一种便于上料的半微量分析天平制造技术

本实用新型专利技术公开了一种便于上料的半微量分析天平，包括半微量分析天平，所述半微量分析天平包括测量机构、电源箱体、控制机构，所述测量机构的底部转动连接有调节丝杆，所述电源箱体的侧面固定设有驱动电机，且驱动电机与调节丝杆固定连接，所述调节丝杆的外表面螺纹连接有螺纹套，所述螺纹套的外表面固定设有连接块，所述连接块的另一端固定设有固定滑套，所述测量机构的底部固定设有固定滑杆，且固定滑杆与固定滑套滑动连接。通过该设计，当使用者在对待测原料进行重复不断测量时，避免了手动推动侧面板开闭对待测原料进行放置的问题，进而为使用者上料到测量机构上带来便捷，如此提高了半微量分析天平的实用性。高了半微量分析天平的实用性。高了半微量分析天平的实用性。

【技术实现步骤摘要】
一种便于上料的半微量分析天平


[0001]本技术涉及半微量分析天平领域，特别是涉及一种便于上料的半微量分析天平。

技术介绍

[0002]半微量分析天平是比台秤更为精确的测量仪器，且半微量分析天平是定量分析工作中不可缺少的仪器，半微量天平精度达 0.01 毫克，具有高精度测量和可重复性的特点。
[0003]现有半微量分析天平的箱板为了对测量机构进行防护，避免了灰尘进入测量机构内部，以及避免了空气流动影响测量结果，半微量分析天平在测量使用时，在对待测量原料进行上料测量时，先需要手动对箱板的侧面板进行推动，使得侧面板与箱板分离，此时再将待测原料放置测量机构上，再将侧面板与箱板闭合，在对待测原料进行重复多次测量操作，由于待测原料在放入测量机构上需要不断手动开闭侧面板，使得待测原料放置在测量机构上时存在不便，因此，提出了一种便于上料的半微量分析天平来解决上述问题。

技术实现思路

[0004]为了克服现有技术的不足，本技术提出了一种便于上料的半微量分析天平来解决上述问题。
[0005]为解决上述技术问题，本技术提供如下技术方案：一种便于上料的半微量分析天平，包括半微量分析天平，所述半微量分析天平包括测量机构、电源箱体、控制机构，所述测量机构的底部转动连接有调节丝杆，所述电源箱体的侧面固定设有驱动电机，且驱动电机与调节丝杆固定连接，所述调节丝杆的外表面螺纹连接有螺纹套，所述螺纹套的外表面固定设有连接块，所述连接块的另一端固定设有固定滑套，所述测量机构的底部固定设有固定滑杆，且固定滑杆与固定滑套滑动连接，所述螺纹套的外表面固定设有延伸板，所述延伸板的另一端固定设有侧面板，所述测量机构的顶部设有安装架，且安装架与侧面板滑动连接。
[0006]作为本技术的一种优选技术方案，所述安装架的正表面滑动连接有前面板，所述测量机构的顶部一侧嵌入有磁铁块，且磁铁块设置在前面板的正下方。
[0007]作为本技术的一种优选技术方案，所述驱动电机、调节丝杆、螺纹套、连接块、固定滑杆、固定滑套、延伸板、侧面板均设有两个，且均对称设置。
[0008]作为本技术的一种优选技术方案，所述控制机构上设有左右两个驱动控制键，且驱动控制键分别控制驱动电机驱动。
[0009]作为本技术的一种优选技术方案，所述电源箱体的侧面设有支撑滑轨，且支撑滑轨的内底部与侧面板的底部贴合设置。
[0010]作为本技术的一种优选技术方案，所述侧面板、前面板的内部均设有透明玻璃板。
[0011]作为本技术的一种优选技术方案，所述前面板的下部正表面设有活动把手，
且活动把手的外表面设有防滑套。
[0012]与现有技术相比，本技术能达到的有益效果是：
[0013]1、通过该设计，当使用者在对待测原料进行重复不断测量时，避免了手动推动侧面板开闭对待测原料进行放置的问题，进而为使用者上料到测量机构上带来便捷，如此提高了半微量分析天平的实用性。
[0014]2、当测量机构需要维修时，通过对前面板向上移动，使得安装架与前面板进行分离，此时便于对测量机构上的测量零件进行清理与维修，当安装架与前面板贴合时在磁铁块的作用下，以便对前面板进行磁性吸附，继而通过安装架与前面板的固定连接性，提高了安装架与前面板安装的稳定性。
附图说明
[0015]图1为本技术的立体结构示意图；
[0016]图2为本技术的图1的活动状态立体结构示意图；
[0017]图3为本技术的图2的仰视立体结构示意图；
[0018]图4为本技术的图3的A处放大结构示意图。
[0019]其中：1、半微量分析天平；2、测量机构；3、电源箱体；4、控制机构；5、驱动电机；6、调节丝杆；7、螺纹套；8、连接块；9、固定滑杆；10、固定滑套；11、延伸板；12、侧面板；13、支撑滑轨；14、安装架；15、前面板；16、磁铁块；17、活动把手。
具体实施方式
[0020]为了使本技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施例，进一步阐述本技术，但下述实施例仅仅为本技术的优选实施例，并非全部。基于实施方式中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得其它实施例，都属于本技术的保护范围。下述实施例中的实验方法，如无特殊说明，均为常规方法，下述实施例中所用的材料、试剂等，如无特殊说明，均可从商业途径得到。
[0021]实施例:
[0022]如图1
‑
4所示，本技术提供一种便于上料的半微量分析天平，包括半微量分析天平1，半微量分析天平1包括测量机构2、电源箱体3、控制机构4，测量机构2的底部转动连接有调节丝杆6，电源箱体3的侧面固定设有驱动电机5，且驱动电机5与调节丝杆6固定连接，调节丝杆6的外表面螺纹连接有螺纹套7，螺纹套7的外表面固定设有连接块8，连接块8的另一端固定设有固定滑套10，测量机构2的底部固定设有固定滑杆9，且固定滑杆9与固定滑套10滑动连接，螺纹套7的外表面固定设有延伸板11，延伸板11的另一端固定设有侧面板12，测量机构2的顶部设有安装架14，且安装架14与侧面板12滑动连接。
[0023]当使用者对待测原料进行测量时，通过对控制机构4上的驱动控制键进行操作，可根据使用者的需求对，安装架14两侧的侧面板12进行开启，当对右侧侧面板12进行开启时，通过对控制机构4上的右键启动，此时驱动电机5转动，当驱动电机5转动时带动调节丝杆6转动，由于调节丝杆6与螺纹套7螺纹连接，以及固定滑杆9与固定滑套10滑动连接，且连接块8对固定滑套10与螺纹套7固定连接，使得调节丝杆6转动时带动螺纹套7水平直线移动，
当调节丝杆6移动时带动螺纹套7移动，当螺纹套7移动时带动延伸板11移动，当延伸板11移动时带动右侧的侧面板12移动，使得侧面板12与安装架14分离，此时使用者可以通过右侧将待测原料放置测量机构2顶部，在对右键启动，同理上述，使得侧面板12与安装架14闭合，当使用者需要对左侧侧面板12进行开启式，同理上述，对左键进行启动即可，通过该设计，当使用者在对待测原料进行重复不断测量时，避免了手动推动侧面板12开闭对待测原料进行放置的问题，进而为使用者上料到测量机构2上带来便捷，如此提高了半微量分析天平1的实用性。
[0024]在其他实施例中，安装架14的正表面滑动连接有前面板15，测量机构2的顶部一侧嵌入有磁铁块16，且磁铁块16设置在前面板15的正下方；当测量机构2需要维修时，通过对前面板15向上移动，使得安装架14与前面板15进行分离，此时便于对测量机构2上的测量零件进行清理与维修，当安装架14与前面板15贴合时在磁铁块16的作用下，以便对前面板15进行磁性吸附，继而通过安装架14与前面板15的固定连接性，提高了安装架14与前面板15安装的稳定性。
[0025]在其他实施例中，驱动电机5、调节丝杆6、螺纹套7、连接块8、固定滑杆9、固本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种便于上料的半微量分析天平，包括半微量分析天平（1），其特征在于：所述半微量分析天平（1）包括测量机构（2）、电源箱体（3）、控制机构（4），所述测量机构（2）的底部转动连接有调节丝杆（6），所述电源箱体（3）的侧面固定设有驱动电机（5），且驱动电机（5）与调节丝杆（6）固定连接，所述调节丝杆（6）的外表面螺纹连接有螺纹套（7），所述螺纹套（7）的外表面固定设有连接块（8），所述连接块（8）的另一端固定设有固定滑套（10），所述测量机构（2）的底部固定设有固定滑杆（9），且固定滑杆（9）与固定滑套（10）滑动连接，所述螺纹套（7）的外表面固定设有延伸板（11），所述延伸板（11）的另一端固定设有侧面板（12），所述测量机构（2）的顶部设有安装架（14），且安装架（14）与侧面板（12）滑动连接。2.根据权利要求1所述的一种便于上料的半微量分析天平，其特征在于：所述安装架（14）的正表面滑动连接有前面板（15），所述测量机构（2）的顶部一侧嵌入有磁铁块（16），...

【专利技术属性】
技术研发人员：霍俊锋，
申请(专利权)人：河南旭永生物科技有限公司，
类型：新型
国别省市：