【技术实现步骤摘要】
一种埋容埋阻基板测试插座
[0001]本技术涉及半导体集成电路
,尤其涉及一种埋容埋阻基板测试插座。
技术介绍
[0002]挠性埋容埋阻基板测试需要确保测试时基板的平整度,并保证基板相对于测试插座的定位(该基板整体是挠性的,触点小且密集),快速且准确的检测电容电阻等的参数。
[0003]传统的测试方式需要测试人员手动用电桥的两极去接触待测元器件的两个极点,从而测出参数。埋容埋阻基板薄且是可弯曲的挠性体,整体面积大,触点很小且分布密集,正反面都有触点。对于传统测试方式而言存在以下两点缺陷,一是埋容埋阻基板的测试触点非常小,电桥表笔难以定位;二是埋容埋阻的测试触点分布在基板两侧,人工测量难以同时接触对准。
[0004]因此,需要设计一种埋容埋阻基板测试插座来解决上述问题。
技术实现思路
[0005]为克服上述缺点,本技术的目的在于提供一种埋容埋阻基板测试插座,使埋容埋阻基板检测时定位准确,保证触点良好接触,提高检测数据的准确性,同时也适用于相近尺寸的不同埋容埋阻基板检测使用。
[0006 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种埋容埋阻基板测试插座,其特征在于:包括翻盖组件(1)、用于固定埋容埋阻基板(8)的基板固定组件(7)、下探针组件(9)、基座PCB(10)以及底座(11);所述翻盖组件(1)包括移动压板(104),所述移动压板(104)下表面依次设置有盖板PCB(3)以及上探针组件(4),所述基板固定组件(7)、下探针组件(9)、基座PCB(10)以及底座(11)按照自上而下的顺序依次锁紧连接,盖合时,所述埋容埋阻基板(8)上表面触点通过上探针组件(4)与盖板PCB(3)相导通,下表面触点通过下探针组件(9)与基座PCB(10)相导通。2.根据权利要求1所述的一种埋容埋阻基板测试插座,其特征在于:所述翻盖组件(1)还包括翻盖本体(101)以及旋转测试机构(103),所述移动压板(104)通过若干导向螺钉(105)与翻盖本体(101)活动连接,所述旋转测试机构(103)包括与所述翻盖本体(101)上表面螺纹连接的旋钮(1031),转动所述旋钮(1031)时,所述旋钮(1031)底部能推动移动压板(104),使其沿导向螺钉(105)向远离翻盖本体(101)的方向移动。3.根据权利要求2所述的一种埋容埋阻基板测试插座,其特征在于:所述翻盖本体(101)一端通过铰接件(2)与下探针组件(9)边沿可翻转连接,另一端设置有一夹紧机构(102),所述夹紧机构(102)包括与翻盖本体(101)相铰接的翻盖夹(1021),所述翻盖夹(1021)上与下探针组件(9...
【专利技术属性】
技术研发人员:饶桐,侯燕兵,王强,贺涛,金永斌,丁宁,朱伟,
申请(专利权)人:法特迪精密科技苏州有限公司,
类型:新型
国别省市:
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