电芯包膜缺陷检测方法、装置、控制设备和检测系统制造方法及图纸

本申请涉及一种电芯包膜缺陷检测方法、装置、控制设备和检测系统。该方法包括：按照设定的测试参数发送超声测试控制指令至超声检测设备，控制超声检测设备向待测电芯包膜表面的多个位置点发射超声波；接收超声检测设备反馈的各位置点超声波的回波信号并确定回波信号超声强度，将回波信号超声强度与待测电芯的位置点对应关联并生成当前的位置

【技术实现步骤摘要】
电芯包膜缺陷检测方法、装置、控制设备和检测系统


[0001]本申请涉及电池
，特别是涉及一种电芯包膜缺陷检测方法、装置、控制设备和检测系统。

技术介绍

[0002]铝壳锂离子电池包绝缘膜时，由于来料壳体、包膜工艺、设备精度、人为操作等原因，可能产生绝缘膜与壳体之间有气泡、褶皱等贴合不良的缺陷；特别是现在动力电池的尺寸越来越大，更大面积上更容易发生贴合不良的缺陷。这些缺陷不仅造成了外观不良，后续会影响电芯尺寸检测和模组组装工序，而且贴合不好的包膜更易被划破，可能造成安全问题。因此，需要对电芯包膜外观进行缺陷检测。
[0003]目前对包膜外观的自动化检验方法基本是依赖于光学成像技术，基于成像图像进行缺陷分析。然而，由于光照方向、包膜颜色、气泡褶皱大小、气泡褶皱位置的不同，带来的光影是不同的，会带来较大比例的误判和漏检，检测准确性低。

技术实现思路

[0004]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高包膜缺陷检测准确性的电芯包膜缺陷检测方法、装置、控制设备和检测系统。
[0005]一种电芯包膜缺陷检测方法，包括：
[0006]按照设定的测试参数发送超声测试控制指令至超声检测设备，所述超声测试控制指令用于控制所述超声检测设备向待测电芯包膜表面的多个位置点发射超声波；
[0007]接收所述超声检测设备反馈的各位置点超声波的回波信号并确定回波信号超声强度，将所述回波信号超声强度与所述待测电芯的位置点对应关联并生成当前的位置
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强度图像；
[0008]将当前的位置
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强度图像与已存的标准位置
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强度图像对比，识别当前的位置
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强度图像中的低超声强度区域，并确定当前的位置
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强度图像中所述低超声强度区域的尺寸；其中，所述低超声强度区域内的回波信号超声强度低于所述标准位置
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强度图像中对应位置点的回波信号超声强度；
[0009]将所述低超声强度区域的尺寸与预设合格尺寸对比并生成判定结果，所述判定结果用于判定所述待测电芯是否存在不合格的包膜缺陷。
[0010]一种电芯包膜缺陷检测装置，包括：
[0011]测试控制模块，用于按照设定的测试参数发送超声测试控制指令至超声检测设备，所述超声测试控制指令用于控制所述超声检测设备向待测电芯包膜表面的多个位置点发射超声波；
[0012]图像生成模块，用于接收所述超声检测设备反馈的各位置点超声波的回波信号并确定回波信号超声强度，将所述回波信号超声强度与所述待测电芯的位置点对应关联并生成当前的位置
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强度图像；
[0013]尺寸确定模块，用于将当前的位置
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强度图像与已存的标准位置
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强度图像对比，识别当前的位置
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强度图像中的低超声强度区域，并确定当前的位置
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强度图像中所述低超声强度区域的尺寸；其中，所述低超声强度区域内的回波信号超声强度低于所述标准位置
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强度图像中对应位置点的回波信号超声强度；
[0014]缺陷分析模块，用于将所述低超声强度区域的尺寸与预设合格尺寸对比并生成判定结果，所述判定结果用于判定所述待测电芯是否存在不合格的包膜缺陷。
[0015]一种控制设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如下步骤：
[0016]按照设定的测试参数发送超声测试控制指令至超声检测设备，所述超声测试控制指令用于控制所述超声检测设备向待测电芯包膜表面的多个位置点发射超声波；
[0017]接收所述超声检测设备反馈的各位置点超声波的回波信号并确定回波信号超声强度，将所述回波信号超声强度与所述待测电芯的位置点对应关联并生成当前的位置
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强度图像；
[0018]将当前的位置
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强度图像与已存的标准位置
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强度图像对比，识别当前的位置
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强度图像中的低超声强度区域，并确定当前的位置
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强度图像中所述低超声强度区域的尺寸；其中，所述低超声强度区域内的回波信号超声强度低于所述标准位置
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强度图像中对应位置点的回波信号超声强度；
[0019]将所述低超声强度区域的尺寸与预设合格尺寸对比并生成判定结果，所述判定结果用于判定所述待测电芯是否存在不合格的包膜缺陷。
[0020]一种检测系统，包括：
[0021]超声检测设备，用于根据控制设备发送的超声测试控制指令，向待测电芯包膜表面的多个位置点发射超声波，以及用于接收各位置点的回波信号并反馈至所述控制设备；
[0022]与所述超声检测设备连接的所述控制设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如下步骤：
[0023]按照设定的测试参数发送超声测试控制指令至超声检测设备，所述超声测试控制指令用于控制所述超声检测设备向待测电芯包膜表面的多个位置点发射超声波；
[0024]接收所述超声检测设备反馈的各位置点超声波的回波信号并确定回波信号超声强度，将所述回波信号超声强度与所述待测电芯的位置点对应关联并生成当前的位置
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强度图像；
[0025]将当前的位置
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强度图像与已存的标准位置
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强度图像对比，识别当前的位置
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强度图像中的低超声强度区域，并确定当前的位置
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强度图像中所述低超声强度区域的尺寸；其中，所述低超声强度区域内的回波信号超声强度低于所述标准位置
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强度图像中对应位置点的回波信号超声强度；
[0026]将所述低超声强度区域的尺寸与预设合格尺寸对比并生成判定结果，所述判定结果用于判定所述待测电芯是否存在不合格的包膜缺陷。
[0027]上述电芯包膜缺陷检测方法、装置、控制设备和检测系统，通过控制超声检测设备向待测电芯包膜表面各位置点发射超声波，基于回波信号超声强度与标准位置
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强度图像中的回波信号超声强度识别低超声强度区域，根据低超声强度区域的尺寸判别是否存在不合格的包膜缺陷，从而利用超声波检测技术检测表面的绝缘膜气泡褶皱等包膜缺陷，与传
统的光学检测技术相比，该检测方法不易受到光照方向、包膜颜色、气泡褶皱大小、气泡褶皱位置的影响，不易出现误判和漏检，检测准确性高。
附图说明
[0028]为了更清楚地说明本申请实施例或传统技术中的技术方案，下面将对实施例或传统技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0029]图1为一个实施例中电芯包膜缺陷检测方法的流程示意图；
[0030]图本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电芯包膜缺陷检测方法，其特征在于，包括：按照设定的测试参数发送超声测试控制指令至超声检测设备，所述超声测试控制指令用于控制所述超声检测设备向待测电芯包膜表面的多个位置点发射超声波；接收所述超声检测设备反馈的各位置点超声波的回波信号并确定回波信号超声强度，将所述回波信号超声强度与所述待测电芯的位置点对应关联并生成当前的位置
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强度图像；将当前的位置
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强度图像与已存的标准位置
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强度图像对比，识别当前的位置
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强度图像中的低超声强度区域，并确定当前的位置
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强度图像中所述低超声强度区域的尺寸；其中，所述低超声强度区域内的回波信号超声强度低于所述标准位置
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强度图像中对应位置点的回波信号超声强度；将所述低超声强度区域的尺寸与预设合格尺寸对比并生成判定结果，所述判定结果用于判定所述待测电芯是否存在不合格的包膜缺陷。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述按照设定的测试参数发送超声测试控制指令至超声检测设备之前，还包括：调节所述超声检测设备的工作参数，使所述超声检测设备向内部空置和内部填充的两个标准包膜电芯发射超声波后分别返回的回波信号超声强度的差值在预设差值范围内，存储调节所得的工作参数为设定的测试参数；以设定的测试参数下、所述超声检测设备向所述标准包膜电芯发射超声波后返回的回波信号超声强度为标准强度，将所述标准强度与所述标准包膜电芯的位置点对应关联，生成标准位置
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强度图像并存储。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：获取所述待测电芯的电芯编码；所述将所述低超声强度区域的尺寸与预设合格尺寸对比并生成判定结果之后，还包括：将所述判定结果与所述电芯编码绑定。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述低超声强度区域的尺寸与预设合格尺寸对比并生成判定结果之后，还包括：若所述判定结果为所述待测电芯存在不合格的包膜缺陷，则控制转移机构将所述待测电芯转移。5.根据权利要求1至4任意一项所述方法，其特征在于，所述将所述回波信号超声强度与所述待测电芯的位置点对应关联并生成当前的位置
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强度图像之后，或者所述将所述低超声强度区域的尺寸与预设合格尺寸对比并生成判定结果之后，还包括：控制翻面机构将所述待测电芯翻面，并返回所述按照设定的测试参数发送超声测试控制指令至超声检测设备...

【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，
申请(专利权)人：上海先导慧能技术有限公司，
类型：发明
国别省市：