一种MCU短路检测电路制造技术

本发明专利技术公开了一种MCU短路检测电路，涉及短路检测技术领域，包括脉冲发生模块，用于产生脉冲信号；智能控制模块，用于接收信号并控制模块工作；信号选通模块，用于通过单输入多输出模拟开关电路检测MCU模块的短路状态；短路检测调理模块，用于检测磁场信号和滤波处理；一级调理模块，用于信号放大；二级调理模块，用于信号差分放大；波形整理模块，用于波形整形和整流滤波。本发明专利技术MCU短路检测电路由智能控制模块定时号控制信号选通模块与MCU模块引脚的连接关系，脉冲发生模块在两条不该连接的引脚上产生磁场，短路检测调理模块检测该磁场并进行一级放大、差分放大，波形整形和整流滤波处理，由智能控制模块判断MCU模块是否短路。路。路。

【技术实现步骤摘要】
一种MCU短路检测电路


[0001]本专利技术涉及短路检测
，具体是一种MCU短路检测电路。

技术介绍

[0002]MCU(Micro controller Unit，微控制单元)又称单片微型计算机或者单片机，能够为不同的应用场合做不同组合控制，实现电子设备的智能化工作，在MCU芯片的使用过程中，如果MCU芯片的引脚之间出现不该连接的地方出现了连接情况，这件导致MCU芯片被短路，继而导致MCU芯片的烧毁，现有的MCU短路检测电路大多通过人为检测的方式，通过万用表对MCU芯片的每个引脚进行电流检测，较为麻烦，且检测的工作量较大，因此有待改进。

技术实现思路

[0003]本专利技术实施例提供一种MCU短路检测电路，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0004]依据本专利技术实施例的第一方面，提供一种MCU短路检测电路，该MCU短路检测电路包括：MCU模块，脉冲发生模块，智能控制模块，信号选通模块，短路检测调理模块，一级调理模块，二级调理模块，波形整理模块；
[0005]所述MCU模块，用于提供待检测的MCU芯片电路；
[0006]所述脉冲发生模块，用于通过脉冲发生电路产生脉冲信号；
[0007]所述智能控制模块，用于输出选通控制信号和报警信号并接收所述波形整理模块输出的信号；
[0008]所述信号选通模块，与所述信号选通模块、MCU模块和智能控制模块连接，用于通过所述选通控制信号触发单输入多输出模拟开关电路选择与所述MCU模块的连接状态并在MCU模块短路的地方产生磁场信号；
[0009]所述短路检测调理模块，与所述MCU模块连接，用于通过线圈电路检测所述磁场信号并将检测的磁场信号进行滤波处理，用于将滤波后的磁场信号划分为第一检测信号和第二检测信号并分别传输给所述一级调理模块和二级调理模块；
[0010]所述一级调理模块，与所述短路检测调理模块连接，用于将所述第一检测信号和第二检测信号通过运算放大电路进行放大调理处理并输出；
[0011]所述二级调理模块，与所述一级调理模块连接，用于将所述一级调理模块输出的信号进行差分放大处理输出短路检测信号；
[0012]所述波形整理模块，与所述二级调理模块和智能控制模块连接，用于对所述短路检测信号进行波形整形和整流滤波处理并输出短路信号给所述智能控制模块。
[0013]依据本专利技术实施例的另一方面，所述MCU短路检测电路还包括报警模块；
[0014]所述报警模块，用于通过所述报警信号触发报警电路进行短路报警；
[0015]所述报警模块与所述智能控制模块连接。
[0016]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：本专利技术MCU短路检测电路由脉冲发生模块产生脉冲信号，由智能控制模块定时输出选通控制信号控制信号选通模块与MCU模块中MCU
芯片电路引脚的连接关系，以便脉冲信号能够流入MCU芯片电路的引脚中，方便检测MCU芯片电路的每条引脚状态，当两条不该连接的引脚相连时将产生一小磁场，通过短路检测调理模块检测该磁场的磁场信号，并由一级调理模块和二级调理模块进行差分放大处理，由波形整理模块将信号进行波形整形和整流滤波处理，以便由智能控制模块接收，并由智能控制模块判断接收的信号是否符合短路条件，以便进行短路报警，降低工作人员的工作量。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对本专利技术实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0018]图1为本专利技术实例提供的一种MCU短路检测电路的原理方框示意图。
[0019]图2为本专利技术实例提供的一种MCU短路检测电路的第一电路图。
[0020]图3为本专利技术实例提供的一种MCU短路检测电路的第二电路图。
具体实施方式
[0021]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0022]实施例1，请参阅图1，一种MCU短路检测电路包括：MCU模块1，脉冲发生模块2，智能控制模块3，信号选通模块4，短路检测调理模块5，一级调理模块6，二级调理模块7，波形整理模块8；
[0023]具体地，所述MCU模块1，用于提供待检测的MCU芯片电路；
[0024]脉冲发生模块2，用于通过脉冲发生电路产生脉冲信号；
[0025]智能控制模块3，用于输出选通控制信号和报警信号并接收所述波形整理模块8输出的信号；
[0026]信号选通模块4，与所述信号选通模块4、MCU模块1和智能控制模块3连接，用于通过所述选通控制信号触发单输入多输出模拟开关电路选择与所述MCU模块1的连接状态并在MCU模块1短路的地方产生磁场信号；
[0027]短路检测调理模块5，与所述MCU模块1连接，用于通过线圈电路检测所述磁场信号并将检测的磁场信号进行滤波处理，用于将滤波后的磁场信号划分为第一检测信号和第二检测信号并分别传输给所述一级调理模块6和二级调理模块7；
[0028]一级调理模块6，与所述短路检测调理模块5连接，用于将所述第一检测信号和第二检测信号通过运算放大电路进行放大调理处理并输出；
[0029]二级调理模块7，与所述一级调理模块6连接，用于将所述一级调理模块6输出的信号进行差分放大处理输出短路检测信号；
[0030]波形整理模块8，与所述二级调理模块7和智能控制模块3连接，用于对所述短路检测信号进行波形整形和整流滤波处理并输出短路信号给所述智能控制模块3。
[0031]进一步地，所述MCU短路检测电路还包括报警模块9；
[0032]具体地，所述报警模块9，用于通过所述报警信号触发报警电路进行短路报警；
[0033]该报警模块9与所述智能控制模块3连接。
[0034]在具体实施例中，上述MCU模块1用于提供所需检测的MCU芯片，在此不做赘述；上述脉冲发生模块2可采用脉冲发生电路，产生一脉冲信号；上述智能控制模块3可采用，并不限于限于单片机、DSP等微控制器，集成了运算器、控制器、存储器以及输入输出器等诸多部件，实现信号的处理、数据存储、模块控制等功能；上述信号选通模块4可采用两组模拟开关电路组成单输入多输出模拟开关电路，由第一组模拟开关电路控制输入第二组模拟开关电路信号通路，再由第二组模拟开关电路选择输出的通路，并且该第一组模拟开关电路和第二组模拟开关电路均由智能控制模块3控制；上述短路检测调理模块5可采用线圈电路和滤波电路，由线圈电路检测MCU模块1相连的两端引脚连接产生的磁场信号，由滤波电路进行信号滤波处理；上述一级调理模块6可采用两组运算放大器电路分别对上述线圈电路两本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种MCU短路检测电路，其特征在于，该MCU短路检测电路包括：MCU模块，脉冲发生模块，智能控制模块，信号选通模块，短路检测调理模块，一级调理模块，二级调理模块，波形整理模块；所述MCU模块，用于提供待检测的MCU芯片电路；所述脉冲发生模块，用于通过脉冲发生电路产生脉冲信号；所述智能控制模块，用于输出选通控制信号和报警信号并接收所述波形整理模块输出的信号；所述信号选通模块，与所述信号选通模块、MCU模块和智能控制模块连接，用于通过所述选通控制信号触发单输入多输出模拟开关电路选择与所述MCU模块的连接状态并在MCU模块短路的地方产生磁场信号；所述短路检测调理模块，与所述MCU模块连接，用于通过线圈电路检测所述磁场信号并将检测的磁场信号进行滤波处理，用于将滤波后的磁场信号划分为第一检测信号和第二检测信号并分别传输给所述一级调理模块和二级调理模块；所述一级调理模块，与所述短路检测调理模块连接，用于将所述第一检测信号和第二检测信号通过运算放大电路进行放大调理处理并输出；所述二级调理模块，与所述一级调理模块连接，用于将所述一级调理模块输出的信号进行差分放大处理输出短路检测信号；所述波形整理模块，与所述二级调理模块和智能控制模块连接，用于对所述短路检测信号进行波形整形和整流滤波处理并输出短路信号给所述智能控制模块。2.根据权利要求1所述的一种MCU短路检测电路，其特征在于，所述MCU短路检测电路还包括报警模块；所述报警模块，用于通过所述报警信号触发报警电路进行短路报警；所述报警模块与所述智能控制模块连接。3.根据权利要求1所述的一种MCU短路检测电路，其特征在于，所述脉冲发生模块包括第十四电阻、第十五电阻、第三电源、第十一电容、第四运放、第十二电容、第三二极管、第四二极管；所述第十四电阻的一端连接第四运放的同相端并通过第十五电阻连接第三电源，第十四电阻的另一端连接第十六电阻的一端和地端，第十六电阻的另一端连接第四运放的反相端并通过第十一电容连接地端、第四运放的输出端和第十二电容的第一端，第十二电容的第二端连接第三二极管的阳极、第四二极管的阳极和所述信号选通模块，第三二极管的阳极和第四二极管的阴极均接地。4.根据权利要求3所述的一种MCU短路检测电路，其特征在于，所述信号选通模块包括第一模拟开关、第二模拟开关、第四电源和第五电源；所述MCU模块包括MCU芯片；所述第一模拟开关的第八端和第三端均连接所述第十二电容的第二端，第一模拟开关的第九端和第四端分别连接第二模拟开关的第十三端和第三端，第二模拟开关的第六端和第八端均接地，第二模拟开关的第十六端和第七端分别连接第四电源和第五电源，第二模拟开关的第一端、第二端、第四端、第五端、第十一端、第十二端、第十四端和第十五端分别连接MCU芯片的第一IO端、第二IO端、第三IO端、第四IO端、第五IO端、第六IO端、第七IO端和第八IO端，第一模拟开关的第六端和第五端与所述智能控制模块连接，...

【专利技术属性】
技术研发人员：吕向东，徐培，张峰，
申请(专利权)人：恒烁半导体合肥股份有限公司，
类型：发明
国别省市：