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本发明提供一种应用于金属微颗粒物粒度粒形分析的光路系统，涉及金属颗粒物光路测量技术领域，包括镜头组和样品颗粒主体，镜头组表面一端设有图像传感器，镜头组远离图像传感器的一端设有圆偏振镜片，圆偏振镜片侧面连接设有偏振镜片驱动器，圆偏振镜片底端设...
该专利属于米谱科技（常州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过米谱科技（常州）有限公司授权不得商用。

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