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本发明涉及TEM小室技术领域，具体为一种IC电磁辐射测试的新型TEM小室，包括TEM小室主体和固定板，TEM小室主体的顶端设置有稳固机构,稳固机构包括安装架,安装架的底端与TEM小室主体的顶端固定连接。本发明通过设置有稳固机构，向下按动按压...
该专利属于武汉弗凡科技有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉弗凡科技有限责任公司授权不得商用。

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