一种弹出式芯片测试插座制造技术

本实用新型专利技术公开了一种弹出式芯片测试插座，包括：底座、弹出组件，芯片；所述底座的中部设有与所述芯片匹配的检测腔，所述检测腔上设有若干插孔，所述插孔内分别安装有弹片，所述弹片相对设置于所述插孔内，所述检测腔的中部还设有容纳孔，所述弹出组件放置于所述容纳孔内；所述芯片放置于所述检测腔内，所述芯片的底面设有若干与所述插孔对应的触脚，所述触脚插入所述插孔内与所述弹片抵接。采用以上设计，通过弹出组件的设置，使带触脚的芯片从测试插座中取出更方便，更快捷，且结构简单，设计合理，具有较大的应用场景，且操作简易，无需专业的操作人员，从而减少人工的聘请成本。从而减少人工的聘请成本。从而减少人工的聘请成本。

【技术实现步骤摘要】
一种弹出式芯片测试插座


[0001]本技术涉及芯片测试
，特别是涉及一种弹出式芯片测试插座。

技术介绍

[0002]在芯片的生产过程中，对芯片的测试是一个重要步骤，通常需要芯片测试座对芯片进行测试，检查在线的单个芯片元器件以及各电路网络的开、短路情况，以及模拟器件功能和数字器件逻辑功能测试等，因此，芯片测试座的性能是比较重要的研究内容。
[0003]目前芯片检测通常采用自动化设备检测，自动化设备可以全时段工作，从而提升工作效率，然而自动化设备的购买成本高，且如果不是全套的自动化流水线，那单独自动化检测设备的性价比相对于人工来说就要差很多，因为芯片在检测时需要停留一段时间来检测，因此导致自动化设备检测的效率并不会比人工高很多，导致单独的自动化检测设备的性价比相对人工而言就要低很多。
[0004]因此，现在亟需设计一种能解决上述一个或者多个问题的用于弹出式芯片测试插座。

技术实现思路

[0005]为解决现有技术中存在的一个或者多个问题，本技术提供了一种弹出式芯片测试插座。
[0006]本技术为达到上述目的所采用的技术方案是：一种弹出式芯片测试插座，其特征在于，包括：底座、弹出组件，芯片；所述底座的中部设有与所述芯片匹配的检测腔，所述检测腔上设有若干插孔，所述插孔内分别安装有弹片，所述弹片相对设置于所述插孔内，所述检测腔的中部还设有容纳孔，所述弹出组件放置于所述容纳孔内；所述芯片放置于所述检测腔内，所述芯片的底面设有若干与所述插孔对应的触脚，所述触脚插入所述插孔内与所述弹片抵接。<br/>[0007]在一个优选的实施例中，所述弹出组件包括：安装座、钩杆、顶出件；所述安装座固定于所述容纳孔的底部，所述，安装座的中部固定连接有弹簧，所述顶出件的底部设有通孔，所述弹簧远离所述安装座的一端固定于所述通孔内，所述顶出件的侧面上设有卡槽，所述钩杆的一端与所述安装座的侧壁转动连接，另一端滑动设置于所述卡槽内。
[0008]在一个优选的实施例中，所述卡槽呈“M”形，其的一端延伸出所述顶出件的底面，另一端呈预设角度朝延伸出所述顶出件底面的一端靠近并相连通。
[0009]在一个优选的实施例中，所述顶出件的侧壁上设有相对设置的滑条。
[0010]在一个优选的实施例中，所述容纳孔的侧壁上设有相对设置的滑槽，所述滑槽与所述滑条适配。
[0011]在一个优选的实施例中，所述检测腔相对的两侧上分别设有取放槽。
[0012]在一个优选的实施例中，所述滑槽之间还设有避让槽，所述避让槽自所述容纳孔的内壁向与所述滑槽相邻的一侧延伸。
[0013]本技术的有益效果是：相较于现有技术，本技术通过弹出组件的设置，使带触脚的芯片从测试插座中取出更方便，更快捷，且结构简单，设计合理，具有较大的应用场景，且操作简易，无需专业的操作人员，从而减少人工的聘请成本。
附图说明
[0014]图1为本技术较佳实施例的结构示意图；
[0015]图2为本技术较佳实施例底座的平面示意图；
[0016]图3为本技术较佳实施例截面示意图；
[0017]图4为本技术较佳实施例弹出组件的结构示意图；
[0018]图5为图3中A处的放大图；
[0019]图6为本技术较佳实施例芯片的结构示意图。
[0020]图中：
[0021]1、底座；11、检测腔；12、插孔；121、弹片；13、取放槽；14、容纳孔； 15、避让槽；16、滑槽；
[0022]2、弹出组件；21、顶出件；22、安装座；23、弹簧；24、钩杆；25、滑条；
[0023]3、芯片；31、触脚。
具体实施方式
[0024]为使本技术的上述目的、特征和优点能够更加浅显易懂，下面结合附图对本技术的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本技术。但是本技术能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本技术内涵的情况下做类似改进，因此本技术不受下面公开的具体实施例的限制。
[0025]如图1
‑
图6所示，本技术提供了一种弹出式芯片测试插座，其特征在于，包括：底座1、弹出组件2，芯片3；所述底座1的中部设有与所述芯片 3匹配的检测腔11，所述检测腔11上设有若干插孔12，所述插孔12内分别安装有弹片121，其中插孔12为间隔并列设置，且设有两列，所述弹片121相对设置于所述插孔12内，所述检测腔11的中部还设有容纳孔14，容纳孔14位于两例插孔12之间，所述弹出组件2放置于所述容纳孔14内，其中弹出组件 2的顶部高出于容纳孔14预设高度；所述芯片3放置于所述检测腔11内，所述芯片3的底面设有若干与所述插孔12对应的触脚31，所述触角插入所述通孔内与所述弹片121抵接。
[0026]需要说明的是，弹出组件2包括第一行程和第二行程，弹出组件2在初始状态时，弹出组件2的顶部与容纳孔14具有第一预设高度，当弹出组件2在初始状态下受到外界的按压力时，弹出组件2下沉并进入第一行程，当弹出组件2处于第一行程时，弹出组件2的顶部与容纳孔的高度低于第一预设高度，且弹出组件2无法弹出，当弹出组件2处于第一行程时，再次受到外界的按压力时，弹出组件2从第一行程进入第二行程，第二行程会使弹出组件2回到初始状态。
[0027]当需要检测时通过操作人员通过手动的方式将芯片3对着检测嵌放下，芯片3首先会与弹出组件2的顶部接触，通过操作人员对芯片3施加作用力，使芯片3将弹出组件2压下，弹出组件2进入第一行程，此时芯片3的触脚31 插入插孔12内，与弹片121抵接形成电连接，
使检测设备可对芯片3进行检测，此时即使弹出组件2失去作用力也不会弹出，当检测完毕后，通过操作人员再次的按压使弹出组件2进入第二行程，此时弹出组件2恢复到初始状态，在恢复的过程中将芯片3顶出，从而便于操作人员将芯片3取出。
[0028]可以理解的，通过弹出组件2的设置，使带触脚31的芯片3从测试插座中取出更方便，更快捷，且结构简单，设计合理，具有较大的应用场景，且操作简易，无需专业的操作人员，从而减少人工的聘请成本。
[0029]进一步的，弹出组件2包括：安装座22、钩杆24、顶出件21；其中安装座22固定在容纳孔14的底部上，在安装座22的中部上设有弹簧23，弹簧23 与安装座22固定连接，顶出件21套在弹簧23远离安装座22的一端上，且与弹簧23固定连接，在顶出件21的一端中部设有通孔，该通孔与弹簧23的直径相等，使顶出件21可套设在弹簧23上，在顶出件21的外侧壁上设有用于使弹出组件2进入第一行程和第二行程的卡槽，钩杆24呈“C”形，其的第一端与安装座22的侧壁转动连接，远离安装座22的第二端活动设置在卡槽内，使第二端可在卡槽内滑动。
[0030]进一步的，以图4的视图方向所示，卡槽呈“M”形，其的第一端竖直延伸至安装座22的底面，与安装座22本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种弹出式芯片测试插座，其特征在于，包括：底座、弹出组件，芯片；所述底座的中部设有与所述芯片匹配的检测腔，所述检测腔上设有若干插孔，所述插孔内分别安装有弹片，所述弹片相对设置于所述插孔内，所述检测腔的中部还设有容纳孔，所述弹出组件放置于所述容纳孔内；所述芯片放置于所述检测腔内，所述芯片的底面设有若干与所述插孔对应的触脚，所述触脚插入所述插孔内与所述弹片抵接。2.根据权利要求1所述的弹出式芯片测试插座，其特征在于，所述弹出组件包括：安装座、钩杆、顶出件；所述安装座固定于所述容纳孔的底部，所述，安装座的中部固定连接有弹簧，所述顶出件的底部设有通孔，所述弹簧远离所述安装座的一端固定于所述通孔内，所述顶出件的侧面上设有卡槽，所述钩杆的一端与所述安装座的侧壁...

【专利技术属性】
技术研发人员：何俊，李涛，王华伟，
申请(专利权)人：深圳市邦乐达科技有限公司，
类型：新型
国别省市：