一种IGBT器件动态特性参数提取方法、存储介质及电子设备技术

本发明专利技术实施例提供一种IGBT器件动态特性参数提取方法、存储介质及电子设备。所述方法，包括：选择并遍历目标文件夹，获取双脉冲测试波形文件数量；读取一双脉冲测试波形文件；识别所述双脉冲测试波形文件中不同测试通道所测试的物理量；基于识别的物理量，识别所述双脉冲测试波形文件中IGBT器件的开关过程；基于识别的物理量及开关过程，提取IGBT器件的动态特性参数并计算开关损耗；若所述双脉冲测试波形文件是所述目标文件夹中最后一个双脉冲测试波形文件，则停止读取；否则继续执行所述读取一双脉冲测试波形文件的步骤。本发明专利技术改善了原始的人工卡点读数方法，批量进行双脉冲测试波形文件的处理及IGBT器件动态特性参数的提取，极大提升了工作效率。极大提升了工作效率。极大提升了工作效率。

【技术实现步骤摘要】
一种IGBT器件动态特性参数提取方法、存储介质及电子设备


[0001]本专利技术涉及IGBT
，尤其涉及一种IGBT器件动态特性参数提取方法、存储介质及电子设备。

技术介绍

[0002]IGBT(绝缘栅双极性晶体管，Isolated Gate Bipolar Transistor)器件的动态特性是其应用过程中的重要指标，不仅涉及到IGBT器件的安全工作区，也包括了IGBT器件在当前工况下的损耗情况等，目前常用的动态特性测量方法为双脉冲测试，通过该方法能测得IGBT器件开关过程波形，在此基础上即可通过人工卡点读取IGBT器件的开关速度、开关损耗以及二极管反向恢复参数等，但随着IGBT器件应用要求的进一步提高(如需要测得损耗关于电流的变化趋势等)，测试波形数目不断增加，需要读取的IGBT器件参数也更加细致，采用原有的人工读数方法无法高效的完成测试波形的处理，此外，测试过程中的外部干扰以及探头自身的测试噪声也会对最后的参数提取结果产生一定影响。
[0003]IGBT器件的动态特性是IGBT器件应用的重要技术指标，例如安全工作区(RBSO本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种IGBT器件动态特性参数提取方法，其特征在于，包括：选择并遍历目标文件夹，获取双脉冲测试波形文件数量；读取一双脉冲测试波形文件；识别所述双脉冲测试波形文件中不同测试通道所测试的物理量；基于识别的物理量，识别所述双脉冲测试波形文件中IGBT器件的开关过程；基于识别的物理量及开关过程，提取IGBT器件的动态特性参数并计算开关损耗；若所述双脉冲测试波形文件是所述目标文件夹中最后一个双脉冲测试波形文件，则停止读取；否则继续执行所述读取一双脉冲测试波形文件的步骤。2.根据权利要求1所述的IGBT器件动态特性参数提取方法，其特征在于，所述识别所述双脉冲测试波形文件中不同测试通道所测试的物理量之前，还包括：对所述双脉冲测试波形文件进行平滑滤波处理。3.根据权利要求2所述的IGBT器件动态特性参数提取方法，其特征在于，所述对所述双脉冲测试波形文件进行平滑滤波处理，包括：对所述双脉冲测试波形文件进行预设次数的均值滤波处理，以在保持双脉冲测试波形原始形态的情况下过滤掉干扰信号。4.根据权利要求1所述的IGBT器件动态特性参数提取方法，其特征在于，所述基于识别的物理量及开关过程，提取IGBT器件的动态特性参数并计算开关损耗之前，还包括：对所述双脉冲测试波形文件进行数据校准。5.根据权利要求4所述的IGBT器件动态特性参数提取方法，其特征在于，所述对所述双脉冲测试波形文件进行数据校准，包括：基于识别的开关过程的测试数据减去探头在零点区域的平均值，获得校准后开关过程的测试数据。6.根据权利要求1所述的IGBT器件动态特性参数提取方法，其特征在于，所述基于识别的物理量及开关过程，提取IGBT器件的动态特性参数并计算开关损耗，包括：根据识别的物理量及开关过程，按照动态特性参数的定义计算动态特性参数...

【专利技术属性】
技术研发人员：张荣，谢舜蒙，田伟，刘杰，荣春晖，谭一帆，
申请(专利权)人：中车株洲电力机车研究所有限公司，
类型：发明
国别省市：