一种半导体二极管检验测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术属于半导体二极管检测技术领域，尤其为一种半导体二极管检验测试装置，包括主体，主体上设置有连接端，主体上设置有检测安装处，主体上设置有检测槽，主体上靠近检测槽设置有指示灯，检测槽内设置有金属片，检测安装处内设置有检测孔，检测孔内设置有金属管，主体内设置有电路板，主体外侧设置有防护板，防护板与主体之间形成安装腔，安装腔内设置有硅胶球。本实用新型专利技术通过设置检测安装处、检测槽，可同时对两种两种不同的半导体二极管进行检测，提升半导体二极管检验测试装置的适用性，通过设置防护板、硅胶球，可以有效降低主体受到的外力，从而提升主体的防护性和稳定性。性。性。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体二极管检验测试装置


[0001]本技术涉及半导体二极管检测
，具体为一种半导体二极管检验测试装置。

技术介绍

[0002]半导体二极管生产过程中，为保障质量需要对半导体二极管进行检测，以测试半导体二极管是否能正常运作，所以需要半导体二极管检验测试装置对其进行检测，保障生产质量。
[0003]现有技术存在以下问题：
[0004]1、现有技术的半导体二极管检验测试装置，半导体二极管包含多种型号当前的检验测试装置在对半导体二极管进行检测时，只能同时对一种半导体二极管进行检测，适用性较差；
[0005]2、现有技术的半导体检验测试装置本身的外部结构简单，防护性、稳定性较差，受到外界冲击时容易受损。

技术实现思路

[0006]针对现有技术的不足，本技术提供了一种半导体二极管检验测试装置，解决了现今存在的只能同时对一种半导体二极管进行检测，适用性较差，本身的外部结构简单，防护性、稳定性较差，受到外界冲击时容易受损的问题。
[0007]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种半导体二极管检验测试本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体二极管检验测试装置，其特征在于，包括主体（1），所述主体（1）上设置有连接端（2），所述主体（1）上设置有检测安装处（3），所述主体（1）上设置有检测槽（4），所述主体（1）上靠近检测槽（4）设置有指示灯（5），所述检测槽（4）内设置有金属片（6），所述检测安装处（3）内设置有检测孔（7），所述检测孔（7）内设置有金属管（8），所述主体（1）内设置有电路板（9），所述主体（1）外侧设置有防护板（10），所述防护板（10）与主体（1）之间形成安装腔（11），所述安装腔（11）内设置有硅胶球（12）。2.根据权利要求1所述的一种半导体二极管检验测试装置，其特征在于：所述连接端（2）与外接电源之间存在电性连接。3.根据权利要求1所述的一种半导体二极管检验测试装置，其特征在于：所述电路板（9）与连接端（2）之间存在电性连接。4.根据权利要求1所述的一种半导体二极管检验测试装置，其特征在于：所...

【专利技术属性】
技术研发人员：辛言，
申请(专利权)人：天津天微莱半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：