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本发明涉及集成元器件型号分析与提取算法的封装参数检查方法，属于电子设计领域。该方法包括：在提取元器件封装参数的业务过程中，将公司级元器件按照数据对象的方式进行分析，依据数据重要等级和访问形式的不同，将该元器件区分为快捷元件和经典元件；基于电...
该专利属于天津航空机电有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过天津航空机电有限公司授权不得商用。

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