一种用于测试CMOS集成电路的功耗电容的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及测试装置技术领域，且公开了一种用于测试CMOS集成电路的功耗电容的装置，包括工作台，所述工作台顶端的两侧均活动连接有夹持结构，所述工作台的底端活动连接有散热结构，所述夹持结构包括固定杆，所述固定杆固定连接于工作台顶端的两侧，所述固定杆的外部套设有活动块，所述活动块的一侧固定连接有按压板。该用于测试CMOS集成电路的功耗电容的装置，通过活动块、按压板和橡胶垫的相互配合能够起到对集成电路板进行位置限制的作用，通过橡胶垫能够起到防滑的作用，通过限位弹簧的弹力能够更好的对电路板进行按压夹持，通过橡胶垫能够在防滑的同时进行保护，避免在按压时对电路板造成磨损，增加使用时的适用性。增加使用时的适用性。增加使用时的适用性。

【技术实现步骤摘要】
一种用于测试CMOS集成电路的功耗电容的装置


[0001]本技术涉及测试装置
，具体为一种用于测试CMOS集成电路的功耗电容的装置。

技术介绍

[0002]高速CMOS集成电路具有速度快、功耗低、抗干扰能力强、电源电压低等优点，被广泛应用于科技领域、通信、太空探索等诸多领域。但这些产品在一定的环境中使用时，会受到电离辐射的影响，出现电参数漂移、功耗变大、功能失效等一系列问题，为了避免这些问题，需提前对产品做这一方面的评估试验，包括其高低温静态参数、动态参数、输入电容、功耗电容、输入漏电等。
[0003]在进行功耗电容的数据测量时，需要将2
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N管脚的双列直插封装插座，用于安插待测试CMOS集成电路，然后将电路板与测试装置之间进行连接，从而得到具体的检测数据，保证产品的质量。
[0004]但是传统的测试装置在使用时不便于快速将集成电路进行位置上的限制，造成集成电路整体使用时适用性较低，影响集成电路数据测量时的准确性。

技术实现思路

[0005](一)解决的技术问题
[0006]针对现有技术的不足，本技术提供了一种用于测试CMOS集成电路的功耗电容的装置，具备便于固定等优点，解决了上述
技术介绍
中的问题。
[0007](二)技术方案
[0008]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种用于测试CMOS集成电路的功耗电容的装置，包括工作台，所述工作台顶端的两侧均活动连接有夹持结构，所述工作台的底端活动连接有散热结构。
[0009]所述夹持结构包括固定杆，所述固定杆固定连接于工作台顶端的两侧，所述固定杆的外部套设有活动块，所述活动块的一侧固定连接有按压板，通过活动块、按压板和橡胶垫的相互配合能够起到对集成电路板进行位置限制的作用。
[0010]优选的，所述按压板的底端固定连接有橡胶垫，且橡胶垫的底端与工作台的顶端相贴合，通过橡胶垫能够起到防滑的作用，保证整体使用时的适用性。
[0011]优选的，所述活动块的底端固定连接有限位弹簧，且限位弹簧与工作台之间呈焊接一体化结构，且限位弹簧缠绕于固定杆的外部，通过限位弹簧的弹力能够更好的对电路板进行按压夹持。
[0012]优选的，所述橡胶垫设置于工作台顶端两侧的中间位置处，且橡胶垫关于工作台竖直方向的中轴线对称分布，通过橡胶垫能够在防滑的同时进行保护。
[0013]优选的，所述散热结构包括散热盒，所述散热盒活动连接于工作台的底端，且散热盒的内部活动连接有传热板，且散热盒的一端活动连接有风机，通过风机能够对导热杆和
进行吹风，从而将热量散出，保证整体使用时的适用性，减少工作台自身因温度对下一个待检测的电路板造成的影响。
[0014]优选的，所述传热板的一端活动连接有传热杆，且传热杆的两侧均固定连接有导热杆，热量通过工作台传递至传热板，传热板能够将热量再传递至导热杆和传热杆，从而增加散热面积。
[0015]优选的，所述导热杆关于传热杆竖直方向的中轴线对称分布，且导热杆与传热杆之间夹角为四十五度，通过导热杆能够更好的进行散热，增加整体使用时的适用性。
[0016]有益效果
[0017]与现有技术相比，本技术提供了一种用于测试CMOS集成电路的功耗电容的装置，具备以下有益效果：
[0018]1、该用于测试CMOS集成电路的功耗电容的装置，通过活动块、按压板和橡胶垫的相互配合能够起到对集成电路板进行位置限制的作用，通过橡胶垫能够起到防滑的作用，保证整体使用时的适用性，通过限位弹簧的弹力能够更好的对电路板进行按压夹持，保证整体使用时的适用性。
[0019]2、该用于测试CMOS集成电路的功耗电容的装置，热量通过工作台传递至传热板，传热板能够将热量再传递至导热杆和传热杆，从而增加散热面积，同时通过风机能够对导热杆和进行吹风，从而将热量散出，保证整体使用时的适用性，减少工作台自身因温度对下一个待检测的电路板造成的影响，增加整体使用时的适用性。
附图说明
[0020]图1为本技术正视剖视结构示意图；
[0021]图2为本技术俯视结构示意图；
[0022]图3为本技术正视结构示意图；
[0023]图4为本技术夹持结构的立体结构示意图；
[0024]图5为本技术图1中A处放大结构示意图。
[0025]图中：1、散热结构；101、散热盒；102、导热杆；103、传热杆；104、传热板；105、风机；2、工作台；3、夹持结构；301、按压板；302、固定杆；303、活动块；304、橡胶垫；305、限位弹簧。
具体实施方式
[0026]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0027]实施例1
[0028]本技术所提供的用于测试CMOS集成电路的功耗电容的装置的较佳实施例如图1至图5所示：一种用于测试CMOS集成电路的功耗电容的装置，包括工作台2，工作台2顶端的两侧均活动连接有夹持结构3，工作台2的底端活动连接有散热结构1。
[0029]夹持结构3包括固定杆302，固定杆302固定连接于工作台2顶端的两侧，固定杆302的外部套设有活动块303，活动块303的一侧固定连接有按压板301，通过活动块303、按压板
301和橡胶垫304的相互配合能够起到对集成电路板进行位置限制的作用。
[0030]本实施例中，按压板301的底端固定连接有橡胶垫304，且橡胶垫304的底端与工作台2的顶端相贴合，通过橡胶垫304能够起到防滑的作用，保证整体使用时的适用性。
[0031]进一步的，活动块303的底端固定连接有限位弹簧305，且限位弹簧305与工作台2之间呈焊接一体化结构，且限位弹簧305缠绕于固定杆302的外部，通过限位弹簧305的弹力能够更好的对电路板进行按压夹持，保证整体使用时的适用性。
[0032]更进一步的，橡胶垫304设置于工作台2顶端两侧的中间位置处，且橡胶垫304关于工作台2竖直方向的中轴线对称分布，通过橡胶垫304能够在防滑的同时进行保护，增加整体使用时的适用性。
[0033]实施例2
[0034]在实施例1的基础上，本技术所提供的用于测试CMOS集成电路的功耗电容的装置的较佳实施例如图1至图5所示：散热结构1包括散热盒101，散热盒101活动连接于工作台2的底端，且散热盒101的内部活动连接有传热板104，且散热盒101的一端活动连接有风机105，通过风机105能够对导热杆102和13进行吹风，从而将热量散出，保证整体使用时的适用性，减少工作台2自身因温度对下一个待检测的电路板造成的影响，增加整体使用时的适用性。
[0035]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于测试CMOS集成电路的功耗电容的装置，包括工作台(2)，其特征在于：所述工作台(2)顶端的两侧均活动连接有夹持结构(3)，所述工作台(2)的底端活动连接有散热结构(1)；所述夹持结构(3)包括固定杆(302)，所述固定杆(302)固定连接于工作台(2)顶端的两侧，所述固定杆(302)的外部套设有活动块(303)，所述活动块(303)的一侧固定连接有按压板(301)。2.根据权利要求1所述的一种用于测试CMOS集成电路的功耗电容的装置，其特征在于：所述按压板(301)的底端固定连接有橡胶垫(304)，且橡胶垫(304)的底端与工作台(2)的顶端相贴合。3.根据权利要求2所述的一种用于测试CMOS集成电路的功耗电容的装置，其特征在于：所述活动块(303)的底端固定连接有限位弹簧(305)，且限位弹簧(305)与工作台(2)之间呈焊接一体化结构，且限位弹簧(305)缠绕于固定杆(302)的外部。4.根据权利要求3所述的一种用于测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：魏盘生，
申请(专利权)人：上海灏谷集成电路技术有限公司，
类型：新型
国别省市：