一种倒装式特高频局部放电GTEM小室检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种倒装式特高频局部放电GTEM小室检测装置，涉及电磁测试技术领域，包括水平设置的顶板和倾斜向下设置的底板，顶板和底板通过两个侧板固定连接，顶板的顶端贯穿开设有测试窗口，测试窗口的一侧摆放有特高频局放传感器，顶板、底板和两个侧板的一侧连接有同一后端盖，侧板的两侧均设置有固定组件，底板底端的四个边角处均固定设置有支腿，支腿的内侧固定设置有安装板，安装板的底部设置移动组件。本实用新型专利技术设计结构合理，通过将该检测装置的顶板设置呈水平面，当将高频局放传感器放置在测试窗口旁时，能够提高高频局放传感器放置时的稳定性，减小测试过程因高频局放传感器位置变动给测试带来影响的可能。频局放传感器位置变动给测试带来影响的可能。频局放传感器位置变动给测试带来影响的可能。

【技术实现步骤摘要】
一种倒装式特高频局部放电GTEM小室检测装置


[0001]本技术涉及电磁测试
，具体是一种倒装式特高频局部放电GTEM小室检测装置。

技术介绍

[0002]GTEM小室可以代替电磁兼容暗室进行辐射抗扰度测试，具有工作频率宽、内部场强均匀、屏蔽效能好，试验中能量利用率高等优点，且GTEM小室可以在给定的工作空间区域内提供非常好的场均匀性和场的再现性,也非常适用于场的校准。
[0003]现有的GTEM小室是锥形的同轴线结构，在用于特高频局放传感器校准试验时，因GTEM顶端面为差不多20
°
的斜面，传感器在测试窗口摆放的位置不便于固定，每次测试校准因为传感器位置变动产生的误差产生较大的不确定度，不利于产品性能测试。为此，我们提供了倒装式特高频局部放电GTEM小室检测装置解决以上问题。

技术实现思路

[0004]一)解决的技术问题
[0005]本技术的目的就是为了弥补现有技术的不足，提供了一种倒装式特高频局部放电GTEM小室检测装置。
[0006]二)技术方案
[0007]为实现上述目本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种倒装式特高频局部放电GTEM小室检测装置，包括水平设置的顶板(1)和倾斜向下设置的底板(2)，其特征在于：所述顶板(1)和底板(2)通过两个侧板(3)固定连接，所述顶板(1)的顶端贯穿开设有测试窗口(5)，所述测试窗口(5)的一侧摆放有特高频局放传感器(6)，所述顶板(1)、底板(2)和两个侧板(3)的一侧连接有同一后端盖(4)，所述侧板(3)的两侧均设置有对后端盖(4)进行固定的固定组件(7)，所述底板(2)底端的四个边角处均固定设置有支腿(8)，所述支腿(8)的内侧固定设置有安装板(10)，所述安装板(10)的底部设置移动组件(9)。2.根据权利要求1所述的一种倒装式特高频局部放电GTEM小室检测装置，其特征在于：所述固定组件(7)包括固定座(701)，所述固定座(701)内滑动插接有滑杆(702)，所述滑杆(702)的一端固定设置有限位片(703)，所述滑杆(702)的另一端固定设置有连接柱(704)。3.根据权利要求2所述的一种倒装式特高频局部放电GTEM小室检测装置，其特征在于：所述连接柱(704)的一端转动连接有压紧块(705)，所述压紧块(705)与后端盖(4)的接触面设置有软垫(708)，所述软...

【专利技术属性】
技术研发人员：龚良，
申请(专利权)人：武汉弗凡科技有限责任公司，
类型：新型
国别省市：