【技术实现步骤摘要】
一种换流阀晶闸管电热联合老化试验电路
[0001]本专利技术涉及晶闸管老化试验,具体涉及一种换流阀晶闸管电热联合老化试验电路。
技术介绍
[0002]目前国内传统高压直流输电工程的换流阀大多采用晶闸管阀,换流阀晶闸管在长期运行中,不可避免的会在各种应力作用下出现老化现象,其中主要为自身损耗引起的晶闸管结温升以及晶闸管关断过程中的电压应力导致晶闸管老化。
[0003]晶闸管性能参数随着老化会发生改变,全面掌握晶闸管的老化及其参数退化的规律,对于晶闸管状态评估、制定科学的检修方案,对于换流阀可靠性与运行稳定性的提升具有重要意义。晶闸管属于长寿命器件,在正常工作状态下晶闸管的老化的需的时间很长,可能要几十年时间,在正常工作条件下进行老化试验,不仅同期长,而且费用昂贵。
[0004]在现有的晶闸管电热联合老化试验方法中,市电电流经过变压整形后在晶闸管上形成正向正弦波,电能的利用效率较低,并且由于电压波形的单向性,仅可检验受试晶闸管单侧方向的电压耐受能力,实验效率低,结果误差较大。
技术实现思路
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种换流阀晶闸管电热联合老化试验电路,其特征在于:包括用于调节晶闸管热应力的温度应力单元、用于调节晶闸管电应力的电压应力单元以及受试晶闸管T;所述温度应力单元包括直流电流源S1、并联在直流电流源S1两端的续流电阻R1、串联在直流电流源S1与续流电阻R1并联支路上的整流二极管D1;所述电压应力单元包括:直流电压源S2、串联在直流电压源S2一端的限流电阻R1、并联在直流电压源S2与限流电阻R1串联支路上的电容C2、并联在电容C2两端的晶闸管T2与晶闸管T3的串联支路、并联在晶闸管T2两端的电容C1与电感L2之间的串联支路、阳极连接在电容C1与电感L2连接点上的晶闸管T1、与晶闸管T1阴极连接的电感L1;所述温度应力单元与电压应力单元共同连接在受试晶闸管T的两端;其中,晶闸管T2的阴极、晶闸管T3的阴极以及电感L2的一端连接。2.根据权利要求1所述的一种换流阀晶闸管电热联合老化试验电路,其特征在于:所述受试晶闸管T阳极与整流二极管D1正极、电感L1的一端连接。3.根据权利要求2所述的一种换流阀晶闸管电热联合老化试验电路,其特征在于:所述受试晶闸管T阴极、直流电流源S1输入端、续流电阻R1的一端、电容C1的一端、电容C2的一端、晶闸管T2的阳极以及直流电压源S2低压端接地。4.根据权利要求3所述的一种换流阀晶闸管电热联合老化试验电路,其特征在于:所述直流电...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘隆晨,庞磊,张康,喻悦箫,王鑫冰,张天艺,刘凤莲,贾志杰,
申请(专利权)人:国网四川省电力公司电力科学研究院,
类型:发明
国别省市:
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