【技术实现步骤摘要】
氮化物半导体装置
[0001]相关申请
[0002]本申请享受以日本专利申请2021-152133号(申请日:2021年9月17日)为基础申请的优先权。本申请通过参照该基础申请而包含基础申请的所有内容。
[0003]实施方式涉及氮化物半导体装置。
技术介绍
[0004]近年来,作为控制电流的开关器件,开发有氮化物半导体装置。氮化镓(GaN)等氮化物半导体与硅(Si)比较,载流子密度与电子迁移率较高,因此有能够实现效率较高的开关器件的可能性。在氮化物半导体装置中,要求提高动作的稳定性。
技术实现思路
[0005]实施方式提供一种能够提高动作的稳定性的氮化物半导体装置。
[0006]实施方式的氮化物半导体装置具备:导电性的基板;氮化物半导体层,设于所述基板上;第一电极,设于所述氮化物半导体层上,且连接于所述氮化物半导体层;第二电极,设于所述氮化物半导体层上,且连接于所述氮化物半导体层;第一控制电极,设于所述氮化物半导体层上,并且从上方观察时设于所述第一电极与所述第二电极之间;保护环,设于所 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种氮化物半导体装置,具备:导电性的基板;氮化物半导体层,设于所述基板上;第一电极,设于所述氮化物半导体层上,且连接于所述氮化物半导体层;第二电极,设于所述氮化物半导体层上,且连接于所述氮化物半导体层;第一控制电极,设于所述氮化物半导体层上,并且从上方观察时设于所述第一电极与所述第二电极之间;保护环,设于所述氮化物半导体层上,并且设于配置有所述第一电极、所述第二电极以及所述第一控制电极的区域的周围,在该保护环与所述第一电极之间形成第一电容,在该保护环与所述第二电极之间形成第二电容;以及连接部件,将所述保护环连接于所述基板。2.根据权利要求1所述的氮化物半导体装置,还具备第二控制电极,该第二控制电极设于所述氮化物半导体层上,并且从上方观察时设于所述第一控制电极与所述第二电极之间。3.根据权利要求1或2所述的氮化物半导体装置,还具备:绝缘膜,设于所述氮化物半导体层上,覆盖所述第一电极、所述第二电极以及所述第一控制电极;第一焊盘,设于所述绝缘膜上,与所述第一电极连接;第二焊盘,设于所述绝缘膜上,与所述第二电极连接;第一电容电极,连接于所述保护环,配置于所述第一焊盘的正下方,隔着所述绝缘膜的一部分而与所述第一焊盘对置;以及第二电容电极,连接于所述保护环,配置于所述第二焊盘的正下方,隔着所述绝缘膜的一部分而与所述第二焊盘对置,所述第一电容形成于所述第一焊盘与所述第一电容电极之间,所述第二电容形成于所述第二焊盘与所述第二电容电极之间。4.根据权利要求1或2所述的氮化物半导体装置,在所述氮化物...
【专利技术属性】
技术研发人员:吉冈启,杉山亨,
申请(专利权)人:东芝电子元件及存储装置株式会社,
类型:发明
国别省市:
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