一种薄壁回转件激光测量装置及其测量方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种薄壁回转件激光测量装置及其测量方法，所述装置包括测量定位机构、驱动机构、测量机构和连杆机构，所述定位机构由定位件和精密回转轴系构成，所述定位件对待测试薄壁回转件进行中心孔涨紧定位，所述定位件的下部与精密回转轴系连接，形成定位、回转联合体，所述驱动机构包括驱动电机和传动皮带，所述驱动电机带动传动皮带转动，所述传动皮带驱动精密回转轴系和定位件匀速回转，所述测量机构包括激光传感器和直线运动副，所述连杆机构驱动所述激光传感器进入或移出测量位置，该装置可实现非接触测量，整体式测量定位回转机构，可带动工件回转；连杆机构结合直线运动机构设计，可满足准确的采点需求，提高测量重复性。量重复性。量重复性。

【技术实现步骤摘要】
一种薄壁回转件激光测量装置及其测量方法


[0001]本专利技术涉及精密测试
，特别是涉及一种薄壁回转件激光测量装置及其测量方法。

技术介绍

[0002]薄壁件测量，测量力对测量结果的影响不可忽视。特别是回转类的薄壁件，其直径、圆度等几何量，需回转至少一周并完成采点，进而计算得到最终结果。对于一般几何量的测量，通常采用接触式电感传感器进行采点，但这种方式会产生一定的接触测力，对于薄壁件会导致不规则形变，从而引入测量误差。相对于接触测量，非接触光学测量方法，具有无测力、非接触、精度高等技术特点，可用于薄壁件的精密测量。本专利技术提供一种薄壁回转件激光测量装置及其使用方法，可满足回转类薄壁件直径及圆度等几何量的非接触精密测量。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的是针对现有技术中存在的技术缺陷，而提供一种薄壁回转件激光测量装置。
[0004]本专利技术的另一个目的是提供所述测量装置的测量方法。
[0005]为实现本专利技术的目的所采用的技术方案是：
[0006]一种薄壁回转件激光测量装置，包括测量定本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种薄壁回转件激光测量装置，其特征在于，所述薄壁回转件激光测量装置包括测量定位机构、驱动机构、测量机构和连杆机构，所述定位机构由定位件和精密回转轴系构成，所述定位件对待测试薄壁回转件进行中心孔涨紧定位，所述定位件的下部与精密回转轴系连接，形成定位、回转联合体，所述驱动机构包括驱动电机和传动皮带，所述驱动电机带动传动皮带转动，所述传动皮带驱动精密回转轴系和定位件匀速回转，所述测量机构包括激光传感器和直线运动副，所述连杆机构驱动所述激光传感器进入或移出测量位置。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述连杆机构为水平式手动拖拽机构，带动激光传感器实现工位转换。3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述连杆机构包括摇把、一级连杆、二级连杆和连接块，其中：所述摇把包括操作部和转动杆。4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述转动杆通过固定座可转动固定在台面支架上；所述一级连杆的一端与所述转动杆固定连接；另一端与所述二级连杆的一端转动连接；所述二级连杆的另一端通过滑套结构连接在连接块上，所述连接块固定在测量支架以驱动所述测量支架沿所述直线运动副做直线往复运动。5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述滑套结构包括固定在所述固定块侧面上的滑动螺栓、开设在所述二级连杆上的滑槽和放置在所述滑槽内的压簧；所述滑动螺栓在所述滑槽内滑动。6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述激光测量装置安装于台面支架上，所述台面支架为四腿一面结...

【专利技术属性】
技术研发人员：王斌，黄运忠，宋子龙，
申请(专利权)人：中核天津科技发展有限公司，
类型：发明
国别省市：