集成电路内部数据包路由的验证方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

本申请属于集成电路设计领域，本申请提供一种集成电路内部数据包路由的验证方法、装置、设备及介质，所述集成电路内部数据包路由的验证方法包括基于验证平台获取待确定反馈数据，并将所述待确定反馈数据输入至比较器中，并将预设反馈数据和所述待确定反馈数据进行比较；在所述预设反馈数据和所述待确定反馈数据相同时，确定所述待确定反馈数据为合法数据，以实现对待确定集成电路内部数据包路由的验证。通过上述方式，本申请获取由验证平台对待反馈数据进行仿真，查找验证平台的设计是否存在缺陷，提高了对集成电路内部数据包路由的验证效率，解决了目前SoC的验证效率低下的技术问题。术问题。术问题。

【技术实现步骤摘要】
集成电路内部数据包路由的验证方法、装置、设备及介质


[0001]本专利技术涉及集成电路设计领域，尤其涉及一种集成电路内部数据包路由的验证方法、装置、设备及介质。

技术介绍

[0002]随着工艺能力和设计能力的快速发展，为了满足嵌入式系统市场对于成本、功能和工号的要求，SoC(Sysyem on
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Chip)设计技术已经成为一种发展趋势。
[0003]随着SoC设计规模的与日俱增，其功能日趋复杂，芯片验证的准确性、完备性和稳定性成为芯片研发的重点。同时System Verilog和UVM的专利技术与发展使得软件仿真验证速度高出大大提高，也提高了验证的可靠性，还可以提高流片成功率，也加速了SoC的整体开发速度。
[0004]面对复杂IP以及大规模的SoC，其内部的数据交换则尤为关键，在验证过程中也最容易产生错误导致整体性能不足甚至直接流片失败，并且其验证周期也十分漫长且容易出错。因此，如何解决SoC的验证效率低下成为了目前亟待解决的技术问题。

技术实现思路

[0005]本专利技术的主要目的在于提供一种集成电路内部数据包路由的验证方法、装置、设备及计算机可读存储介质，旨在解决现有SoC的验证效率低下的技术问题。
[0006]为实现上述目的，本专利技术提供一种集成电路内部数据包路由的验证方法，所述集成电路内部数据包路由的验证方法包括：基于验证平台获取待确定反馈数据，并将所述待确定反馈数据输入至比较器中，并将预设反馈数据和所述待确定反馈数据进行比较；在所述预设反馈数据和所述待确定反馈数据相同时，确定所述待确定反馈数据为合法数据，以实现对待确定集成电路内部数据包路由的验证。
[0007]进一步地，基于验证平台获取待确定反馈数据，并将所述待确定反馈数据输入至比较器中，并将预设反馈数据和所述待确定反馈数据进行比较之前，包括：
[0008]基于所述验证平台的寄存器表，获取启动指令；
[0009]通过所述验证平台接收所述启动指令，并确定所述验证平台的发送端的流量控制信号的数量；
[0010]基于所述流量控制信号的数量，生成所述待确定反馈数据。
[0011]进一步地，通过所述验证平台接收所述启动指令，并确定所述验证平台的发送端的流量控制信号数量，包括：
[0012]通过所述发送端接收所述待确定数据包路由中REQ通道和DATA通道的所述流量控制信号；
[0013]通过所述验证平台的接收端发送RSP通道的所述流量控制信号；
[0014]在所述发送端的所述流量控制信号的数量为至少一个时，通过驱动程序发送所述流量控制信号对应的数据；
[0015]通过所述验证平台的监视器采集所述流量控制信号对应的数据，并将所述流量控制信号对应的数据输入至预设参考模型中。
[0016]进一步地，通过所述验证平台的监视器采集所述流量控制信号对应的数据，并将所述流量控制信号对应的数据输入至预设参考模型中之后，包括：
[0017]通过所述接收端接收所述数据包路由转发的所述流量控制信号对应的数据；
[0018]通过所述监视器将所述流量控制信号对应的数据发送至所述比较器中，作为所述待确定反馈数据。
[0019]进一步地，在所述预设反馈数据和所述待确定反馈数据相同时，确定所述待确定反馈数据为合法数据，以实现对待确定集成电路内部数据包路由的验证，包括：
[0020]基于REQ通道、DATA通道和RSP通道，在预设参考模型中输出所述待确定反馈数据；
[0021]根据所述REQ通道、所述DATA通道和所述RSP通道，通过比较器比较所述待确定反馈数据与所述预设反馈数据。
[0022]进一步地，根据所述REQ通道、所述DATA通道和所述RSP通道，通过比较器比较所述待确定反馈数据与所述预设反馈数据之前，包括：
[0023]通过所述比较器将所述待确定反馈数据发送至计分板中；
[0024]通过所述计分板获取期望数据，并将所述期望数据作为所述预设反馈数据。
[0025]进一步地，集成电路内部数据包路由的验证方法还包括：
[0026]在所述验证平台中，通过PORT例化生成发送端和接收端。
[0027]此外，为实现上述目的，本专利技术还提供一种集成电路内部数据包路由的验证装置，所述集成电路内部数据包路由的验证装置包括：比较器模块，用于基于验证平台获取待确定反馈数据，并将所述待确定反馈数据输入至比较器中，并将预设反馈数据和所述待确定反馈数据进行比较；
[0028]验证模块，用于在所述预设反馈数据和所述待确定反馈数据相同时，确定所述待确定反馈数据为合法数据，以实现对待确定集成电路内部数据包路由的验证。
[0029]此外，为实现上述目的，本专利技术还提供一种集成电路内部数据包路由的验证设备，所述集成电路内部数据包路由的验证设备包括处理器、存储器、以及存储在所述存储器上并可被所述处理器执行的集成电路内部数据包路由的验证程序，其中所述集成电路内部数据包路由的验证程序被所述处理器执行时，实现如上述的集成电路内部数据包路由的验证方法的步骤。
[0030]此外，为实现上述目的，本专利技术还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有集成电路内部数据包路由的验证程序，其中所述集成电路内部数据包路由的验证程序被处理器执行时，实现如上述的集成电路内部数据包路由的验证方法的步骤。
[0031]本专利技术提供一种集成电路内部数据包路由的验证方法，所述集成电路内部数据包路由的验证方法包括基于验证平台获取待确定反馈数据，并将所述待确定反馈数据输入至比较器中，并将预设反馈数据和所述待确定反馈数据进行比较；在所述预设反馈数据和所述待确定反馈数据相同时，确定所述待确定反馈数据为合法数据，以实现对待确定集成电路内部数据包路由的验证。通过上述方式，本申请获取由验证平台对待反馈数据进行仿真，查找验证平台的设计是否存在缺陷，提高了对集成电路内部数据包路由的验证效率，解决
了目前SoC的验证效率低下的技术问题。
附图说明
[0032]图1为本专利技术实施例方案中涉及的集成电路内部数据包路由的验证设备的硬件结构示意图；
[0033]图2为本专利技术集成电路内部数据包路由的验证方法第一实施例的流程示意图；
[0034]图3为本专利技术集成电路内部数据包路由的验证方法第二实施例的流程示意图；
[0035]图4为本专利技术集成电路内部数据包路由的验证方法的验证平台示意框图；
[0036]图5为本专利技术集成电路内部数据包路由的验证方法第三实施例的流程示意图；
[0037]图6为本专利技术集成电路内部数据包路由的验证方法第四实施例的流程示意图；
[0038]图7为本专利技术集成电路内部数据包路由的验证装置第一实施例的功能模块示意图。
[0039]本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0040]应当理解，此处所描本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路内部数据包路由的验证方法，其特征在于，所述集成电路内部数据包路由的验证方法包括：基于验证平台获取待确定反馈数据，并将所述待确定反馈数据输入至比较器中，并将预设反馈数据和所述待确定反馈数据进行比较；在所述预设反馈数据和所述待确定反馈数据相同时，确定所述待确定反馈数据为合法数据，以实现对待确定集成电路内部数据包路由的验证。2.如权利要求1所述的集成电路内部数据包路由的验证方法，其特征在于，所述基于验证平台获取待确定反馈数据，并将所述待确定反馈数据输入至比较器中，并将预设反馈数据和所述待确定反馈数据进行比较之前，包括：基于所述验证平台的寄存器表，获取启动指令；通过所述验证平台接收所述启动指令，并确定所述验证平台的发送端的流量控制信号的数量；基于所述流量控制信号的数量，生成所述待确定反馈数据。3.如权利要求2所述的集成电路内部数据包路由的验证方法，其特征在于，所述通过所述验证平台接收所述启动指令，并确定所述验证平台的发送端的流量控制信号数量，包括：通过所述发送端接收所述待确定数据包路由中REQ通道和DATA通道的所述流量控制信号；通过所述验证平台的接收端发送RSP通道的所述流量控制信号；在所述发送端的所述流量控制信号的数量为至少一个时，通过驱动程序发送所述流量控制信号对应的数据；通过所述验证平台的监视器采集所述流量控制信号对应的数据，并将所述流量控制信号对应的数据输入至预设参考模型中。4.如权利要求3所述的集成电路内部数据包路由的验证方法，其特征在于，所述通过所述验证平台的监视器采集所述流量控制信号对应的数据，并将所述流量控制信号对应的数据输入至预设参考模型中之后，包括：通过所述接收端接收所述数据包路由转发的所述流量控制信号对应的数据；通过所述监视器将所述流量控制信号对应的数据发送至所述比较器中，作为所述待确定反馈数据。5.如权利要求1所述的集成电路内部数据包路由的验证方法，其特征在于，所述在所述预设反馈数据和所述待确定反馈数据相同时，确定所述待确定反馈数据为合法数据...

【专利技术属性】
技术研发人员：隋金雪，沈姒清，张霞，王海洋，
申请(专利权)人：烟台中科网络技术研究所，
类型：发明
国别省市：