圆的湿法工艺是影响产品良率的重要工艺过程。其中,单片式湿法工艺由于其所具有的良好均匀性、可重复性及稳定性,得到了越来越广泛的应用。目前的单片式湿法工艺,一般将进行湿法刻蚀或清洗的晶圆固定在晶圆卡盘上,并使得晶圆在晶圆卡盘的带动下旋转,通过喷布湿法药液对晶圆表面进行工艺处理。
[0003]在进行湿法刻蚀或清洗工艺的过程中,根据工艺需要会用到不同的湿法药液。由于湿法药液本身的物理特性如粘度、亲疏水性的不同,喷射到晶圆表面会有不同程度的反溅,一般湿法药液的反溅不会对晶圆造成污染。但是,某些粘度小、疏水性大的湿法药液反溅较为严重,在晶圆旋转过程中,粘度小、疏水性大的湿法药液由于离心力的作用,会产生一定角度的飞溅,从而对晶圆造成二次污染。
[0004]然而,目前的晶圆夹持装置没有留出足够的空间释放反溅的湿法药液,也没有考虑喷到晶圆表面时哪个角度更有利于的飞溅液体的释放。
[0005]因此,有本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种晶圆夹持装置,安装在晶圆卡盘上,其特征在于,包括:基座,设置在所述晶圆卡盘上;支撑台,设置在所述基座上,用于支撑晶圆;导向柱,设置在所述基座上,用于引导并限位所述晶圆于设定位置;夹持件,与所述基座活动连接,用于所述晶圆被引导并限位于设定位置后,夹持所述晶圆的侧面并固定所述晶圆,所述夹持件与所述晶圆卡盘的径向方向成一设定角度。2.如权利要求1所述的晶圆夹持装置,其特征在于,所述设定角度可根据晶圆卡盘的旋转速率进行调节。3.如权利要求1所述的晶圆夹持装置,其特征在于,所述设定角度的范围为0
°
~45
°
。4.如权利要求1所述的晶圆夹持装置,其特征在于,所述夹持件上设有用于夹持所述晶圆的抵靠面,且所述抵靠面为平面。5.如权利要求4所述的晶圆夹持装置,其特征在于,所述夹持件的两侧均设有排液缺口。6.如权利要求5所述的晶圆夹持装置,其特征在于,所述排液缺口的底面不高于所述基座的上表面。7.如权利要求5所述的晶圆夹持装置,其特征在于,所述夹持件上与所述抵靠面相对的一侧设有凹槽,且所述凹槽的长度方向与所述排液缺口的长度方向平行。8.如权利要求5所述的晶圆夹持装置,其特征在于,所述抵靠面的下方设有导流槽,且所述导流槽的长度方向与所述排液缺口的长度方向平行,所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:陶晓峰何西登单昌锋吴均程成焦欣欣王坚王晖
申请(专利权)人:盛美半导体设备上海股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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