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本实用新型属于半导体二极管检测技术领域，尤其为一种半导体二极管检验测试装置，包括主体，主体上设置有连接端，主体上设置有检测安装处，主体上设置有检测槽，主体上靠近检测槽设置有指示灯，检测槽内设置有金属片，检测安装处内设置有检测孔，检测孔内设置...
该专利属于天津天微莱半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过天津天微莱半导体有限公司授权不得商用。

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