【技术实现步骤摘要】
线圈绕线的检测方法及装置、电子设备和存储介质
[0001]本专利技术涉及半导体加工
,更具体地涉及一种线圈绕线的检测方法、一种线圈绕线的检测装置、一种电子设备和一种存储介质。
技术介绍
[0002]通常,电子器件(本文简称为“器件”)被生产制造出来后,需要在出厂前进行缺陷的检测,以剔除质量有瑕疵的器件,器件的缺陷检测一般需要借助专门的检测设备来完成。随着科技的不断发展,各种器件的结构复杂度、以及器件的生产能力也在不断提升,相应地,也就对器件的检测设备提出了更高的要求。
[0003]机器视觉是一个快速发展的朝阳行业,视觉检测设备已经在制造业各个领域各个生产环节得到广泛的应用。视觉检测设备利用相机采集包含器件的图像并利用视觉检测算法对图像进行分析处理,进而判断器件的质量。
[0004]通常情况下,电感器件被生产出来后,可能会出现多种缺陷,绕线重叠就是一种比较常见的缺陷。为了对电感器件的质量进行检测,在视觉检测设备中通常也需要配置能够进行绕线重叠检测的图像处理算法来检测这类缺陷。
[0005]如今,在很多生产测试场景中,对于器件检测的速率(通量)有较高的要求,并且需要在检测完成后立即进行良品和次品的分拣下料,这就要求算法在很短的时间内就完成对一个图像中器件组装间隙的检测,以便在下料前就确定器件为良品和次品,从而在下料时将器件收纳到正确的料盒中。虽然已有的图像处理算法有能力进行绕线重叠检测,但是这些已有算法往往需要进行边缘检测、连通域(Blob)分析、或者进行绕线等特定对象的识别。不论是边缘检测 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种线圈绕线的检测方法,其特征在于,包括:获取待测图像,所述待测图像中包含由至少一根导线沿预定方向缠绕而成的线圈;基于所述待测图像,确定所述线圈的多条导线段的位置;基于第一部分导线段的位置,确定所述第一部分导线段的导线顶点的位置,其中,所述第一部分导线段是所述多条导线段中的至少部分导线段;基于第二部分导线段的导线顶点的位置确定基准直线,其中,所述基准直线为合格导线段的顶点连线,所述第二部分导线段是所述第一部分导线中的至少部分导线段;根据所述多条导线段或所述第一部分导线段的导线顶点与所述基准直线之间的距离,确定所述线圈的绕线是否合格。2.如权利要求1所述的方法,其中,在所述基于所述待测图像,确定所述线圈的多条导线段的位置的步骤和所述基于第一部分导线段的位置,确定所述第一部分导线段的导线顶点的位置的步骤之间,所述方法还包括:基于所述多条导线段中每条导线段的位置计算对应导线段在与所述预定方向垂直的方向上的长度;基于所述多条导线段的长度确定基准长度;过滤掉所述多条导线段中长度大于所述基准长度的导线段,获得所述第一部分导线段。3.如权利要求1所述的方法,其中,在所述基于所述待测图像,确定所述线圈的多条导线段的位置的步骤和所述基于第一部分导线段的位置,确定所述第一部分导线段的导线顶点的位置的步骤之间,所述方法还包括:基于所述多条导线段中每条导线段的位置计算对应导线段在与所述预定方向垂直的方向上的长度;基于所述多条导线段的长度确定基准长度;过滤掉所述多条导线段中长度小于所述基准长度的导线段,获得所述第一部分导线段。4.如权利要求2或3所述的方法,其中,所述基于所述多条导线段的长度确定基准长度,包括:对所述多条导线段的长度取中值或取平均值,以获得所述基准长度。5.如权利要求1
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3任一项所述的方法,其中,所述基于第二部分导线段的导线顶点的位置确定基准直线,包括:对于所述第一部分导线段中的每两条相邻导线段,确定该两条相邻导线段的导线顶点的连线;计算每条连线与所述预定方向之间的角度;去除角度大于第一预设角度阈值的连线;对剩余的连线进行直线拟合,获得所述基准直线;其中,所述第二部分导线段是参与直线拟合的连线所对应的导线段。6.如权利要求1
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3任一项所述的方法,其中,所述基于所述待测图像,确定所述线圈的多条导线段的位置,包括:基于所述待测图像确定目标区域,所述目标区域包含所述至少一根导线和背景;
从所述目标区域中去除所述背景,以获得待测绕线区域;基于所述待测绕线区域,确定所述多条导线段的位置。7.如权利要求6所述的方法,其中,所述基于所述待测图像确定目标区域,包括:获取模板图像,所述模板图像上标注有用于指示线圈上的导线所在位置的感兴趣区域;基于所述模板图像中的第一标识特征,在所述待测图像中确定与所述第一标识特征匹配的第二标识特征;确定所述第一标识特征在所述模板图像中的图像位置与所述第二标识特征在所述待测图像中的图像位置之间的位置偏移量;根据所述位置偏移量,调整所述模板图像上的感兴趣区域的位置;将所述待测图像上的与调整后的感兴趣区域相对应的区域确定为所述目标区域。8.如权利要求6所述的方法,其中,所述从所述目标区域中去除所述背景,以获得待测绕线区域,包括:在所述目标区域内,通过动态阈值方法分割提取初始绕线区域;在与所述预定方向垂直的方向上对所述初始绕线区域进行形态学闭运算,以获取所述待测绕线区域。9.如权利要求6所述的方法,其中,所述基于所述待测绕线区域,确定所述多条导线段的位置,包括:在与所述预定方向垂直的方向上对所述待测绕线区域进行形态学开运算,...
【专利技术属性】
技术研发人员:田松,孟令凯,
申请(专利权)人:苏州镁伽科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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