可调式边厚差测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了可调式边厚差测量装置，包括底座和测量组件，测量组件设于底座顶部，底座顶部于测量组件下方等距设有三个活动连接的限位圆柱，底座内部设有与限位圆柱相匹配的调节组件，调节组件包括丝杆，丝杆与限位圆柱活动连接，丝杆底部设有齿条，底座内壁设有与齿条相啮合的齿轮一，齿轮一底部设有齿轮二，底座底部设有环形双面齿条，环形双面齿条的内轮齿与齿轮二啮合。本实用新型专利技术可方便快捷的移动限位圆柱，使其可根据光学镜片直径的大小调整间距，从而可适应于不同直径的光学镜片，并且可利用齿轮齿条配合，同时对多个限位圆柱进行粗调节，在利用丝杆对限位圆柱进行精调节，可大大提高调节的效率和精度。可大大提高调节的效率和精度。可大大提高调节的效率和精度。

【技术实现步骤摘要】
可调式边厚差测量装置


[0001]本技术涉及光学镜片
，具体为可调式边厚差测量装置。

技术介绍

[0002]当前的光学镜片加工精度越来越高，对镜片偏心要求也越来越高，普通镜片需要进行铣磨、精磨、抛光、磨边等工序制成成品。现有光学镜片偏心测量设备是通过透过或反射方式进行测量偏心，只有在抛光后才能测量偏心值，磨边工序作为校正镜片偏心的工序是有一定的上限的，如果磨边待加工产品偏心值超过了纠正上限，磨边工序不能纠正偏心值，则会造成不良品，所以要在抛光前的工序(铣磨，精磨)进行测量和控制。
[0003]现有中国文献，授权公告号为CN206803901U的专利，其公开了一种测量光学镜片边厚差的治具，包括：圆形底座，所述圆形底座中心设有内孔，用于放置待测量镜片；3个通槽，所述通槽均匀设于所述圆形底座上，连通圆形底座的外边缘及内孔，且每个所述通槽内设有轨道；3个可移动的滑块，所述可移动的滑块分别设于每个所述轨道上，并沿着所述轨道径向滑动，所述移动滑块朝向所述内孔的一端上设有托块，用于托举所述待测量镜片。通过上述方式，本技术能够实现对不同外径镜片边厚差的测量，其可调性强，灵活性高，操作简单，降低测量治具的成本。
[0004]但是上述专利，在调节三个滑块时，只能分别单独调节各个滑块的移动，且调节后还需使用紧固螺栓将滑块固定，大大降低测量效率。

技术实现思路

[0005]本技术的目的在于提供可调式边厚差测量装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0006]为了解决上述技术问题，本技术提供如下技术方案：可调式边厚差测量装置，包括底座和测量组件，所述测量组件设于所述底座顶部，所述底座顶部于所述测量组件下方等距设有三个活动连接的限位圆柱，所述底座内部设有与所述限位圆柱相匹配的调节组件，所述调节组件包括丝杆，所述丝杆与所述限位圆柱活动连接，所述丝杆底部设有齿条，所述底座内壁设有与所述齿条相啮合的齿轮一，所述齿轮一底部设有齿轮二，所述底座底部设有环形双面齿条，所述环形双面齿条的内轮齿与所述齿轮二啮合。
[0007]进一步的，所述丝杆一端设有转轴一，所述转轴一外壁设有锥形齿一，所述底座内部设有与所述锥形齿一相啮合的锥形齿二，所述锥形齿二顶部设有转轴二，所述转轴二一端延伸至所述底座外壁设有转把一。
[0008]进一步的，所述底座底部设有与所述环形双面齿条的外轮齿相啮合的齿轮三，所述齿轮三外壁设有转轴三，所述转轴三一端延伸至所述底座外侧设有转把二，所述齿轮一通过转轴四与所述齿轮二固定连接，方便快捷的控制环形双面齿条的转动。
[0009]进一步的，所述丝杆外壁套设有螺纹连接的丝杆螺母，所述丝杆螺母外壁设有连接块，所述限位圆柱设于所述连接块顶部，实现丝杆带动限位圆柱移动的目的。
[0010]进一步的，所述丝杆外壁匹配设有连接架，所述连接架与所述齿条固定连接，所述齿条和所述连接架均与所述底座滑动连接，确保齿条可带动丝杆水平移动。
[0011]进一步的，所述测量组件包括磁吸表座，所述磁吸表座顶部设有千分表，所述底座顶部于所述限位圆柱之间设有放置台，所述限位圆柱采用POM材质，对光学镜片进行测量，且避免限位圆柱对光学镜片产生损坏。
[0012]与现有技术相比，本技术所达到的有益效果是：
[0013]1、本技术通过设置丝杆、齿条、齿轮一、齿轮二和环形双面齿条，可方便快捷的移动限位圆柱，使其可根据光学镜片直径的大小调整间距，从而可适应于不同直径的光学镜片，对不同的光学镜片进行精准测量，并且可利用齿轮齿条配合，同时对多个限位圆柱进行粗调节，在利用丝杆对限位圆柱进行精调节，可大大提高调节的效率和精度，提高测量数据的准确性。
[0014]2、本技术通过设置锥形齿一、锥形齿二和转把一，可从垂直方向控制丝杆的转动，便于使用者控制丝杆的转动，符合使用习惯，优化使用者的使用体验感。
附图说明
[0015]附图用来提供对本技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本技术的实施例一起用于解释本技术，并不构成对本技术的限制。在附图中：
[0016]图1是本技术整体的俯视图；
[0017]图2是本技术丝杆的俯视剖面图；
[0018]图3是本技术齿条的俯视剖面图；
[0019]图4是本技术双面齿条的俯视剖面图；
[0020]图5是本技术丝杆与齿条的侧视剖面图；
[0021]图6是本技术齿轮一与齿轮二的侧视图；
[0022]图7是本技术锥形齿一与锥形齿二啮合的侧视图；
[0023]图中：1、底座；2、测量组件；3、限位圆柱；4、丝杆；5、齿条；6、齿轮一；7、齿轮二；8、环形双面齿条；9、锥形齿一；10、锥形齿二；11、转把一；12、齿轮三；13、转把二；14、连接块；15、连接架。
具体实施方式
[0024]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0025]请参阅图1
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图6，本技术提供技术方案：可调式边厚差测量装置，包括底座1和测量组件2，所述测量组件2设于所述底座1顶部，所述底座1顶部于所述测量组件2下方等距设有三个活动连接的限位圆柱3，所述底座1内部设有与所述限位圆柱3相匹配的调节组件，所述调节组件包括丝杆4，所述丝杆4与所述限位圆柱3活动连接，所述丝杆4底部设有齿条5，所述底座1内壁设有与所述齿条5相啮合的齿轮一6，所述齿轮一6底部设有齿轮二7，所述底座1底部设有环形双面齿条8，所述环形双面齿条8的内轮齿与所述齿轮二7啮合。
[0026]所述底座1底部设有与所述环形双面齿条8的外轮齿相啮合的齿轮三12，所述齿轮三12外壁设有转轴三，所述转轴三一端延伸至所述底座1外侧设有转把二13，所述齿轮一6通过转轴四与所述齿轮二7固定连接，所述丝杆4外壁套设有螺纹连接的丝杆4螺母，所述丝杆4螺母外壁设有连接块14，所述限位圆柱3设于所述连接块14顶部，所述丝杆4外壁匹配设有连接架15，所述连接架15与所述齿条5固定连接，所述齿条5和所述连接架15均与所述底座1滑动连接，所述测量组件2包括磁吸表座，所述磁吸表座顶部设有千分表，所述底座1顶部于所述限位圆柱3之间设有放置台，所述限位圆柱3采用POM材质。
[0027]具体实施方式为：使用时，将光学镜片放置在放置台上，可移动各个限位圆柱3，使限位圆柱3对光学镜片进行夹持固定，然后使用千分表对光学镜片进行测量，测量出光学镜片的偏心值，从而可控制光学镜片的加工成本，在调节限位圆柱3时，可转动转把二13，使转把二13带动齿轮三12转动，齿轮三12转动会通过外轮齿带动环形双面齿条8转动，环形双面齿条8转动会通过内轮齿带动多个齿轮本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.可调式边厚差测量装置，包括底座(1)和测量组件(2)，其特征在于：所述测量组件(2)设于所述底座(1)顶部，所述底座(1)顶部于所述测量组件(2)下方等距设有三个活动连接的限位圆柱(3)，所述底座(1)内部设有与所述限位圆柱(3)相匹配的调节组件，所述调节组件包括丝杆(4)，所述丝杆(4)与所述限位圆柱(3)活动连接，所述丝杆(4)底部设有齿条(5)，所述底座(1)内壁设有与所述齿条(5)相啮合的齿轮一(6)，所述齿轮一(6)底部设有齿轮二(7)，所述底座(1)底部设有环形双面齿条(8)，所述环形双面齿条(8)的内轮齿与所述齿轮二(7)啮合。2.根据权利要求1所述的可调式边厚差测量装置，其特征在于：所述丝杆(4)一端设有转轴一，所述转轴一外壁设有锥形齿一(9)，所述底座(1)内部设有与所述锥形齿一(9)相啮合的锥形齿二(10)，所述锥形齿二(10)顶部设有转轴二，所述转轴二一端延伸至所述底座(1)外壁设有转把一(11)。3.根据权利要求1所述的可调...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐晶楠，
申请(专利权)人：长春格立特光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：