【技术实现步骤摘要】
TSV电镀抽真空机构
[0001]本技术涉及晶圆加工设备,具体涉及一种TSV电镀抽真空机构。
技术介绍
[0002]晶圆 (Wafer) 是指硅半导体集成电路制作所用的硅晶片,由于其形状为圆形,故称为晶圆。在晶圆上电镀一层导电金属,并对导电金属层进行加工以制成导电线路。
[0003]晶圆生产过程中,晶圆表面会形成沟槽,还会形成盲孔。长期生产实践证明,晶圆表面的沟槽或盲孔内易储存气泡。现在对硅晶圆直接进行电镀工艺之前首先需要对硅晶圆进行润湿,现在通常采用喷淋的方式对晶圆进行润湿,但是硅晶圆上面有几十万个孔,在喷淋过程中由于水的本身特性,水不能进入部分孔内,尤其是晶圆上的深孔水很难浸入,对硅晶圆的润湿效果差,影响了后续电镀工艺的品质。
技术实现思路
[0004]本技术要解决的技术问题是提供一种TSV电镀抽真空机构,提高工作效率,避免孔底因气泡残留导致的孔底空洞现象。
[0005]为解决上述技术问题,本技术采取如下技术方案:一种TSV电镀抽真空机构,包括真空槽、分液辅槽、液位计、真空泵和超声波发生器;
[0006]所述的真空槽连接进水管和排水管;所述的进水管和排水管上分别设置进水阀和排水阀;真空槽内设置超声波发生器;所述的真空槽通过溢流管与所述的分液辅槽连接;所述的溢流管上设置有溢流阀;所述分液辅槽内设置有液位计;所述的真空槽连接真空泵,通过真空泵将真空槽抽真空。
[0007]进一步地,所述的进水阀为气动进水阀,排水阀为气动排水阀;所述的溢流阀为启动溢流阀。
[0008] ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.TSV电镀抽真空机构,其特征在于:包括真空槽(1)、分液辅槽(2)、液位计(3)、真空泵(4)和超声波发生器(5);所述的真空槽(1)连接进水管(11)和排水管(12);所述的进水管(11)和排水管(12)上分别设置进水阀(14)和排水阀(15);真空槽(1)内设置超声波发生器(5);所述的真空槽(1)通过溢流管(13)与所述的分液辅槽(2)连接;所述的溢流管(13)上设置有溢流阀(16);所述分液辅槽(2)内设置有液位计(3);所述的真空槽(1)和所述的分液辅槽(2)连接真空泵(4),通过真空泵(4)将其抽真空。2.根据权利要求1所述的TSV电镀抽真空机构,其特征在于:所述的进水阀(14)为气动进水...
【专利技术属性】
技术研发人员:谷建华,孟路强,
申请(专利权)人:江苏矽智半导体科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
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