集成元器件型号分析与提取算法的封装参数检查方法技术

本发明专利技术涉及集成元器件型号分析与提取算法的封装参数检查方法，属于电子设计领域。该方法包括：在提取元器件封装参数的业务过程中，将公司级元器件按照数据对象的方式进行分析，依据数据重要等级和访问形式的不同，将该元器件区分为快捷元件和经典元件；基于电子电路技术的行业经验、硬件设计方法，定义元件识别算法、元件提取算法；元件识别算法用于提取快捷元件的标识字段，标识字段反映了源自不同供应商、不同供应商产品族的可归一化的封装参数；元件提取算法用于将标识字段映射到该封装参数模型库；其中，对于快捷元件，采用元件识别算法；对于经典元件，采用查表比较法。采用查表比较法。采用查表比较法。

【技术实现步骤摘要】
集成元器件型号分析与提取算法的封装参数检查方法


[0001]本专利技术涉及集成元器件型号分析与提取算法的封装参数检查方法，属于电子设计领域。

技术介绍

[0002]自二十世纪60年代以来，电子设计CAD技术蓬勃发展，涌现出大量服务于印制电路板设计业务的工具化原理和方法。元件器封装参数是连接印制电路板设计与制造的关键数据。封装参数出错，可能造成该元件无法可靠焊接在印制板对应点位上，导致整个批次的印制板报废；即使焊接成功，也可能在印制板装配环节、上电调试环节出现异常，导致系统级的安全问题、质量风险，以及难以评估的成本损失。为此，传统CAD技术考虑为元件器封装建立管理数据库。这样，设计印制板时引用该数据库，便于投板前比对，确保元件器型号、封装信息的映射关系正确，规避风险。
[0003]但是，这种传统检查元器件封装的方法有以下缺陷：
[0004]其一，需要先建立一个具有一定容量的数据库，且随着开发团队新项目的不断开展，或电路板类型丰富化，封装数量基本随着元器件选型数量线性递增，那么该数据库建立和维护成本也较高。/>[0005]其二本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成元器件型号分析与提取算法的封装参数检查方法，其特征在于，包括：在提取元器件封装参数的业务过程中，将公司级元器件按照数据对象的方式进行分析，依据数据重要等级和访问形式的不同，将该元器件区分为快捷元件和经典元件；基于电子电路技术的行业经验、硬件设计方法，定义元件识别算法、元件提取算法；元件识别算法用于提取快捷元件的标识字段，标识字段反映所归属的不同供应商、不同供应商产品族的共性信息；元件提取算法用于将标识字段映射到该快捷元件的封装参数模型库；其中，对于快捷元件，采用元件识别算法；对于经典元件，采用查表比较法。此外，对快捷元件和经典元件的检查错误码做出拆分。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，快捷元件为种类多、容易识别型号、容易从型号提取封装、非关键数据访问的元件；种类多的元件为在某一电子电路设计领域，元器件清单占百分之六十以上的元器件；容易识别型号的元件为在该电子电路设计领域，供应商提供的该类元件标识字段不超过15个字符的元器件；容易从型号提取封装的元件为从供应商的规格书当中型号标识字段与封装参数描述一一映射的元器件；非关键数据访问的元件为在提取元器件封装参数的业务过程中，不会造成业务出现重大错误导致线路板报废的元件；经典元件为种类少、不易识别型号、不易从型号提取封装、关键数据访问的元件。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，对于数字电路，快捷元件主要为阻容元件；对于射频模拟电路，快捷元件主要为放大器、阻容元件。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于电子电路技术的行业经验、硬件设计方法，定义元件识别算法、元件提取算法，包括：首先获取快捷元件的供应商清单，分析每个供应商的每个产品族的规格书；对于上述任一供应商的任一产品族，得到该快捷元件的型号描述；提取快捷...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨明，韦清瀚，刘健勇，赵建龙，
申请(专利权)人：天津航空机电有限公司，
类型：发明
国别省市：