本实用新型专利技术涉及一种片式框架缺陷检测设备，包括机架，所述机架上端中部设有检测装置，所述检测装置包括便于片式框架放置的托盘组件，所述托盘组件上方设有检测组件，所述托盘组件一侧设有翻转组件，所述托盘组件的左右两端分别设有良品输出组件和不良品输出组件，使用时，将片式框架放置于托盘组件上并进行找中心定位，再通过高清的检测组件对片式框架一个面的表面镀层、刮碰等缺陷进行检测，通过翻转组件将片式框架上下两层吸附后翻转，进行另一个面的表面镀层、刮碰等缺陷检测，而检测后的良品和不良品分别通过良品输出组件和不良品输出组件输出，这样便能有效提高检测效率和检测质量。测质量。测质量。
【技术实现步骤摘要】
一种片式框架缺陷检测设备
[0001]本技术涉及检测设备
，尤其涉及一种片式框架缺陷检测设备。
技术介绍
[0002]半导体引线框架作为集成电路的芯片载体，是一种借助于键合材料(金丝、铝丝、铜丝)实现芯片内部电路引出端与外引线的电气连接，形成电气回路的关键结构件，它起到了和外部导线连接的桥梁作用，绝大部分的半导体集成块中都需要使用引线框架。而半导体引线框架在应用前需要其表面镀层、刮碰等缺陷进行检测，现有的检测装置一般只针对一个面的检测，而若要对另一个面进行检测时，需要借助人工进行翻转，这样易造成引线框架损坏，且需要再次进行对中心等操作，这样会降低检测效率。另外对于表面镀层、刮碰等缺陷，仅进行一个面或一个固定角度的检测，其较小的、特殊位置的缺陷，这难易被检测剔除，从而影响检测质量。
技术实现思路
[0003]本技术的目的在于提供一种片式框架缺陷检测设备，其能有效提高检测效率和检测质量的特点。
[0004]为了解决上述技术问题，本技术通过下述技术方案得以解决：一种片式框架缺陷检测设备，包括机架，所述机架上端中部设有检测装置，所述检测装置包括便于片式框架放置的托盘组件，所述托盘组件上方设有检测组件，所述托盘组件一侧设有翻转组件，所述托盘组件的左右两端分别设有良品输出组件和不良品输出组件。
[0005]优选的，所述托盘组件包括底板，所述底板的四个角上设有可形成托盘框的直角块，所述托盘框内中部设有支撑板，托盘框的前后两侧均开设有通槽，所述底板底端设有调节电机。
[0006]进一步优选的，所述翻转组件包括底座，所述底座上端设有机械臂，所述机械臂前端设有翻转电机，所述翻转电机的输出端连接有翻转盘，所述翻转盘前端设有成上下设置的两根支撑杆，每根支撑杆的前端设有吸附气缸，所述吸附气缸的输出端设有吸附盘。
[0007]进一步优选的，所述检测组件包括检测架，所述检测架顶端设有顶板，所述顶板下端对应所述托盘组件的四个直角块以及中间位置均设有高清摄像头，所述顶板内设有与所述高清摄像头电连接的检测系统。
[0008]进一步优选的，所述良品输出组件包括设于所述托盘组件一端的良品输送带，良品输送带两端分别设有良品输送主动轮和良品输送从动轮，所述良品输送主动轮一端设有良品输送电机。
[0009]进一步优选的，所述不良品输出组件包括设于所述托盘组件另一端的不良品输送带，不良品输送带两端分别设有不良品输送主动轮和不良品输送从动轮，所述不良品输送主动轮一端设有不良品输送电机。
[0010]本技术有益效果：包括机架，所述机架上端中部设有检测装置，所述检测装置
包括便于片式框架放置的托盘组件，所述托盘组件上方设有检测组件，所述托盘组件一侧设有翻转组件，所述托盘组件的左右两端分别设有良品输出组件和不良品输出组件，使用时，将片式框架放置于托盘组件上并进行找中心定位，再通过高清的检测组件对片式框架一个面的表面镀层、刮碰等缺陷进行检测，通过翻转组件将片式框架上下两层吸附后翻转，进行另一个面的表面镀层、刮碰等缺陷检测，而检测后的良品和不良品分别通过良品输出组件和不良品输出组件输出，这样便能有效提高检测效率和检测质量。
附图说明
[0011]图1是本技术的结构示意图。
[0012]图2是本技术另一角度的结构示意图。
具体实施方式
[0013]下面结合附图与实施例对本技术作进一步详细描述。
[0014]如图1、2所示，一种片式框架缺陷检测设备，包括机架1，所述机架1上端中部设有检测装置，所述检测装置包括便于片式框架放置的托盘组件2，所述托盘组件2上方设有检测组件3，所述托盘组件2一侧设有翻转组件4，所述托盘组件2的左右两端分别设有良品输出组件5和不良品输出组件6，使用时，将片式框架放置于托盘组件2上并进行找中心定位，再通过高清的检测组件3对片式框架一个面的表面镀层、刮碰等缺陷进行检测，通过翻转组件4将片式框架上下两层吸附后翻转，进行另一个面的表面镀层、刮碰等缺陷检测，而检测后的良品和不良品分别通过良品输出组件5和不良品输出组件6输出，这样便能有效提高检测效率和检测质量。
[0015]本实施例中，所述托盘组件2包括底板7，所述底板7的四个角上设有可形成托盘框的直角块8，所述托盘框内中部设有支撑板，托盘框的前后两侧均开设有通槽，所述底板7底端设有调节电机9，使用时，将片式框架放置于支撑板上，并使其四个角对应直角块8放置，之后通过调节电机9根据片式框架的位置，使底板7、托盘框以及片式框架整体转动调节进行对中心操作，所述调节电机9与检测系统电连接。
[0016]本实施例中，所述翻转组件4包括底座10，所述底座10上端设有机械臂11，所述机械臂11前端设有翻转电机12，所述翻转电机12的输出端连接有翻转盘13，所述翻转盘13前端设有成上下设置的两根支撑杆14，每根支撑杆14的前端设有吸附气缸15，所述吸附气缸15的输出端设有吸附盘16，使用时，通过机械臂11控制翻转电机12、两根支撑杆14、两吸附气缸15以及两吸附盘16移动到对应片式框架的上下两面的位置，之后通过两吸附气缸15分别驱动两吸附盘16对应片式框架的上下两面进行吸附，最后通过翻转电机12驱动两支撑板、两吸附气缸15、两吸附盘16以及片式框架转动180
°
，之后再将片式框架放置在片式框架放置于支撑板上，所述翻转电机12与所述检测系统电连接。
[0017]本实施例中，所述检测组件3包括检测架17，所述检测架17顶端设有顶板18，所述顶板18下端对应所述托盘组件2的四个直角块8以及中间位置均设有高清摄像头19，所述顶板18内设有与所述高清摄像头19电连接的检测系统，通过检测系统控制顶板18上五个位置的高清摄像头19对表面镀层情况（镀层厚度、是否有漏孔等）、刮碰（刮痕、凹痕等）进行检测，在检测完成后，检测系统驱动良品输出组件5或不良品输出组件6分别将良品和不良品
输出。另外检测系统为现有技术中，根据高清摄像头19的检测需要和检测结果，控制托盘组件2、翻转组件4、高清摄像头19、良品输出组件5以及不良品输出组件6配合动作，具体控制在此不再赘述。
[0018]本实施例中，所述良品输出组件5包括设于所述托盘组件2一端的良品输送带20，良品输送带20两端分别设有良品输送主动轮和良品输送从动轮，所述良品输送主动轮一端设有良品输送电机21，良品通过人工或检测系统驱动吸附气缸15吸附后不翻转的移动到良品输送带20，良品输送电机21驱动良品输送带20移动，将良品的片式框架输出到良品区。
[0019]本实施例中，所述不良品输出组件6包括设于所述托盘组件2另一端的不良品输送带22，不良品输送带22两端分别设有不良品输送主动轮和不良品输送从动轮，所述不良品输送主动轮一端设有不良品输送电机23，不良品通过人工或检测系统驱动吸附气缸15吸附后不翻转的移动到不良品输送带22，不良品输送电机23驱动不良品输送带22移动，将不良品的片式框架输出到不良品区。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种片式框架缺陷检测设备，其特征在于：包括机架，所述机架上端中部设有检测装置，所述检测装置包括便于片式框架放置的托盘组件，所述托盘组件上方设有检测组件，所述托盘组件一侧设有翻转组件，所述托盘组件的左右两端分别设有良品输出组件和不良品输出组件。2.根据权利要求1所述的一种片式框架缺陷检测设备，其特征在于：所述托盘组件包括底板，所述底板的四个角上设有可形成托盘框的直角块，所述托盘框内中部设有支撑板，托盘框的前后两侧均开设有通槽，所述底板底端设有调节电机。3.根据权利要求1所述的一种片式框架缺陷检测设备，其特征在于：所述翻转组件包括底座，所述底座上端设有机械臂，所述机械臂前端设有翻转电机，所述翻转电机的输出端连接有翻转盘，所述翻转盘前端设有成上下设置的两根支撑杆，每根支撑杆的前端设有吸附气缸，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：钟湘，
申请(专利权)人：宁波启谱自动化科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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