一种验证寄存器覆盖率的方法、计算机存储介质及终端技术

本文公开一种验证寄存器覆盖率的方法、计算机存储介质及终端，包括：对芯片的每一个功能点，确定该功能点的第一命令行集合和第二命令行集合，其中，第一命令行集合是覆盖该功能点对应的所有寄存器操作的命令行的集合，第二命令行集合是已执行的该功能点测试实例中包含的命令行的集合；根据芯片中功能点的第一命令行集合和第二命令行集合，确定已进行的功能点测试的寄存器覆盖率。本发明专利技术实施例通过命令行实现了寄存器覆盖率的统计，提升了芯片测试的可控性。的可控性。的可控性。

【技术实现步骤摘要】
一种验证寄存器覆盖率的方法、计算机存储介质及终端


[0001]本文涉及但不限于芯片测试技术，尤指一种验证寄存器覆盖率的方法、计算机存储介质及终端。

技术介绍

[0002]不同于通用计算类芯片的寄存器，专用芯片(例如通信芯片)涉及大量不同功能的寄存器，通过配置寄存器的组合控制芯片各个功能的运转，通过状态寄存器确定芯片运行状态。专用芯片验证时需要对芯片的所有寄存器的功能进行验证，即验证过程需要覆盖所有的寄存器。
[0003]相关技术中，寄存器覆盖率(register coverage)验证是逻辑验证，是在仿真环境实现的。仿真环境和真实环境存在差异，不能模拟不同功能之间出现干扰等真实环境中的异常，因此基于仿真环境的寄存器覆盖率测试只在局部仿真环境下有效。专用芯片在真实环境下的测试专注在具体功能点，测试用例主要涉及单点功能，很难覆盖该单点功能下所有寄存器。随着测试的深入，测试用例会不断补充，力求在真实环境中对专用芯片的测试可以覆盖所有的寄存器。相关技术中的其他测试主要测试的是软件逻辑或功能，并不涉及寄存器覆盖率。真实环境下的寄存器覆盖率验证，由于寄存器中包含成百上千个表，且表中还可能包含几十个字段(field)，测试用例中的一个命令行可能只操作表中的一个字段，因此很难通过人工确定一个测试用例的寄存器覆盖率；此外，实际使用的测试用例和覆盖所有寄存器测试用例之间的差距很难直观判断，因此、测试容易出现寄存器遗漏，从而影响专用芯片的测试；另外，由于无法准确计算测试用例的寄存器覆盖率，因此测试进度也会难以把控，很容易造成专用芯片的测试时间超出预期。
[0004]综上，如何实现真实环境下寄存器覆盖率的准确测试，成为一个有待解决的问题。

技术实现思路

[0005]以下是对本文详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。
[0006]本专利技术实施例提供一种验证寄存器覆盖率的方法、计算机存储介质及终端，能够实现测试可控的寄存器覆盖的验证。
[0007]本专利技术实施例提供了一种验证寄存器覆盖率的方法，包括：对芯片的每一个功能点，确定该功能点的第一命令行集合和第二命令行集合，其中，所述第一命令行集合是覆盖该功能点对应的所有寄存器操作的命令行的集合，所述第二命令行集合是已执行的该功能点测试实例中包含的命令行的集合；
[0008]根据所述芯片中功能点的所述第一命令行集合和所述第二命令行集合，确定已进行的功能点测试的寄存器覆盖率。
[0009]另一方面，本专利技术实施例还提供一种计算机存储介质，所述计算机存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述验证寄存器覆盖率的方法。
[0010]再一方面，本专利技术实施例还提供一种终端，包括：存储器和处理器，所述存储器中保存有计算机程序；其中，
[0011]处理器被配置为执行存储器中的计算机程序；
[0012]所述计算机程序被所述处理器执行时实现如上述验证寄存器覆盖率的方法。
[0013]本申请技术方案包括：对芯片的每一个功能点，确定该功能点的第一命令行集合和第二命令行集合，其中，第一命令行集合是覆盖该功能点对应的所有寄存器操作的命令行的集合，第二命令行集合是已执行的该功能点测试实例中包含的命令行的集合；根据芯片中功能点的第一命令行集合和第二命令行集合，确定已进行的功能点测试的寄存器覆盖率。本专利技术实施例通过命令行实现了寄存器覆盖率的统计，提升了芯片测试的可控性。
[0014]本专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
[0015]附图用来提供对本专利技术技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本专利技术的技术方案，并不构成对本专利技术技术方案的限制。
[0016]图1为本专利技术实施例验证寄存器覆盖率的方法的流程图；
[0017]图2为本专利技术实施例命令行的处理示意图。
具体实施方式
[0018]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下文中将结合附图对本专利技术的实施例进行详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。
[0019]在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行。并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。
[0020]图1为本专利技术实施例验证寄存器覆盖率的方法的流程图，如图1所示，包括：
[0021]步骤101、对芯片的每一个功能点，确定该功能点的第一命令行集合和第二命令行集合，其中，第一命令行集合是覆盖该功能点对应的所有寄存器操作的命令行的集合，第二命令行集合是已执行的该功能点测试实例中包含的命令行的集合；
[0022]步骤102、根据芯片中功能点的第一命令行集合和第二命令行集合，确定已进行的功能点测试的寄存器覆盖率。
[0023]本专利技术实施例通过命令行实现了寄存器覆盖率的统计，提升了芯片测试的可控性。
[0024]在一种示例性实例中，本专利技术实施例芯片包括专用芯片。
[0025]在一种示例性实例中，本专利技术实施例芯片包含一个以上功能点，基于上述功能点测试的寄存器覆盖率的方法，本专利技术实施例可以确定所有功能点测试的寄存器覆盖率，进一步的，基于每一个功能点的测试的寄存器覆盖率，可以确定芯片的所有功能点测试的寄存器覆盖率。
[0026]在一种示例性实例中，本专利技术实施例可以在执行专用芯片测试前，根据需要进行测试的功能点，确定上述第一命令行集合。
[0027]在一种示例性实例中，本专利技术实施例根据芯片中功能点的第一命令行集合和第二命令行集合，确定已进行的功能点测试的寄存器覆盖率，包括：
[0028]对芯片的每一功能点，根据该功能点的第一命令行集合和第二命令行集合，确定对该功能点已进行的功能点测试的寄存器覆盖率。
[0029]在一种示例性实例中，本专利技术实施例根据该功能点的第一命令行集合和第二命令行集合，确定对该功能点已进行的功能点测试的寄存器覆盖率，包括：
[0030]将第一命令行集合中所有的命令行均分解为单条命令行，得到包含分解得到的所有单条命令行的第三命令行集合；
[0031]对比分解得到的所有单条命令行(第三命令行集合中的单条命令行)和第二命令行集合中的命令行，确定对该功能点已进行的功能点测试的寄存器覆盖率；
[0032]其中，单条命令行指对一个以上寄存器的一个以上地址进行同一种类操作的命令行；第二命令行集合中的命令行均为单条命令行。
[0033]在一种示例性实例中，本专利技术实施例将命令行集合中所有的命令行均分解为单条命令行，包括：
[0034]将第一命令行集合中的命令行的所有多选项进行任意组合，基于每一组合生成一个单条命令行；...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种验证寄存器覆盖率的方法，包括：对芯片的每一个功能点，确定该功能点的第一命令行集合和第二命令行集合，其中，所述第一命令行集合是覆盖该功能点对应的所有寄存器操作的命令行的集合，所述第二命令行集合是已执行的该功能点测试实例中包含的命令行的集合；根据所述芯片中功能点的所述第一命令行集合和所述第二命令行集合，确定已进行的功能点测试的寄存器覆盖率。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述芯片中功能点的所述第一命令行集合和所述第二命令行集合，确定已进行的功能点测试的寄存器覆盖率，包括：对所述芯片的每一功能点，根据该功能点的所述第一命令行集合和所述第二命令行集合，确定对该功能点已进行的功能点测试的寄存器覆盖率。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据该功能点的所述第一命令行集合和所述第二命令行集合，确定对该功能点已进行的功能点测试的寄存器覆盖率，包括：将所述第一命令行集合中所有的命令行均分解为单条命令行，得到包含分解得到的所有单条命令行的第三命令行集合；对比分解得到的所有单条命令行和所述第二命令行集合中的命令行，确定对该功能点已进行的功能点测试的寄存器覆盖率；其中，所述单条命令行指对一个以上寄存器的一个以上地址进行同一种类操作的命令行；所述第二命令行集合中的命令行均为单条命令行。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述将所述第一命令行集合中所有的命令行均分解为单条命令行，包括：将所述第一命令行集合中的命令行的所有多选项进行任意组合，基于每一组合生成一个单条命令行；其中，所述多选项包括：可选字符项、必选字符项和多选值项。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述将所述第一命令行集合中的命令行的所有多选项进行任意组合，基于每一组合生成一个单条命令行，包括：通过以下一种以上方式确定每一个所述第一命令行集合中的命令行包含的单条命令行：对预先确定的多选值项中包含的整数字段，分别生成对寄存器包含的表中整数字段进行读写操作的单条命令行；根据预先设定的必选字符项，生成执行所述功能点测试必须运行的一个以上单条命令行；根据预先设定的可选字符项，生成用于实现寄存器覆盖的一个以上单条命令行。6.根据权利要求3所述的方法，...

【专利技术属性】
技术研发人员：李昭瑞，
申请(专利权)人：北京晟芯网络科技有限公司，
类型：发明
国别省市：