用于操作自动测试设备的方法和测试支持模块技术

一种用于支持在自动测试设备中测试一个或多个被测器件的测试支持模块以及相应的方法。测试支持模块包括：多个pogo引脚，适于建立与负载板的连接；以及一个或多个电气或电子支持部件，被配置为支持一个或多个被测器件的测试。一个或多个支持部件与pogo引脚电气地耦合；并且测试支持模块适于插入到pogo块框架的一个或多个pogo块位置，使得pogo引脚对齐以接触负载板。触负载板。触负载板。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于操作自动测试设备的方法和测试支持模块


[0001]根据本申请的实施例涉及在自动测试设备中测试一个或多个被测器件，具体地，涉及对这种测试的支持。
[0002]根据本专利技术的实施例涉及测试支持模块，用于支持在自动测试设备中测试一个或多个被测器件。
[0003]根据本专利技术的进一步的实施例涉及测试布置，用于测试一个或多个被测器件。
[0004]根据本专利技术的进一步的实施例涉及用于操作自动测试设备的方法。
[0005]根据一个方面，根据本专利技术的实施例可以被应用于使用pogo块(pogo block)提供一种高度可定制的、灵活的并且具有成本效益的器件测试的概念。

技术介绍

[0006]目前已知有多种测试布置，特别是使用pogo块的测试布置。
[0007]在已知的测试系统和器具中，负载板包括多个支持电子部件，这些支持电子部件包括经常使用的在负载板和引脚电子卡之间提供通信的部件。例如，在图1中显示了一种已知的解决方案。图1显示了在使用引脚电子卡时按照惯例将信号从引脚电子卡路由到负载板并从负载板返回到引脚电子卡的示意图。常规的或普通的引脚电子卡100由引脚电子板101、同轴电缆102以及pogo块103组成。信号经由同轴电缆102从引脚电子板101路由到pogo块103，再从pogo块103路由到负载板。
[0008]定制的或特定的应用解决方案需要被放置在负载板上。因此，它们被暴露在环境(热、冷测试)中，并且因为它们不能被重复使用，需要针对每个负载板对它们进行复制。因此，这些定制的解决方案有以下缺点。
[0009]首先，已知的解决方案高度依赖于特定的负载板，并且不能轻易地与任何随机的负载板(例如，来自其他制造商的负载板)一起使用。对应用和负载板的高度依赖性要求针对每个应用创建新的电路，这不是非常节省成本。
[0010]由于在已知的解决方案中，用于支持器件测试的电子部件大多被布置在测试设备的负载板上，因此负载板的空间是有限的。这也增加了由于温度影响而破坏电子部件的风险，因为负载板可能会加热或可能冷却到－50℃至170℃之间的温度，而大多数负载板部件的指定温度为85℃。
[0011]已知的概念还可能存在由于信号路径长和测试器信道资源有限而导致的信号性能差的问题。
[0012]鉴于上述情况，人们希望创建一种测试支持概念，其可以在性能、灵活性、可靠性以及测试成本之间提供一个经改善的权衡。因此，人们希望提供一种概念，其在改善性能、灵活性、可靠性以及测试成本之间的权衡方面更有效率。

技术实现思路

[0013]根据本专利技术的实施例创建了一种测试支持模块，用于支持在自动测试设备中测试
一个或多个被测器件。测试支持模块包括：多个pogo引脚(例如，弹簧负载引脚)，这些pogo引脚适于建立与负载板或探针卡的连接(该负载板或探针卡适于例如接触一个或多个被测器件)；以及一个或多个电气或电子支持部件(例如，诸如RF机械继电器、MEMS继电器、放大器、多路复用器、信号转换器等之类的一个或多个开关)，这些电气或电子支持部件被配置为支持一个或多个被测器件的测试。一个或多个支持部件与pogo引脚电气地耦合；并且测试支持模块(例如，在机械方面)适于插入pogo块框架的一个或多个pogo块位置或一个或多个pogo块方位，使得pogo引脚对齐以接触负载板。
[0014]该实施例基于以下发现：电子支持部件可以布置在单独的印刷电路板上，该印刷电路板可以与pogo块相结合以创建通用的测试支持模块，并且该测试支持模块可以安装在pogo块框架的pogo块位置或pogo块方位，并且可以经由pogo引脚耦合到负载板或探针卡。因此，自动测试设备的测试头和负载板之间的接口的其他未使用的pogo块位置中的可用空间可以用于电气或电子支持部件，这些电气或电子支持部件支持测试。该测试支持模块可以容易地被替换并与不同的负载板和/或探针卡一起使用，而与制造商无关。这个概念提供了低成本、低复杂性、高灵活性以及现场的定制。由于电子部件被放置在测试支持模块中，而不是放置在负载板中，因此节省了宝贵的负载板部件空间，并且由于部件被布置在负载板之外，因此可以保护它们免受高温影响。
[0015]根据实施例，测试支持模块经由多个pogo引脚电气地耦合到其环境，并且测试支持模块优选地不包括用于与自动测试设备的信道模块连接的任何电缆。由于移除(或省略)了电缆，电气部件被放置(或至少可以被放置)在非常接近pogo引脚的地方，这使得信号性能保持在高水平，因为避免了信号从测试器pogo到负载板中心的应用空间来回路由。另外，通过避免与自动测试设备的信道模块的电缆连接，使得测试支持模块的更换非常容易。
[0016]根据实施例，测试支持模块被配置为避免(例如，经由直接电缆)与自动测试设备的信道模块直接耦合，但被配置为仅耦合到负载板。这提高了信号质量。
[0017]根据实施例，测试支持模块仅在负载板一侧(例如，仅在布置有用于接触负载板的pogo引脚的单侧)或仅在探针卡一侧包括电气连接(例如，使用pogo引脚实现的电气连接)。因此，提供了一种在机械方面的简单的解决方案，并且可以容易地更换测试支持模块(例如，无需费力松开电缆连接)。
[0018]根据实施例，测试支持模块被配置为将单个自动测试设备信道(例如，引脚电子卡)与多个被测器件引脚耦合(例如，使得与不包括测试支持模块的测试设备相比，ATE信道的数量或引脚电子卡的数量可以减少)。这使得(有效的)测试器资源得到扩展。换句话说，通过使用测试支持模块，可以减少实际信道模块的数量，这有助于降低测试成本。
[0019]根据实施例，一个或多个电气或电子支持部件适于处于自动测试设备信道和一个或多个被测器件之间的信号路径中。因此，大大节省了测试器信道资源，这也使得成本降低。信号路径的信号可以根据需要进行处理(例如，分配、切换、放大、衰减等等)。
[0020]根据实施例，测试支持模块的一个或多个信号路径输入端和一个或多个相应的信号路径输出端耦合到pogo引脚(例如，耦合到pogo引脚，这些pogo引脚被布置成接触负载板)。提供了直接并且短的信号路径，从而提高了信号质量。
[0021]根据实施例，测试支持模块被配置为接收一个或多个控制信号，这些控制信号经由pogo引脚中的一个或多个(例如，经由被布置成接触负载板的pogo引脚)控制一个或多个
电气或电子支持部件的功能。可以由测试布置来控制电子支持部件，该测试布置提供了支持测试模块，该支持测试模块可以与任何负载板和任何测试布置一起使用。换句话说，通过使用这样的配置，控制信号可以高效地经由负载板路由到测试支持模块，从而避免任何额外布线的需要。
[0022]根据实施例，测试支持模块包括开关(例如，RF机械继电器、或MEMS继电器)。开关处于测试支持模块的信号路径输入端和测试支持模块的信号路径输出端之间的信号路径中。信号路径输入端和信号路径输出端可以例如耦合到相应的pogo引脚。开关可以(例如，可选择性地)连接以下两者本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种测试支持模块(300)，用于支持在自动测试设备中测试一个或多个被测器件，所述测试支持模块(300)包括：多个pogo引脚(301)，适于建立与负载板或探针卡的连接；一个或多个电气或电子支持部件(302)，被配置为支持所述一个或多个被测器件的测试，其中，所述一个或多个支持部件(302)与所述pogo引脚电气地耦合；其中，所述测试支持模块适于插入到pogo块框架的一个或多个pogo块位置，使得所述pogo引脚对齐以接触所述负载板或所述探针卡。2.根据权利要求1所述的测试支持模块，其中，所述测试支持模块经由所述多个pogo引脚电气地耦合到其环境。3.根据权利要求1或权利要求2所述的测试支持模块，其中，所述测试支持模块被配置为避免与所述自动测试设备的信道模块直接耦合，但被配置为仅耦合到所述负载板。4.根据权利要求1至3中任一项所述的测试支持模块，其中，所述测试支持模块仅在负载板一侧或仅在探针卡一侧包括电气连接。5.根据权利要求1至4中任一项所述的测试支持模块，其中，所述测试支持模块被配置为将单个自动测试设备信道与多个被测器件引脚耦合。6.根据权利要求1至5中任一项所述的测试支持模块，其中，所述一个或多个电气或电子支持部件适于处于自动测试设备信道和一个或多个被测器件之间的信号路径中。7.根据权利要求1至6中任一项所述的测试支持模块，其中，所述测试支持模块的一个或多个信号路径输入端和一个或多个相应的信号路径输出端耦合到所述pogo引脚。8.根据权利要求1至7中任一项所述的测试支持模块，其中，所述测试支持模块被配置为接收一个或多个控制信号，所述信号经由所述pogo引脚中的一个或多个控制一个或多个所述电气或电子支持部件的功能。9.根据权利要求1至8中任一项所述的测试支持模块，其中，所述测试支持模块包括开关，其中，所述开关处于所述测试支持模块的信号路径输入端和所述测试支持模块的信号路径输出端之间的信号路径中。10.根据权利要求1至9中任一项所述的测试支持模块，其中，所述测试支持模块包括多路复用器，其中，所述多路复用器处于所述测试支持模块的信号路径输入端和所述测试支持模块的信号路径输出端之间的信号路径中。11.根据权利要求1至11中任一项所述的测试支持模块，其中，所述测试支持模块包括信号分配器，其中，所述信号分配器处于所述测试支持模块的信号路径输入端和所述测试支持模块的多个信号路径输出端之间的信号路径中，并且适于同时将从所述测试支持模块的信号路
径输入端接收的信号分配给所述测试支持模块的多个信号路径输出端。12.根据权利要求1至11中任一项所述的测试支持模块，其中，所述测试支持模块包括信号调节器，其中，所述信号调节器处于所述测试支持模块的信号路径输入端和所述测试支持模块的信号路径输出端之间的信号路径中，并且适于操纵从所述测试支持模块的所述信号路径输入端接收的信号。13.根据权利要求1至12中任一项所述的测试支持模块，其中，所述测试支持模块包括协议转换器，其中，所述信号协议转换器处于所述测试支持模块的第一信号路径端口和所述测试支持模块的第二信号路径端口之间的信号路径中，并且适于执行协议转换。14.根据权利要求1至13中任一项所述的测试支持模块，其中，所述测试支持模块适于插入到pogo块框架的多个pogo块位置，使得所述pogo引脚对齐，以接触所述负载板或所述探针卡。15.根据权利要求1至14中任一项所述的测试支持模块，其中，所述测试支持模块包括一个或多个印刷电路板，所述印刷电路板与所述pogo引脚的轴线平行，其中，所述一个或多个电气或电子支持部件被布置在所述一个或多个印刷电路板上。16.根据权利要求1至15中任一项所述的测试支持模块，其中，所述测试支持模块包括壳体，其中，所述壳体在适于面向所述负载板或所述探针卡的一侧上包括多个孔，所述pogo引脚延伸穿过所述孔，所述壳体还包括安装结构，所述安装结构用于将所述测试支持模块安装在pogo块框架的pogo块位置，并且，其中，所述一个或多个电气或电子测试支持部件被布置在印刷电路板上，所述印刷电路板被放置在所述箱内。17.一种测试布置(1000)，用于测试一个或多个被测器件，其中，所述测试布置(1000)包括pogo块框架(1001)，所述pogo块框架(1001)包括多个pogo块位置，其中，一个或多个pogo块(1003)包括pogo引脚和电缆，所述引脚和电缆用于与所述测试布置的一个或多个信道模块建立连接，所述pogo块被布置在所述pogo块位置的一个或多个中；并且，其中，根据权利要求1至16中任一项所述的一个或多个测试支持模块(1002)被布置在所述pogo块位置的一个或多个中，其中，所述一个或多个pogo块(1003)的pogo引脚和所述一个或多个测试支持模块(1002)的pogo引脚被布置成接触负载板。18.根据权利要求17所述的测试布置，其中，所述测试布置还包括负载板，其中，所述一个或多个pogo块的所述pogo引脚接触所述负载板，并且，其中，所述一个或多个测试支持模块的所述pogo引脚接触所述负载板。19.根据权利要求17或权利要求18所述的测试布置，
其中，所述测试布置包括信号路径，所述信号路径从所述负载板延伸到所述测试支持模块中的一者，并返回到所述负载板。20.根据权利要求17至19中任一项所述的测试布置，其中，所述测试布置包括经由所述测试支持模块延伸的信号路径。21.根据权利要求17至20中任一项所述的测试布置，其中，所述测试布置的信号路径从信道模块经由电缆延伸到所述pogo块中给定的一个pogo块，从所述pogo块中给定的一个pogo块经由所述pogo块中给定的一个pogo块的pogo引脚延伸到所述负载板的第一pogo垫，从所述负载板的第一pogo垫延伸到所述负载板的第二pogo垫，从所述负载板的所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：马蒂亚斯，
申请(专利权)人：爱德万测试公司，
类型：发明
国别省市：