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本发明公开了一种薄壁回转件激光测量装置及其测量方法，所述装置包括测量定位机构、驱动机构、测量机构和连杆机构，所述定位机构由定位件和精密回转轴系构成，所述定位件对待测试薄壁回转件进行中心孔涨紧定位，所述定位件的下部与精密回转轴系连接，形成定位...
该专利属于中核（天津）科技发展有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中核（天津）科技发展有限公司授权不得商用。

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