一种聚合式测角电路对比测试系统，包括高精度回转工作机、回转测试接驳器、测角信号接驳电路、对比反馈数据处理单元及主控制机；所述高精度回转工作机同时输出待测试测角信号和标准测角信号；所述回转测试接驳器连接高精度回转工作机与待测试测角器件，同时将待测试测角信号输入至测角信号接驳电路；所述测角信号接驳电路接收并处理待测试测角信号，同时向对比反馈数据处理单元输出处理后的实时测角信号；所述对比反馈数据处理单元接收标准测角信号和实时测角信号进行对比处理，并对主控制机进行指令控制；所述主控制机接收高精度回转工作机的工作状态和对比反馈数据处理单元输入指令信息。本发明专利技术具有测试简单、兼容性强、模块化程度高的特点。化程度高的特点。化程度高的特点。
【技术实现步骤摘要】
一种聚合式测角电路对比测试系统
[0001]本专利技术涉及一种聚合式测角电路对比测试系统。
技术介绍
[0002]高精度回转设备实际工作过程中，由于采用的测角器件纷杂不一，且精度情况无法进行实时测试，需要借助复杂的检测装置，如光学检测仪器等。而在大批量生产及特殊条件下工作的测角系统，其测角测试时间较长，精度控制上无法做到统一，易引入较多人为误差。同时，测角系统测试电路及外围设备多为定制内容，对设计成本及可靠性提出了更高的要求。现有的回转设备测试装置多为临时搭建的测试环境，该测试方法能满足个体测试需要，但无法满足多变的测角器件类型及测试环境需要，特别是对于批量测试要求无法做到高效测试，其精度也无法保证；也有组合式的测角测试系统，但其复杂的信号接入系统对设计及实际测试造成一定干扰，且没有对应的对比反馈处理机制，无法进行在线校准工作。
技术实现思路
[0003]本专利技术其目的就在于提供一种聚合式测角电路对比测试系统，解决了现有的回转设备测角电路测试性较为复杂，兼容性不强，重复工作内容较多，模块化程度不高的问题。
[0004]为实现上述目的而采取的技术方案是，一种聚合式测角电路对比测试系统，包括高精度回转工作机、回转测试接驳器、测角信号接驳电路、对比反馈数据处理单元及主控制机；所述高精度回转工作机同时输出待测试测角信号和标准测角信号；所述回转测试接驳器连接高精度回转工作机与待测试测角器件，同时将高精度回转工作机输出的待测试测角信号输入至测角信号接驳电路；所述测角信号接驳电路接收并处理待测试测角信号，同时向对比反馈数据处理单元输出处理后的实时测角信号；所述对比反馈数据处理单元接收标准测角信号和实时测角信号进行对比测试分析处理，并对主控制机进行指令控制；所述主控制机实时接收高精度回转工作机的工作状态和对比反馈数据处理单元输入的指令信息。
[0005]进一步，所述测角信号接驳电路包括测角信号接入模块、信号聚合处理模块、测角反馈输出模块；所述测角信号接入模块接收待测试测角信号，经过信号聚合处理模块进行处理后，通过测角反馈输出模块输出至对比反馈数据处理单元。
[0006]进一步，所述对比反馈数据处理单元包括高精度回转工作机测角校准数据库模块、标准测角修正模块、预存储与实时对比模块以及对比反馈处理算法模块；所述对比反馈数据处理单元接收的标准测角信号与高精度回转工作机测角校准数据库模块进行校准计算，通过标准测角修正模块输出标准测角修正数据，同时执行预存储与实时对比模块进行预存储与实时对比，最后对比反馈处理算法模块结合实时测角信号进行对比反馈处理算法处理，处理后的数据输入主控制机进行指令控制。
[0007]进一步，所述高精度回转工作机包含独立的工作机驱动组件和工作机测角组件，并配置在线校准接口；所述回转测试接驳器配置标准化待测测角系统连接件，回转测试接驳器连接高精度回转工作机与待测试测角器件形成联动式驱动系统，同时对测角信号接驳
电路输入待测试测角信号。
[0008]进一步，所述测角信号接驳电路预留有多种测角系统标准定义接口，同时对对比反馈数据处理单元输出经过采样处理的实时测角信号。
[0009]进一步，所述对比反馈数据处理单元以模块化形式接收经过测角信号接驳电路初步采样处理的实时测角信号，进行标准接口类别的测角解算。
[0010]进一步，所述对比反馈数据处理单元同时接收高精度回转工作机发出的标准测角信号，并与实时测角信号进行数据比对。
[0011]进一步，所述主控制机接收反馈数据处理单元发出的原始测试数据及比对数据，计算处理测试的测角系统精度及响应情况。
[0012]有益效果与现有技术相比本专利技术具有以下优点。
[0013]1.本专利技术所述高精度回转工作机包含的独立测角及驱动组件能够隔离开标准测试对比源的影响，其标准在线校准接口能够实现多种测角系统的一键式配置；2.本专利技术所述回转测试接驳器配置的标准化待测测角系统连接件，实现了个性化测角器件测试快速对接要求；3.本专利技术所述测角信号接驳电路预留的多种测角系统标准定义接口，实现了多种测角系统聚合式的输入要求，能够自动配置测角信号输入；4.本专利技术所述对比反馈数据处理单元以模块化形式接收经过测角信号接驳电路初步采样处理的测角信号，实现了标准接口类别的测角解算，同时实现了接收高精度回转工作机发出的反馈信号，并与待测试测角信号进行数据比对，达到高精度测试要求；5.本专利技术所述主控制机实现了接收反馈数据处理单元发出的原始测试数据及比对数据，同时计算处理测试的测角系统精度及响应情况；6.本专利技术能够解决现有的回转设备测角电路测试性较为复杂，兼容性不强，重复工作内容较多，模块化程度不高的问题。
附图说明
[0014]以下结合附图对本专利技术作进一步详述。
[0015]图1为本专利技术的模型图；图2为本专利技术的测角信号接驳电路示意图；图3为本专利技术的对比反馈数据处理单元示意图。
具体实施方式
[0016]下面结合实施例及附图对本专利技术作进一步描述。
[0017]如图1
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图3所示，一种聚合式测角电路对比测试系统，包括高精度回转工作机1、回转测试接驳器2、测角信号接驳电路3、对比反馈数据处理单元5及主控制机4；所述高精度回转工作机1同时输出待测试测角信号和标准测角信号；所述回转测试接驳器2连接高精度回转工作机1与待测试测角器件，同时将高精度回转工作机1输出的待测试测角信号输入至测角信号接驳电路3；所述测角信号接驳电路3接收并处理待测试测角信号，同时向对比反馈数据处理单元5输出处理后的实时测角信号；所述对比反馈数据处理单元5接收标准测角信
号和实时测角信号进行对比测试分析处理，并对主控制机4进行指令控制；所述主控制机4实时接收高精度回转工作机1的工作状态和对比反馈数据处理单元5输入的指令信息。
[0018]所述测角信号接驳电路3包括测角信号接入模块31、信号聚合处理模块32、测角反馈输出模块33；所述测角信号接入模块31接收待测试测角信号，经过信号聚合处理模块32进行处理后，通过测角反馈输出模块33输出至对比反馈数据处理单元5。
[0019]所述对比反馈数据处理单元5包括高精度回转工作机测角校准数据库模块51、标准测角修正模块52、预存储与实时对比模块53以及对比反馈处理算法模块54；所述对比反馈数据处理单元5接收的标准测角信号与高精度回转工作机测角校准数据库模块51进行校准计算，通过标准测角修正模块52输出标准测角修正数据，同时执行预存储与实时对比模块53进行预存储与实时对比，最后对比反馈处理算法模块54结合实时测角信号进行对比反馈处理算法处理，处理后的数据输入主控制机4进行指令控制。
[0020]所述高精度回转工作机1包含独立的工作机驱动组件11和工作机测角组件12，并配置在线校准接口；所述回转测试接驳器2配置标准化待测测角系统连接件，回转测试接驳器2连接高精度回转工作机1与待测试测角器件形成联动式驱动系统，同时对测角信号接驳电路3输入待测试测角信号。
[002本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种聚合式测角电路对比测试系统，包括高精度回转工作机（1）、回转测试接驳器（2）、测角信号接驳电路（3）、对比反馈数据处理单元（5）及主控制机（4）；其特征在于，所述高精度回转工作机（1）同时输出待测试测角信号和标准测角信号；所述回转测试接驳器（2）连接高精度回转工作机（1）与待测试测角器件，同时将高精度回转工作机（1）输出的待测试测角信号输入至测角信号接驳电路（3）；所述测角信号接驳电路（3）接收并处理待测试测角信号，同时向对比反馈数据处理单元（5）输出处理后的实时测角信号；所述对比反馈数据处理单元（5）接收标准测角信号和实时测角信号进行对比测试分析处理，并对主控制机（4）进行指令控制；所述主控制机（4）实时接收高精度回转工作机（1）的工作状态和对比反馈数据处理单元（5）输入的指令信息。2.根据权利要求1所述的一种聚合式测角电路对比测试系统，其特征在于，所述测角信号接驳电路（3）包括测角信号接入模块（31）、信号聚合处理模块（32）、测角反馈输出模块（33）；所述测角信号接入模块（31）接收待测试测角信号，经过信号聚合处理模块（32）进行处理后，通过测角反馈输出模块（33）输出至对比反馈数据处理单元（5）。3.根据权利要求1所述的一种聚合式测角电路对比测试系统，其特征在于，所述对比反馈数据处理单元（5）包括高精度回转工作机测角校准数据库模块（51）、标准测角修正模块（52）、预存储与实时对比模块（53）以及对比反馈处理算法模块（54）；所述对比反馈数据处理单元（5）接收的标准测角信号与高精度回转工作机测角校准数据库模块（51）进...
【专利技术属性】
技术研发人员：周龙飞，黄琛，郑文彬，丁德甫，
申请(专利权)人：九江精密测试技术研究所，
类型：发明
国别省市：
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