系统进程性能测试方法、装置、设备和计算机介质制造方法及图纸

本公开的实施例公开了系统进程性能测试方法、装置、设备和计算机介质。该方法的一具体实施方式包括：获取待测试系统中需要设置的进程标识，以及获取对应上述待测试系统的设定中央处理器利用率；根据上述设定中央处理器利用率，设定上述进程标识对应的进程的中央处理器利用率；运行上述进程，以初始化上述进程当前的中央处理器利用率；根据当前中央处理器利用率和设定的运行周期时长，设定上述进程的中央处理器工作时间；根据上述运行周期时长与上述进程的设定中央处理器工作时间，进行进程性能测试。该实施方式可以提升对CPU占用率测试的准确性，使得后续程序可以正常执行。使得后续程序可以正常执行。使得后续程序可以正常执行。

【技术实现步骤摘要】
系统进程性能测试方法、装置、设备和计算机介质


[0001]本公开的实施例涉及计算机
，具体涉及系统进程性能测试方法、装置、设备和计算机介质。

技术介绍

[0002]目前，为了测试系统中CPU每个进程的占用率，通常采用的方式为：设定CPU所有核的占用率是100%。
[0003]然而，采用上述方式通常会存在以下技术问题：第一，设定CPU所有核的占用率是100%，设定单一，测试的CPU占用率不准确，容易导致后续程序无法正常执行；第二，无法动态调整CPU占用率，导致对系统运行测试的准确度不高，容易导致后续程序无法正常执行。
[0004]该
技术介绍
部分中所公开的以上信息仅用于增强对本专利技术构思的背景的理解，并因此，其可包含并不形成本国的本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

技术实现思路

[0005]本公开的内容部分用于以简要的形式介绍构思，这些构思将在后面的具体实施方式部分被详细描述。本公开的内容部分并不旨在标识要求保护的技术方案的关键特征或必要特征，也不旨在用于限制所要求的保护的技术方案的范围。
[0006]本公开的一些实施例提出了系统进程性能测试方法、装置、电子设备和计算机可读介质，来解决以上
技术介绍
部分提到的技术问题中的一项或多项。
[0007]第一方面，本公开的一些实施例提供了一种系统进程性能测试方法，该方法包括：获取待测试系统中需要设置的进程标识，以及获取对应上述待测试系统的设定中央处理器利用率；根据上述设定中央处理器利用率，设定上述进程标识对应的进程的中央处理器利用率；运行上述进程，以初始化上述进程当前的中央处理器利用率；根据当前中央处理器利用率和设定的运行周期时长，设定上述进程的中央处理器工作时间；根据上述运行周期时长与上述进程的设定中央处理器工作时间，进行进程性能测试。
[0008]第二方面，本公开的一些实施例提供了一种系统进程性能测试装置，装置包括：获取单元，被配置成获取待测试系统中需要设置的进程标识，以及获取对应上述待测试系统的设定中央处理器利用率；第一设定单元，被配置成根据上述设定中央处理器利用率，设定上述进程标识对应的进程的中央处理器利用率；运行单元，被配置成运行上述进程，以初始化上述进程当前的中央处理器利用率；第二设定单元，被配置成根据当前中央处理器利用率和设定的运行周期时长，设定上述进程的中央处理器工作时间；测试单元，被配置成根据上述运行周期时长与上述进程的设定中央处理器工作时间，进行进程性能测试。
[0009]可选地，第二设定单元，被进一步配置成：确定上述当前中央处理器利用率是否大于0；响应于确定上述当前中央处理器利用率大于0，将上述运行周期时长与上述设定中央
处理器利用率的乘积确定为第一利用率周期时长；将上述当前中央处理器利用率与上述进程的实际工作时长的乘积确定为第二利用率周期时长；将上述第一利用率周期时长与上述第二利用率周期时长的比值确定为第一设定工作时间；根据上述第一设定工作时间与上述运行周期时长，设定上述进程的中央处理器工作时间。
[0010]可选地，第二设定单元，被进一步配置成：确定上述当前中央处理器利用率是否等于0；响应于确定上述当前中央处理器利用率等于0，将上述进程的中央处理器工作时间设定为上述运行周期时长。
[0011]可选地，第二设定单元，被进一步配置成：确定上述当前中央处理器利用率是否小于0；响应于确定上述当前中央处理器利用率小于0，将上述运行周期时长与上述设定中央处理器利用率的乘积确定为第一利用率周期时长；根据上述第一利用率周期时长与上述运行周期时长，设定上述进程的中央处理器工作时间。
[0012]可选地，测试单元，被进一步配置成：根据上述运行周期时长与上述进程的设定中央处理器工作时间，确定上述进程的休眠时间；重启上述进程，按照上述设定中央处理器工作时间，执行上述进程；停止上述进程，以及记录执行上述进程的起始时间与停止时间；确定上述起始时间与上述停止时间之间的运行时间；根据上述运行时间与上述运行周期时长，调整上述进程的设定中央处理器工作时间。
[0013]可选地，测试单元，被进一步配置成：将上述运行周期时长与上述运行时间的差值确定为实际休眠时间；响应于确定上述实际休眠时间与上述休眠时间不同，获取上述进程当前的中央处理器利用率，作为测试中央处理器利用率；根据上述测试中央处理器利用率、上述运行周期时长与上述运行时间，调整上述进程的设定中央处理器工作时间。
[0014]可选地，系统进程性能测试装置，还包括：生成单元，被配置成响应于确定上述实际休眠时间与上述休眠时间相同，生成上述进程测试完成的测试信息。
[0015]第三方面，本公开的一些实施例提供了一种电子设备，包括：一个或多个处理器；存储装置，其上存储有一个或多个程序，当一个或多个程序被一个或多个处理器执行，使得一个或多个处理器实现上述第一方面任一实现方式所描述的方法。
[0016]第四方面，本公开的一些实施例提供了一种计算机可读介质，其上存储有计算机程序，其中，计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面任一实现方式所描述的方法。
[0017]本公开的上述各个实施例具有如下有益效果：通过本公开的一些实施例的系统进程性能测试方法，可以提升对CPU占用率测试的准确性，使得后续程序可以正常执行。具体来说，容易导致后续程序无法正常执行的原因在于：设定CPU所有核的占用率是100%，设定单一，测试的CPU占用率不准确。基于此，本公开的一些实施例的系统进程性能测试方法，首先，获取待测试系统中需要设置的进程标识，以及获取对应上述待测试系统的设定中央处理器利用率。其次，根据上述设定中央处理器利用率，设定上述进程标识对应的进程的中央处理器利用率。由此，可以根据需求设定中央处理器利用率。接着，运行上述进程，以初始化上述进程当前的中央处理器利用率。然后，根据当前中央处理器利用率和设定的运行周期时长，设定上述进程的中央处理器工作时间。由此，可以根据设定的运行周期时长与设定中央处理器利用率，设定测试的进程的中央处理器工作时间。最后，根据上述运行周期时长与上述进程的设定中央处理器工作时间，进行进程性能测试。由此，可以自定义设定中央处理器工作时间，便于测试进程的中央处理器利用率（CPU占用率）。从而，可以提升对CPU占用率
测试的准确性，使得后续程序可以正常执行。
附图说明
[0018]结合附图并参考以下具体实施方式，本公开各实施例的上述和其他特征、优点及方面将变得更加明显。贯穿附图中，相同或相似的附图标记表示相同或相似的元素。应当理解附图是示意性的，元件和元素不一定按照比例绘制。
[0019]图1是根据本公开的系统进程性能测试方法的一些实施例的流程图；图2是根据本公开的系统进程性能测试装置的一些实施例的结构示意图；图3是适于用来实现本公开的一些实施例的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0020]下面将参照附图更详细地描述本公开的实施例。虽然附图中显示了本公开的某些实施例，然而应当理解的是，本公开可本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种系统进程性能测试方法，包括：获取待测试系统中需要设置的进程标识，以及获取对应所述待测试系统的设定中央处理器利用率；根据所述设定中央处理器利用率，设定所述进程标识对应的进程的中央处理器利用率；运行所述进程，以初始化所述进程当前的中央处理器利用率；根据当前中央处理器利用率和设定的运行周期时长，设定所述进程的中央处理器工作时间；根据所述运行周期时长与所述进程的设定中央处理器工作时间，进行进程性能测试。2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述根据当前中央处理器利用率和设定的运行周期时长，设定所述进程的中央处理器工作时间，包括：确定所述当前中央处理器利用率是否大于0；响应于确定所述当前中央处理器利用率大于0，将所述运行周期时长与所述设定中央处理器利用率的乘积确定为第一利用率周期时长；将所述当前中央处理器利用率与所述进程的实际工作时长的乘积确定为第二利用率周期时长；将所述第一利用率周期时长与所述第二利用率周期时长的比值确定为第一设定工作时间；根据所述第一设定工作时间与所述运行周期时长，设定所述进程的中央处理器工作时间。3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述根据当前中央处理器利用率和设定的运行周期时长，设定所述进程的中央处理器工作时间，包括：确定所述当前中央处理器利用率是否等于0；响应于确定所述当前中央处理器利用率等于0，将所述进程的中央处理器工作时间设定为所述运行周期时长。4.根据权利要求1所述的方法，其中...

【专利技术属性】
技术研发人员：费明华，
申请(专利权)人：禾多科技北京有限公司，
类型：发明
国别省市：