用于存储器装置的预读取扫描的系统和方法制造方法及图纸

本申请针对用于存储器装置的预读取扫描的系统和方法。方法和系统包含具有包括多个存储器单元的存储器阵列的存储器装置。所述存储器装置包含控制电路，其以操作方式耦合到所述存储器阵列且被配置成接收针对数据的读取请求，并基于所述读取请求将多个读取电压施加到所述存储器阵列。所述控制电路进一步被配置成执行基于所述多个读取电压的所述施加读取的第一数据集的数据分析，且基于所述数据分析导出分界偏置电压VDM。所述控制电路还被配置成将所述VDM施加到所述存储器阵列以读取第二数据集合。据集合。据集合。

【技术实现步骤摘要】
用于存储器装置的预读取扫描的系统和方法


[0001]本申请涉及存储器装置，且特定来说涉及用于存储器装置的预读取扫描的系统和方法。

技术介绍

[0002]本章节旨在向读者介绍可能与以下描述和/或要求保护的本专利技术技术的各个方面相关的技术的各个方面。此论述被认为有助于向读者提供背景信息以便于更好地理解本公开的各个方面。因此，应理解，这些陈述应鉴于此来阅读，而不是作为对现有技术的认可。
[0003]一般来说，计算系统包含处理电路系统，例如一或多个处理器或其它合适的组件；以及存储器装置，例如芯片或集成电路。一或多个存储器装置可在例如双列直插式存储器模块(DIMM)等存储器模块上使用以存储处理电路系统可访问的数据。举例来说，基于到计算系统的用户输入，处理电路系统可请求存储器模块检索与来自其存储器装置的用户输入对应的数据。在一些例子中，检索到的数据可包含固件，或可由处理电路系统执行以执行操作的指令，和/或可包含待用作所述操作的输入的数据。另外，在一些情况下，从所述操作输出的数据可存储在存储器中，例如使得能够后续从所述存储器检索所述数据。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储器装置，其包括：存储器阵列，其包括多个存储器单元；控制电路，其以操作方式耦合到所述存储器阵列，所述控制电路被配置成：接收对数据的读取请求；基于所述读取请求将多个读取电压施加到所述存储器阵列；执行基于所述多个读取电压的所述施加而读取的第一数据集的数据分析；基于所述数据分析导出分界偏置电压VDM；以及将所述VDM施加到所述存储器阵列以读取第二数据集合。2.根据权利要求1所述的存储器装置，其中所述控制电路被配置成将所述多个读取电压并行地施加到所述存储器阵列。3.根据权利要求2所述的存储器装置，其中所述控制电路被配置成使用包含在所述存储器阵列中的多个分区来将所述多个读取电压并行地施加到所述存储器阵列。4.根据权利要求1所述的存储器装置，其中所述多个读取电压中的每一读取电压值彼此不同。5.根据权利要求1所述的存储器装置，其中所述数据分析包括导出经由所述多个读取电压中的每一读取电压读取的数据的数据分布。6.根据权利要求5所述的存储器装置，其中所述数据分布包括所述数据中发现的逻辑1的百分比。7.根据权利要求1所述的存储器装置，其中所述控制电路被配置成通过选择落在所要范围内的数据分布来导出所述VDM。8.根据权利要求1所述的存储器装置，其中所述所要范围介于所述数据中发现的逻辑1的35％和65％之间。9.根据权利要求1所述的存储器装置，其中所述数据分析包括蒙特卡罗分析、概率分布分析或其组合。10.根据权利要求1所述的存储器装置，其中所述控制电路被配置成通过使用所述VDM从包含在所述存储器阵列中的多个分区读取所述第二数据集来施加所述VDM。11.一种方法，其包括：在存储器装置中包含的控制电路处接收对数据的读取请求；基于所述读取请求将预扫描读取发射到所述存储器阵列；执行基于所述预扫描读取的所述发射...

【专利技术属性】
技术研发人员：K，
申请(专利权)人：美光科技公司，
类型：发明
国别省市：