一种一体式尺寸偏差检查工装制造技术

技术编号:36763614 阅读:15 留言:0更新日期:2023-03-04 11:02
本实用新型专利技术涉及尺寸检验技术领域,公开了一种一体式尺寸偏差检查工装,包括支承机构、定位机构和测量机构;支承机构包括支承杆;定位机构包括横向定位件、纵向定位件和竖向定位件;测量机构包括测量针组件;测量针组件为单针测量针或双针测量针;竖向定位件套设于支承杆上;横向定位件的一端与竖向定位件连接,另一端设有横向定位辅助板;纵向定位件的一端与竖向定位件连接,另一端设有纵向定位辅助板;横向定位件上还设有测量定位部,测量定位部上开设有限位测量针的定位孔,测量针穿过定位孔。本发明专利技术能够高效完成对批量生产的大中型组件的配件定位和形位偏差是否满足使用要求的检查,结构简洁,检查高效可靠,结果直观。结果直观。结果直观。

【技术实现步骤摘要】
一种一体式尺寸偏差检查工装


[0001]本技术涉及尺寸检验
,具体涉及一种一体式尺寸偏差检查工装。

技术介绍

[0002]在大中型组件的批量装配生产过程中,为避免发生批量质量问题,装配完成后需对配件的定位和形位的尺寸偏差是否满足使用要求的公差进行抽检。通常的检查过程为:将组件吊运到划线平台上,将组件调平并进行找正,然后采用游标卡尺、卷尺、塞尺、万能角度尺等常规量具测量,部分特殊尺寸还需借助一些自制检查工装来进行测量和计算,进而逐一检查定位和形位的尺寸偏差是否处于满足使用要求的公差范围内。
[0003]在实际生产过程中,由于大中型组件重量较大,且在检查时检查的尺寸偏差类型不一(包括长度,角度,垂直度等),这使得对组件的前期调平和找正操作以及后续尺寸的读数操作比较缓慢,再加上尺寸检查受组件复杂外形和常规量具检查条件的限制,常常不能一次调平和找正就检查完所有尺寸,需对组件进行翻转后再检查剩余尺寸。故而,目前针对大中型组件的装配尺寸检查,通常会伴有劳动强度较大、耗费时间较长、检查效率低的问题。

技术实现思路

>[0004]本技术本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种一体式尺寸偏差检查工装,其特征在于,包括支承机构、定位机构和测量机构;所述支承机构包括支承杆;所述定位机构包括横向定位件、纵向定位件和竖向定位件;所述测量机构包括测量针组件;所述测量针组件为单针测量针或双针测量针;所述竖向定位件套设于支承杆上;横向定位件的一端与竖向定位件连接,另一端设有用于定位的横向定位辅助板;纵向定位件的一端与竖向定位件连接,另一端设有用于定位的纵向定位辅助板;所述横向定位件上还设有测量定位部,测量定位部上开设有限位测量针的定位孔,测量针穿过定位孔;所述定位孔包括设于测量定位部中心的单针定位孔和设于中心定位孔周边的两组双针定位孔;单组双针定位孔包括中心距与双针测量针中心距相等的两个孔。2.根据权利要求1所述的一种一体式尺寸偏差检查工装,其特征在于,所述测量针组件为单针测量针;所述测量机构还包括测试块;所述测试块设于单针定位孔上方;测试块中心设有与单针测量针相匹配的限位孔。3.根据权利要求2所述的一种一体式尺寸偏差检查工装,其特征在于,所述测量机构还包括测量辅助块;所述测量辅助块中心处设有用于定位测量针的顶针孔,测量辅助块与待测件待测孔的形状尺寸相匹配;且单针测量针的针体长度=测试块的厚度+测量定位部距离顶针孔的Z向最大理论值。4.根据权利要求1所述的一种一体式尺寸...

【专利技术属性】
技术研发人员:叶洪明黄金亮牟守信
申请(专利权)人:重庆长征重工有限责任公司
类型:新型
国别省市:

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