芯片装载结构、分析装置及分析系统制造方法及图纸

技术编号:36736773 阅读:15 留言:0更新日期:2023-03-04 10:08
一种芯片装载结构(2)、分析装置(100)及分析系统(300),该芯片装载结构(2)包括装载板体(21),装载板体(21)的内部具有用于容纳检测芯片(1)的容置空间;装载板体(21)的第一板面(2a)上设置有贯通至容置空间的第一镂空区(23)和至少一个第二镂空区(24),其中,第一镂空区(23)用于暴露检测芯片(1)的反应观测区(24);至少一个第二镂空区(24)用于暴露检测芯片(1)的至少一个试剂端口;装载板体(21)上还设置有连接部(27),连接部(27)能够采用可拆卸地方式与分析装置(100)中的用于运送装载板体(21)的输运部(110)连接。(21)的输运部(110)连接。(21)的输运部(110)连接。(21)的输运部(110)连接。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员:侯孟军马相国耿凯吴琼王友学刘宗民
申请(专利权)人:北京京东方技术开发有限公司
类型:发明
国别省市:

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