一种IC电磁辐射测试的新型TEM小室制造技术

本发明专利技术涉及TEM小室技术领域，具体为一种IC电磁辐射测试的新型TEM小室，包括TEM小室主体和固定板，TEM小室主体的顶端设置有稳固机构,稳固机构包括安装架,安装架的底端与TEM小室主体的顶端固定连接。本发明专利技术通过设置有稳固机构，向下按动按压部，将待测物体置于TEM小室主体的顶端，并使得待测物体处于按压块的底部，之后松开按压部，按压部受到弹簧的弹力作用会向上移动，按压部向上移动同时按压块会向下移动，直至按压块能够将待测物体紧紧地按压住，受到弹簧的作用力，待测物体被固定住，提高了测试过程中的稳定性，从而使测试更加的方便，解决了现有的TEM小室未设有夹紧的机构，工作时不方便测试，不能保证测试的稳定性的问题。题。题。

【技术实现步骤摘要】
一种IC电磁辐射测试的新型TEM小室


[0001]本专利技术涉及TEM小室
，具体为一种IC电磁辐射测试的新型TEM小室。

技术介绍

[0002]TEM小室即横电磁波小室是在很有限的实验室空间的条件下，将小型被试品及线缆同时置于电场辐射中，对被试品辐射抗扰度进行评估，TEM小室不仅可以测试集成电路的辐射发射，也可用于测试集成电路的抗扰度，由于TEM小室使用方便，测试成本低，因而应用非常广泛。
[0003]授权公告号为CN212207579U，公开了一种基于TEM小室的IC电磁兼容测试装置其记载了TEM小室的尺寸大大减小，从而扩展了TEM小室的工作频率，且无需制作专用测试PCB板，操作方便，并可实现对IC的在线测试。
[0004]上述现有技术方案的底座通过沉头螺钉锁固在TEM小室的底部上实现了便于安装和拆卸，但是在实际进行IC测试时，IC测试需要稳定进行，现有的TEM小室未设有夹紧的机构，工作时不方便测试，不能保证测试的稳定性，因此，需要设计一种IC电磁辐射测试的新型TEM小室以解决上述问题。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供一种IC电磁辐射测试的新型TEM小室，以解决上述
技术介绍
中提出的在实际进行IC测试时，IC测试需要稳定进行，现有的TEM小室未设有夹紧的机构，工作时不方便测试，不能保证测试稳定性的问题。
[0006]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种IC电磁辐射测试的新型TEM小室，包括：TEM小室主体和固定板，TEM小室主体的顶端设置有稳固机构,稳固机构包括安装架,安装架的底端与TEM小室主体的顶端固定连接，安装架的内侧通过转轴活动安装有活动架，活动架的一端固定安装有按压部,按压部的底端固定连接有弹簧,弹簧的底端与TEM小室主体的顶端固定连接，活动架远离按压部的一端固定安装有按压块。
[0007]优选的，TEM小室主体的两端皆设置有箍紧件，箍紧件的底端固定安装有延伸块,延伸块的顶端螺纹安装有螺栓，固定板的顶端开设有螺纹槽。
[0008]优选的，箍紧件正面与背面的固定板上皆固定安装有安装板，安装板相互靠近的一面皆固定安装有抵挡块。
[0009]优选的，箍紧件内侧的顶端固定安装有凸起块,TEM小室主体的两端皆开设有限位槽。
[0010]优选的，两个按压部之间固定相连有相接杆,相接杆的外表面固定安装有控制套。
[0011]优选的，按压部的顶端固定安装有橡皮垫,橡皮垫的上表面均匀开设有条纹。
[0012]优选的，按压块的底端固定安装有海绵垫。
[0013]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：
[0014]1、通过设置有稳固机构，向下按动按压部，将待测物体置于TEM小室主体的顶端，
并使得待测物体处于按压块的底部，之后松开按压部，按压部受到弹簧的弹力作用会向上移动，按压部向上移动同时按压块会向下移动，直至按压块能够将待测物体紧紧地按压住，受到弹簧的作用力，待测物体被固定住，提高了测试过程中的稳定性，从而使测试更加的方便，解决了现有的TEM小室未设有夹紧的机构，工作时不方便测试，不能保证测试的稳定性的问题。
[0015]2、通过设置有箍紧件、固定板、延伸块、螺栓和螺纹槽，将箍紧件分别套在TEM小室主体的两端，使得延伸块对准螺纹槽，再将螺栓拧进螺纹槽中，螺栓实现了箍紧件的固定，箍紧件被固定时，箍紧件的内侧与TEM小室主体的两端紧密贴合，从而实现了TEM小室主体整体使用时的稳固性。
附图说明
[0016]图1为本专利技术的结构俯视示意图；
[0017]图2为本专利技术的结构正视示意图；
[0018]图3为本专利技术的结构侧视示意图；
[0019]图4为本专利技术的图3中A处结构局部放大剖面示意图。
[0020]图中：110、TEM小室主体；111、固定板；112、箍紧件；113、延伸块；114、螺栓；115、螺纹槽；116、安装板；117、抵挡块；118、凸起块；119、限位槽；200、稳固机构；210、安装架；211、活动架；212、按压部；213、弹簧；214、按压块；215、海绵垫；216、相接杆；217、控制套；218、橡皮垫。
具体实施方式
[0021]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0022]实施例一
[0023]请参阅图1
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2，本专利技术提供的一种实施例：一种IC电磁辐射测试的新型TEM小室,包括：TEM小室主体110和固定板111，TEM小室主体110的顶端设置有稳固机构200,稳固机构200包括安装架210,安装架210的底端与TEM小室主体110的顶端固定连接，安装架210的内侧通过转轴活动安装有活动架211，活动架211的一端固定安装有按压部212,按压部212的底端固定连接有弹簧213,弹簧213的底端与TEM小室主体110的顶端固定连接，活动架211远离按压部212的一端固定安装有按压块214，向下按动按压部212，将待测物体置于TEM小室主体110的顶端，并使得待测物体处于按压块214的底部，之后松开按压部212，按压部212受到弹簧213的弹力作用会向上移动，按压部212向上移动同时按压块214会向下移动，直至按压块214能够将待测物体紧紧地按压住，受到弹簧213的作用力，待测物体被固定住，提高了测试过程中的稳定性，从而使测试更加的方便，解决了现有的TEM小室未设有夹紧的机构，工作时不方便测试，不能保证测试的稳定性的问题。
[0024]进一步的，按压部212的顶端固定安装有橡皮垫218,橡皮垫218的上表面均匀开设有条纹，工作人员通过按动橡皮垫218，来实现按压部212的向下移动，橡皮垫218上的条纹
使橡皮垫218上表面较为粗糙，使工作人员便于操作按压部212移动，从而便于使用。
[0025]进一步的，按压块214的底端固定安装有海绵垫215，待测物体被固定时，海绵垫215直接与待测物体上表面接触，防止按压块214直接与待测物体接触导致待测物在测试时上表面受到磨损，海绵垫215提高了测试时的防护性能。
[0026]实施例二
[0027]本专利技术提出的一种IC电磁辐射测试的新型TEM小室，相较于实施例一，请参阅图3
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4，TEM小室主体110的两端皆设置有箍紧件112，箍紧件112的底端固定安装有延伸块113,延伸块113的顶端螺纹安装有螺栓114，固定板111的顶端开设有螺纹槽115，使用TEM小室主体110时，将箍紧件112分别套在TEM小室主体110的两端，使得延伸块113对准螺纹槽115，再将螺栓114拧进螺纹槽115中，螺栓114实现了箍紧件112的固定，箍紧件112被固定时，箍紧件112的内侧与TEM小室主体11本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种IC电磁辐射测试的新型TEM小室，其特征在于，包括：TEM小室主体(110)和固定板(111)，TEM小室主体(110)的顶端设置有稳固机构(200),稳固机构(200)包括安装架(210),安装架(210)的底端与TEM小室主体(110)的顶端固定连接，安装架(210)的内侧通过转轴活动安装有活动架(211)，活动架(211)的一端固定安装有按压部(212),按压部(212)的底端固定连接有弹簧(213),弹簧(213)的底端与TEM小室主体(110)的顶端固定连接，活动架(211)远离按压部(212)的一端固定安装有按压块(214)。2.根据权利要求1所述的一种IC电磁辐射测试的新型TEM小室，其特征在于：TEM小室主体(110)的两端皆设置有箍紧件(112)，箍紧件(112)的底端固定安装有延伸块(113),延伸块(113)的顶端螺纹安装有螺栓(114)，固定板(111)的顶端开设有螺纹槽(115)。3.根据权利要求2所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：龚良，
申请(专利权)人：武汉弗凡科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：