一种应用于金属微颗粒物粒度粒形分析的光路系统技术方案

本发明专利技术提供一种应用于金属微颗粒物粒度粒形分析的光路系统，涉及金属颗粒物光路测量技术领域，包括镜头组和样品颗粒主体，镜头组表面一端设有图像传感器，镜头组远离图像传感器的一端设有圆偏振镜片，圆偏振镜片侧面连接设有偏振镜片驱动器，圆偏振镜片底端设有分光板，分光板一侧设有前向光源，分光板底面设有载玻板，载玻板表面放置设有样品颗粒主体，载玻板底部设有背向光源，前向光源和背向光源的多模式组合后产生光路，对样品颗粒主体进行照射并通过镜头组和图像传感器进行成像，通过样品颗粒主体的光学特性对样品颗粒主体进行区分，直接确定每一粒颗粒的材质和粒度粒形参数，适配性高，减少试验数据误差，提高实验效率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
一种应用于金属微颗粒物粒度粒形分析的光路系统


[0001]本专利技术涉及金属颗粒物光路测量
，具体为一种应用于金属微颗粒物粒度粒形分析的光路系统。

技术介绍

[0002]在生产和实验室分析中，检测某种微颗粒材料中的金属微颗粒的含量和粒度粒形正逐渐成为生产及科研人员关注的事情，现有方案只能通过磁性分离技术将磁性金属颗粒物预分离出来再测量的方式来实现。
[0003]上述文件中针对金属颗粒物粒度的分析时均存在的问题为：问题一，采用磁吸方式利用金属的性质进行金属颗粒分析时，针对无磁性的金属颗粒如铜金属颗粒，无法通过磁吸进行吸附；问题二，磁性颗粒预分离的工艺增加了实验的复杂性，不当的预分离操作可能导致磁性颗粒的丢失，从而影响实验结果。

技术实现思路

[0004]解决的技术问题针对现有技术的不足，本专利技术提供了一种应用于金属微颗粒物粒度粒形分析的光路系统，解决了1、磁吸方式的不适配性，利用金属颗粒的光学性质进行区分，覆盖范围广；2、磁吸分析方式复杂，利用光路进行集成区分，结构简单，缩短时间，提高效率。r/>[0005]技本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种应用于金属微颗粒物粒度粒形分析的光路系统，包括镜头组（2）和样品颗粒主体（7），其特征在于：所述镜头组（2）表面一端设有图像传感器（1），所述镜头组（2）远离图像传感器（1）的一端设有圆偏振镜片（3），所述圆偏振镜片（3）侧面连接设有偏振镜片驱动器（9），所述圆偏振镜片（3）底端设有分光板（4），所述分光板（4）一侧设有前向光源（8），所述分光板（4）底面设有载玻板（5），所述载玻板（5）表面放置设有样品颗粒主体（7），所述载玻板（5）底部设有背向光源（6），所述图像传感器（1）、镜头组（2）、圆偏振镜片（3）、分光板（4）、载玻板（5）、背向光源（6）、样品颗粒主体（7）、前向光源（8）和偏振镜片驱动器（9）组成整个系统结构。2.根据权利要求1所述的一种应用于金属微颗粒物粒度粒形分析的光路系统，其特征在于：所述系统中针对样品颗粒主体（7）的分析方法如下：Sp1：系统设备的预准备，所述系统设备的预准备为将系统中各个与镜头组（2）连接的镜片调整位置，并将待检测样品颗粒主体（7）放置在载玻板（5）表面，等待分析检测；Sp2：样品颗粒主体（7）的筛选，所述样品颗粒主体（7）的筛选为针对样品颗粒主体（7）的透光性、反射性和表面纹理特征进行图像筛选；Sp3：样品颗粒主体（7）的透光初筛选，所述样品颗粒主体（7）的透光初筛选为选用脉冲开启方式打开背向光源（6）、关闭前向光源（8），平行光穿过样品颗粒主体（7），最后在图像传感器（1）中成像，通过成像将样品颗粒主体（7）内部透光和不透光颗粒进行区分；Sp4：样品颗粒主体（7）的反射光筛选，所述样品颗粒主体（7）的反射光筛选为选用脉冲开启方式打开前向光源（8），关闭背向光源（6），前向光源...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑俊麟，刘明栋，陈路佳，陈康，
申请(专利权)人：米谱科技常州有限公司，
类型：发明
国别省市：