本发明专利技术公开了一种显示模组夹层缺陷的检测方法、装置、设备及介质，其中，所述方法包括：通过至少2个摄像装置获取待检测显示模组的至少2个待检测图像，至少2个摄像装置设置在相对于待检测显示模组的同一水平线上；对至少2个待检测图像进行缺陷检测，获取至少2个待检测图像中的缺陷位置；根据检测到的缺陷在至少2个待检测图像中的缺陷位置确定该检测到的缺陷在显示模组中的位置，缺陷在显示模组中的位置包括表层、夹层和/或cg层。采用本发明专利技术，可提高对显示模组夹层缺陷检测的准确性。高对显示模组夹层缺陷检测的准确性。高对显示模组夹层缺陷检测的准确性。
【技术实现步骤摘要】
显示模组夹层缺陷的检测方法、装置、设备及存储介质
[0001]本专利技术涉及工业机器视觉
，尤其涉及一种显示模组夹层缺陷的检测方法、装置、计算机设备和计算机可读存储介质。
技术介绍
[0002]显示面板在制造过程中是由多层材料装配组成，由外到内依次为：盖板玻璃、触控功能层、显示层和背光板。每一层的装配环节，都不可避免的引进一些落尘或异物。一旦显示面板的某一层中出现落尘或异物，将被作为不良品处理。
[0003]在相关技术方案中，为了对显示面板的各个层中是否存在灰尘或异物等缺陷，目前产线大多借助显微镜使用人工抽检的方式，或者采用光谱共焦检测、激光共聚焦扫描、多场成像缺陷特征分类等自动化的检测方法进行检测。这些检测方法要不对检测条件要求较高、要不检测速度较慢或检测效果不好，并且容易受表面灰尘干扰，不易区分出夹层缺陷。
[0004]也就是说，对显示面板的夹层中存在的灰层、异物等夹层缺陷进行检测的方案，存在准确度不足的问题。
技术实现思路
[0005]基于此，有必要针对上述问题，提出了一种显示模组夹层缺陷的检测方法、装置、计算机设备和计算机可读存储介质。
[0006]在本专利技术的第一部分，提供了一种显示模组夹层缺陷的检测方法，所述方法包括：通过至少2个摄像装置获取待检测显示模组的至少2个待检测图像，所述至少2个摄像装置设置在相对于所述待检测显示模组的同一水平线上；对所述至少2个待检测图像进行缺陷检测，获取所述至少2个待检测图像中的缺陷位置；根据检测到的缺陷在所述至少2个待检测图像中的缺陷位置确定该检测到的缺陷在显示模组中的位置，所述缺陷在显示模组中的位置包括表层、夹层和/或cg层。
[0007]可选的，所述至少2个摄像装置包括第一摄像装置和第二摄像装置；所述获取所述至少2个待检测图像中的缺陷位置的步骤，还包括：获取第一摄像装置采集的第一待检测图像中的第一缺陷位置，获取第二摄像装置采集的第二待检测图像中的第二缺陷位置，所述第一缺陷位置和第二缺陷位置为同一坐标系下的坐标位置；所述根据检测到的缺陷在所述至少2个待检测图像中的缺陷位置确定该检测到的缺陷在显示模组中的位置的步骤，还包括：根据第一缺陷位置和第二缺陷位置确定是否存在缺陷偏移，若是，根据第一缺陷位置和第二缺陷位置确定偏移量；根据偏移量确定缺陷在显示模组中的位置。
[0008]可选的，所述2个摄像装置与所述待检测显示模组的同一水平线的水平方向上呈现夹角，所述夹角的角度范围为10
‑
160度；所述2个摄像装置聚焦于所述待检测显示模组上的同一个点。
[0009]可选的，所述根据第一缺陷位置和第二缺陷位置确定是否存在缺陷偏移的步骤之后，还包括：若不存在缺陷偏移，则确定缺陷在显示模组的表层；所述根据偏移量确定缺陷在显示模组中的位置的步骤，还包括：若所述偏移量满足第一偏移范围，则确定缺陷在显示模组的夹层；若所述偏移量满足第二偏移范围，则确定缺陷在显示模组的cg层；其中，所述第一偏移范围、第二偏移范围是根据待检测显示模组的厚度、第一摄像装置和第二摄像装置之间的夹角的角度确定的，且所述第一偏移范围小于第二偏移范围。
[0010]可选的，第一光源与第一摄像装置对应设置且在所述待检测显示模组的异侧构成透射场成像，第二光源与第二摄像装置对应设置且在所述待检测显示模组的异侧构成透射场成像；所述通过至少2个摄像装置获取待检测显示模组的至少2个待检测图像的步骤，还包括：第一光源和第二光源交替闪烁，在第一光源闪烁时通过第一摄像装置采集第一待检测图像，在第二光源闪烁时通过第二摄像装置采集第二待检测图像。
[0011]可选的，所述方法还包括：对第一摄像装置和第二摄像装置进行相机标定，分别获取与第一摄像装置和第二摄像装置对应的标定转换矩阵；所述获取第一摄像装置采集的第一待检测图像中的第一缺陷位置，获取第二摄像装置采集的第二待检测图像中的第二缺陷位置，所述第一缺陷位置和第二缺陷位置为同一坐标系下的坐标位置的步骤，还包括：对第一待检测图像进行缺陷识别，并基于第一摄像装置对应的标定转换矩阵将识别到的缺陷进行坐标位置转换，获取第一缺陷位置；对第二待检测图像进行缺陷识别，并基于第二摄像装置对应的标定转换矩阵将识别到的缺陷进行坐标位置转换，获取第二缺陷位置。
[0012]在本专利技术的第二部分，提供了一种显示模组夹层缺陷的检测装置，所述装置包括：图像获取模块，用于通过至少2个摄像装置获取待检测显示模组的至少2个待检测图像，所述至少2个摄像装置设置在相对于所述待检测显示模组的同一水平线上；缺陷识别模块，用于对所述至少2个待检测图像进行缺陷检测，获取所述至少2个待检测图像中的缺陷位置；缺陷夹层位置确认模块，用于根据检测到的缺陷在所述至少2个待检测图像中的缺陷位置确定该检测到的缺陷在显示模组中的位置，所述缺陷在显示模组中的位置包括表层、夹层和/或cg层。
[0013]可选的，所述至少2个摄像装置包括第一摄像装置和第二摄像装置；所述缺陷识别模块还用于获取第一摄像装置采集的第一待检测图像中的第一缺陷位置，获取第二摄像装置采集的第二待检测图像中的第二缺陷位置，所述第一缺陷位置和第二缺陷位置为同一坐标系下的坐标位置；所述缺陷夹层位置确认模块还用于根据第一缺陷位置和第二缺陷位置确定是否存在缺陷偏移，若是，根据第一缺陷位置和第二缺陷位置确定偏移量；根据偏移量确定缺陷在显示模组中的位置。
[0014]在本专利技术的第三部分，提供了一种计算机设备，所述计算机设备包括存储器和处理器，所述存储器有可执行代码，当所述可执行代码在所述处理器上运行以实现如前所述的显示模组夹层缺陷的检测方法。
[0015]在本专利技术的第四部分，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质用于存储计算机程序，所述计算机程序用于执行如前所述的显示模组夹层缺陷的检测方法。
[0016]采用本专利技术实施例，具有如下有益效果：采用了上述显示模组夹层缺陷的检测方法、装置、计算机设备和计算机可读存储介质之后，在对显示模组进行夹层缺陷检测的时候，通过设置在相对于所述待检测显示模组的同一水平线上的至少2个摄像装置获取待检测显示模组的待检测图像，然后对至少2个待检测图像进行缺陷检测获取所述至少2个待检测图像中的缺陷位置；根据检测到的缺陷在所述至少2个待检测图像中的缺陷位置是一致的或者是存在偏移的，确定该检测到的缺陷在显示模组中的位置是表层、夹层和/或cg层。也就是说，因为显示模组有一定的厚度，导致在不同层位置的缺陷在不同摄像装置采集的图像中的位置是不同的，因此可以根据不同待检测图像中的缺陷位置来确定夹层缺陷的位置，从而提高夹层缺陷检测的准确性。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0018]其中：图1为一个实施例中一种显示模组本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种显示模组夹层缺陷的检测方法，其特征在于，所述方法包括：通过至少2个摄像装置获取待检测显示模组的至少2个待检测图像，所述至少2个摄像装置设置在相对于所述待检测显示模组的同一水平线上；对所述至少2个待检测图像进行缺陷检测，获取所述至少2个待检测图像中的缺陷位置；根据检测到的缺陷在所述至少2个待检测图像中的缺陷位置确定该检测到的缺陷在显示模组中的位置，所述缺陷在显示模组中的位置包括表层、夹层和/或cg层。2.根据权利要求1所述的显示模组夹层缺陷的检测方法，其特征在于，所述至少2个摄像装置包括第一摄像装置和第二摄像装置；所述获取所述至少2个待检测图像中的缺陷位置的步骤，还包括：获取第一摄像装置采集的第一待检测图像中的第一缺陷位置，获取第二摄像装置采集的第二待检测图像中的第二缺陷位置，所述第一缺陷位置和第二缺陷位置为同一坐标系下的坐标位置；所述根据检测到的缺陷在所述至少2个待检测图像中的缺陷位置确定该检测到的缺陷在显示模组中的位置的步骤，还包括：根据第一缺陷位置和第二缺陷位置确定是否存在缺陷偏移，若是，根据第一缺陷位置和第二缺陷位置确定偏移量；根据偏移量确定缺陷在显示模组中的位置。3.根据权利要求2所述的显示模组夹层缺陷的检测方法，其特征在于，所述2个摄像装置与所述待检测显示模组的同一水平线的水平方向上呈现夹角，所述夹角的角度范围为10
‑
160度；所述2个摄像装置聚焦于所述待检测显示模组上的同一个点。4.根据权利要求2所述的显示模组夹层缺陷的检测方法，其特征在于，所述根据第一缺陷位置和第二缺陷位置确定是否存在缺陷偏移的步骤之后，还包括：若不存在缺陷偏移，则确定缺陷在显示模组的表层；所述根据偏移量确定缺陷在显示模组中的位置的步骤，还包括：若所述偏移量满足第一偏移范围，则确定缺陷在显示模组的夹层；若所述偏移量满足第二偏移范围，则确定缺陷在显示模组的cg层；其中，所述第一偏移范围、第二偏移范围是根据待检测显示模组的厚度、第一摄像装置和第二摄像装置之间的夹角的角度确定的，且所述第一偏移范围小于第二偏移范围。5.根据权利要求2所述的显示模组夹层缺陷的检测方法，其特征在于，第一光源与第一摄像装置对应设置且在所述待检测显示模组的异侧构成透射场成像，第二光源与第二摄像装置对应设置且在所述待检测显示模组的异侧构成透射场成像；所述通过至少2个摄像装置获取待检测显示模组的至少2个待检测图像的步骤...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘晓阳，
申请(专利权)人：深圳新视智科技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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