一种O型圈直径均匀性测量装置及其测量方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种O型圈直径均匀性测量装置及其测量方法，其技术要点在于：首先，第二圆筒本体抬高，使得O型圈不与第二圆筒本体接触；其次，保持第二圆筒本体的位置，转动角度调节装置的角度调节杆，使得O型圈的前进方向与第一导轮转动轴、第二导轮转动轴的轴线垂直；再然后，将第二圆筒本体放下，使得其与O型圈接触。采用本申请的一种O型圈直径均匀性测量装置及其测量方法，解决现有技术中无法测量O型圈直径的技术问题。圈直径的技术问题。圈直径的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
一种O型圈直径均匀性测量装置及其测量方法


[0001]本专利技术涉及机械结构这一
，更具体地说，尤其涉及一种O型圈直径均匀性测量装置及其测量方法。

技术介绍

[0002]生箔机台在静置或者运行过程中，会对一些设备造成磨损，分为肉眼可观或不客观磨损，其中对“O”型圈影响尤为明显，“O”型圈是作为阴极辊两边与矩形槽形成致密作用的一种重要设备。
[0003]因“O”圈属于具有一定弹性的橡胶产物，不论在机台运行或停止过程中，均受到一定的拉力，运行过程中还受到摩擦力和电解液内、外温差影响，均会对“O”型圈造成一定形变或磨损，磨损可通过肉眼判断，而由形变造成的形状大小不均则只能靠设备测量，而现有设备情况来看，机台正常运行过程中如果用游标卡尺测量“O”直径均匀性易刮伤“O”圈表皮，且准确性大打折扣，唯有生产出问题(撕边、镀铜、“O”圈跳出等)后才能用游标卡尺来对“O”的均匀性进行不定点测量，无法做到有效预判“O”圈的直径均匀性。
[0004]申请人在EPO数据库、Himmpat数据库、CNKI数据库进行检索“O、圈、测量”，发现了如下技术文献：
[0005]1)CN113503797A O型圈内径测量装置及其测量方法
[0006]2)CN206818107U用于测量大尺寸O型密封圈的量具
[0007]3)CN113532235A一种O型密封圈中心内径的测量工具及方法
[0008]上述的O型圈与“生箔机”所用到的“O型圈”并不是一种物质，本申请要解决的O型圈是如CN113106502A提及的材料，其设置在阴极辊的端部板与辊本体之间的凹槽之间。
[0009]因而，从现有技术来看，还没有针对生箔机的O型圈测量相关的研究。

技术实现思路

[0010]本申请的目的在于针对上述现有技术的不足，提供一种O型圈直径均匀性测量装置。
[0011]本申请的又一目的在于提供一种O型圈直径均匀性测量方法。
[0012]本申请利用数显千分表具有极高的测量精度和的性能，能够在任意位置清零的优势，结合本申请的构造特点，在不碰伤“O”型圈的前提下对“O”型圈直径均匀性进行在线测量的一种简易“O”型圈直径均匀性测量装置。
[0013]一种O型圈直径均匀性测量装置，包括：第一导轮构件、第二导轮构件、千分表组件；第一导轮构件在第二导轮构件的下方；千分表组件在第二导轮构件的上方；
[0014]所述第一导轮构件，包括：第一导轮转动轴、第一导轮圆筒本体、第一导轮限位盘、第一导轮支撑机架；所述第一导轮圆筒本体固定设置在在同轴的所述第一导轮转动轴上，在第一导轮圆筒本体的两端设置有所述第一导轮圆筒本体、第一导轮限位盘；所述第一导轮转动轴的两端转动支撑设置在所述第一导轮支撑机架上；
[0015]所述第二导轮构件，包括：第二导轮转动轴、第二导轮限位盘、第二圆筒本体、第二导轮限位槽、第二导轮支撑机架；
[0016]第二导轮支撑机架包括有L型构件、上部固定板，L型构件包括竖向构件、横向固定构件，竖向构件设置有竖向条形槽；L型构件的横向固定构件通过螺栓
‑
螺母固定在上部固定板的下表面；所述第二导轮转动轴的两端穿设在限位轴承中，所述限位轴承设置在竖向条形槽；所述第二圆筒本体、所述第二导轮限位盘均固定设置在同轴的第二导轮转动轴，所述第二导轮限位盘与所述第二圆筒本体之间设置有第二导轮限位槽；所述第二导轮限位盘、所述第二导轮限位槽的数量均为2个，分别设置在分布在第二圆筒本体的两侧；
[0017]千分表组件，其包括：千分表、千分表固定杆、伸缩杆、探头；所述千分表的下端按照设置有千分表固定杆，所述千分表固定杆的下端安装有伸缩杆，所述伸缩杆的底端安装有探头；所述千分表组件的千分表固定杆与所述第二导轮构件的上部固定板固定，所述探头与所述第二导轮构件的第二圆筒本体接触。
[0018]进一步，O型圈在第一导轮构件的第一导轮圆筒本体与第二导轮本体的第二圆筒本体之间经过。
[0019]进一步，还包括：固定支架组件；固定支架组件包括：第一水平支撑板、第一竖向杆、角度调节板、竖向杆轴承；
[0020]所述第一水平支撑板、所述上部固定板、所述下部固定板、所述角度调节板均能够与所述第一竖向杆固定；
[0021]所述第一竖向杆的底部转动支撑在所述竖向杆轴承中；
[0022]角度调节板固定在第一竖向杆的下部，角度调节板为圆盘状且在角度调节板的端部设置有斜面齿轮。
[0023]进一步，还包括：角度调节装置，其包括：角度调节杆、角度调节螺栓轴承；所述角度调节螺栓的底部转动支撑在所述角度调节螺栓轴承中；在角度调节杆上设置有锥齿轮；
[0024]所述锥齿轮与所述斜面齿轮适配。
[0025]进一步，第一导轮支撑机架包括有L型构件、下部固定板，L型构件包括竖向构件、横向固定构件，L型构件的横向固定构件通过螺栓
‑
螺母固定在下部固定板的上表面；
[0026]一种O型圈直径均匀性测量方法，其包括以下步骤：
[0027]首先，第二圆筒本体抬高，使得O型圈不与第二圆筒本体接触；
[0028]其次，保持第二圆筒本体的位置，转动角度调节装置的角度调节杆，使得O型圈的前进方向与第一导轮转动轴、第二导轮转动轴的轴线垂直；
[0029]再然后，将第二圆筒本体放下，使得其与O型圈接触。
[0030]本申请的有益效果在于：
[0031]第一，本申请的基础构思是：利用“第一导轮构件100的导轮在竖向上无法移动，第二导轮构件200的导轮在竖向上能移动”来实现运动的O型圈的直径的测量；
[0032]具体而言，第一导轮构件100、第二导轮构件200的连接关系为：
[0033]1)所述第一导轮限位盘102插入到所述第二导轮限位槽203之间；
[0034]2)第二导轮转动轴201、第一导轮转动轴101的轴线平行且处在竖直平面内；
[0035]3)O型圈的前进方向与第二导轮转动轴201、第一导轮转动轴101的轴线保持垂直。
[0036]第二，本申请提出了一种O型圈直径均匀性测量方法(在线实时测量)，其包括以下
步骤：
[0037]首先，第二圆筒本体抬高，使得O型圈不与第二圆筒本体接触；
[0038]其次，保持第二圆筒本体的位置，转动角度调节装置的角度调节杆，使得O型圈的前进方向与第一导轮转动轴、第二导轮转动轴的轴线垂直；
[0039]再然后，将第二圆筒本体放下，使得其与O型圈接触。
附图说明
[0040]下面结合附图中的实施例对本专利技术作进一步的详细说明，但并不构成对本专利技术的任何限制。
[0041]图1是一种O型圈直径均匀性测量装置的整体设计图。
[0042]图2是图1的A
‑
A示意图。
[0043]图3是图1的B
‑
B示意图。
[0044]图4是第二导轮构件的示意图。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种O型圈直径均匀性测量装置，其特征在于，包括：第一导轮构件、第二导轮构件、千分表组件；第一导轮构件在第二导轮构件的正下方；所述第一导轮构件，包括：第一导轮转动轴、第一导轮圆筒本体、第一导轮限位盘、第一导轮支撑机架；所述第一导轮圆筒本体固定设置在在同轴的所述第一导轮转动轴上，在第一导轮圆筒本体的两端设置有所述第一导轮圆筒本体、第一导轮限位盘；所述第一导轮转动轴的两端转动支撑设置在所述第一导轮支撑机架上；所述第二导轮构件，包括：第二导轮转动轴、第二导轮限位盘、第二圆筒本体、第二导轮限位槽、第二导轮支撑机架；第二导轮支撑机架包括有L型构件、上部固定板，L型构件包括竖向构件、横向固定构件，竖向构件设置有竖向条形槽；L型构件的横向固定构件通过螺栓
‑
螺母固定在上部固定板的下表面；所述第二导轮转动轴的两端穿设在限位轴承中，所述限位轴承设置在竖向条形槽；所述第二圆筒本体、所述第二导轮限位盘均固定设置在同轴的第二导轮转动轴，所述第二导轮限位盘与所述第二圆筒本体之间设置有第二导轮限位槽；所述第二导轮限位盘、所述第二导轮限位槽的数量均为2个，分别设置在分布在第二圆筒本体的两侧；千分表组件，其包括：千分表、千分表固定杆、伸缩杆、探头；所述千分表的下端按照设置有千分表固定杆，所述千分表固定杆的下端安装有伸缩杆，所述伸缩杆的底端安装有探头；所述千分表组件的千分表固定杆与所述第二导轮构件的上部固定板固定，所述探头与所述第二导轮构件的第二圆筒本体接触。2.根据权利要求1所述的一种O型圈直径均匀性测量装置，其特征在于，O型圈在第一导...

【专利技术属性】
技术研发人员：洪远程，温丙台，叶冬萌，曾嘉文，王崇华，王俊锋，
申请(专利权)人：广东嘉元科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：