【技术实现步骤摘要】
一种玻璃基板表面杂质检测设备
[0001]本专利技术属于玻璃基板检测设备
,尤其涉及一种玻璃基板表面杂质检测设备。
技术介绍
[0002]玻璃基板在加工制造完成后,需要经由传输架传输至检测生产线内,对玻璃板进行检测。在对玻璃基板表面的粒子(如玻璃粉或者尘埃类杂质)进行检测时,需要用到粒子计数器(PAC),粒子计数器为一排呈线性阵列的摄像装置以及位于摄像装置两端的LED照明装置组成,实际使用时,玻璃基板经由传送带,传输至摄像装置下方,LED装置提供照明,经由摄像装置对玻璃板表面进行扫描,获取玻璃板表面的粒子计数信息。实际使用时,两个LED照明装置固定安装于摄像装置的两端,不能进行调节,当摄像装置与玻璃基板之间距离发生改变时,照明区域大小也随之变化,影响实际检测的进行。
技术实现思路
[0003]本专利技术的目的在于克服现有技术存在的以上问题,提供一种玻璃基板表面杂质检测设备,通过两个照明组件的设置,可对第二安装板的旋转角度进行调节,从而调节两个照明组件之间夹角的大小,对照明区域大小进行调节,使照明区域大小 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种玻璃基板表面杂质检测设备,其特征在于:包括由左至右相对称设立的第一传送架(1)、第二传送架(2)以及第三传送架(3),所述第一传送架(1)和第二传送架(2)之间设有表面检测组件(4),所述第三传送架(3)的外部设有边部检测组件(5);所述表面检测组件(4)包括第一承载板(41)以及固定安装于第一承载板(41)下底面的检测机构(42),所述第一承载板(41)的两端均固定安装有升降机构(43);所述检测机构(42)包括第一安装板(421)以及固定安装于第一安装板(421)前后两端的倒梯形板(422)。2.根据权利要求1所述的一种玻璃基板表面杂质检测设备,其特征在于:所述第一传送架(1)包括底部安装框(11)以及固定安装于底部安装框(11)顶面四周的第一支撑柱(12),所述第一支撑柱(12)的顶部固定安装有传送导轨(13);所述底部安装框(11)下底面四周均固定安装有第二支撑柱(14)。3.根据权利要求1所述的一种玻璃基板表面杂质检测设备,其特征在于:所述第一安装板(421)右侧面开有第一长槽(423),所述第一长槽(423)内均布有口字型连接板(424),所述口字型连接板(424)套装于第一安装板(421)外部的下端,所述口字型连接板(424)下底面固定安装有检测探头(425);所述第一安装板(421)顶面均布有螺纹孔(4211),所述螺纹孔(4211)内螺纹连接有紧固螺栓(4212),所述紧固螺栓(4212)下底面与口字型连接板(424)顶面紧密接触。4.根据权利要求1所述的一种玻璃基板表面杂质检测设备,其特征在于:所述倒梯形板(422)前侧面上端开有第二长槽(426),所述第二长槽(426)内固定安装有分隔板(427),所述分隔板(427)的左右两端均固定安装有第一气缸(428),所述第一气缸(428)的输出端固定安装有照明组件(44);所述照明组件(44)包括第二安装板(441)以及均布于第二安装板(441)下端的照明灯(442);所述第二安装板(441)的前后两端均固定安装有第三安装板(443),所述第三安装板(443...
【专利技术属性】
技术研发人员:谢宁,顾权,齐小飞,苏钢妮,
申请(专利权)人:彩虹合肥液晶玻璃有限公司,
类型:发明
国别省市:
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