【技术实现步骤摘要】
一种用于晶体研磨抛光的夹具
[0001]本技术属于晶体加工
,特别涉及一种用于晶体研磨抛光的夹具。
技术介绍
[0002]作为芯片及半导体器件加工中至为重要的一步,研磨抛光旨在提高表面平整度,降低表面粗糙度,为后续的加工提供可能。其本质是通过工件表面与化学溶液发生化学反应,在工件表面形成一层氧化层,再通过粒径为微米级的磨料与氧化层之间的机械摩擦,去除氧化层,由此往复,直到表面粗糙度和平整度达到规定指标之内,去除掉前道加工工艺造成的损伤层,提高其性能指标。
[0003]为了提高研磨抛光的效率,往往多个晶体的加工同时进行,在加工前需要对晶体进行定位,完成加工后需要将对加工装置进行拆卸以将晶体取出。而现有的研磨抛光装置拆装不便,并且晶体尤其是具有软脆性能的晶体在研磨抛光过程中,往往容易因受压不均或压力过大而导致损坏。
技术实现思路
[0004]为了解决以上问题,本技术提供一种用于晶体研磨抛光的分布盘,在晶体研磨抛光前对其进行定位,本分布盘的设计能够实现晶体在研磨抛光过程中受压均匀稳定,降低受压损坏的风险。 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于晶体研磨抛光的夹具,其特征在于,所述夹具包括承载盘以及支撑晶体和承载盘的可旋转下盘;所述晶体设置于承载盘和可旋转下盘之间,并通过热塑性材料与承载盘连接;所述承载盘上设有可对承载盘纵向施压的压头。2.根据权利要求1所述的用于晶体研磨抛光的夹具,其特征在于,所述承载盘上设有可拆卸把手。3.根据权利要求2所述的用于晶体研磨抛光的夹具,其特征在于,所述可拆卸把手与承载盘螺纹连接。4.根据权...
【专利技术属性】
技术研发人员:朱同波,张伟,田强,侯新宇,
申请(专利权)人:安徽光智科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
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