本申请涉及液晶显示器生产技术领域，且公开了一种TFT晶体管半导体层短路测试装置，包括测试台，测试台的上端固定设有塑料盒，塑料盒的内部固定设有供电板，供电板上设有TFT供电组件，塑料盒的上端固定设有绝缘罩，绝缘罩的端面开设有通孔，且通孔的内部滑动连接有切换板，切换板的两个侧壁均固定设有绝缘杆，两个绝缘杆相反的一端均固定设有转接插头，绝缘罩的两个内壁均固定设有与转接插头位置相对于的转接插座，两个转接插座均连接有测试接线头，测试台上固定设有两个TFT安装板。本申请可以有效减少对TFT晶体管半导体层上下料所浪费的时间，提高整体的测试效率，同时可以进行短路保护。路保护。路保护。
【技术实现步骤摘要】
一种TFT晶体管半导体层短路测试装置
[0001]本申请涉及液晶显示器生产
，尤其涉及一种TFT晶体管半导体层短路测试装置。
技术介绍
[0002]TFT就是薄膜场效应晶体管，其是指液晶显示器上的每一液晶象素点都是由集成在其后的薄膜晶体管来驱动，从而可以做到高速度、高亮度、高对比度显示屏幕信息。
[0003]在实现本申请过程中，专利技术人发现该技术中至少存在如下问题，TFT的薄膜晶体管在装配生产完成后，为了确保质量合格，需要进行各项参数的测试，而对短路进行测试就是其中一项，在进行短路测试时，将TFT晶体管层接入标准的TFT供电板中，然后通入电流进行测试，但是在实际的测试过程中，对一个TFT晶体管层进行测试完成后，需要将该TFT晶体管层拆下后，并将下一个TFT晶体管层安装并接线后，才能进行下一个TFT晶体管的短路测试，导致整体的效率偏低，测试效果不佳，因此，提出一种TFT晶体管半导体层短路测试装置。
技术实现思路
[0004]本申请的目的是为了解决现有技术中对一个TFT晶体管层进行测试完成后，需要将该TFT晶体管层拆下后，并将下一个TFT晶体管层安装并接线后，才能进行下一个TFT晶体管的短路测试，导致整体的效率偏低，测试效果不佳的问题，而提出的一种TFT晶体管半导体层短路测试装置。
[0005]为了实现上述目的，本申请采用了如下技术方案：
[0006]一种TFT晶体管半导体层短路测试装置，包括测试台，所述测试台的上端固定设有塑料盒，所述塑料盒的内部固定设有供电板，所述供电板上设有TFT供电组件，所述塑料盒的上端固定设有绝缘罩，所述绝缘罩的端面开设有通孔，且通孔的内部滑动连接有切换板，所述切换板的两个侧壁均固定设有绝缘杆，两个所述绝缘杆相反的一端均固定设有转接插头，所述绝缘罩的两个内壁均固定设有与转接插头位置相对于的转接插座，两个所述转接插座均连接有测试接线头，所述测试台上固定设有两个TFT安装板，所述塑料盒的内部设有短路保护机构。
[0007]优选的，所述短路保护机构包括空心柱，所述空心柱的内部活动设有绝缘板，所述绝缘板的侧壁与空心柱的内壁均固定设有导电块，两个所述转接插条均与其中一个导电块电连接，所述空心柱的内部固定设有绝缘隔板，所述绝缘隔板的侧壁滑动连接有铁芯，所述铁芯的端部与绝缘板的侧壁固定连接，所述绝缘板的侧壁与绝缘隔板的侧壁之间共同固定设有第一弹簧，所述空心柱靠近铁芯的一端内壁固定设有与TFT供电组件连接的电磁铁，所述空心柱上设有与绝缘板位置相对应的卡接组件。
[0008]优选的，所述TFT供电组件包括AC/DC变换器、DC/DC变换器和驱动板。
[0009]优选的，所述绝缘板的侧壁固定设有导电柱，所述绝缘隔板的侧壁固定设有与导电柱位置相对应的触发块，所述绝缘罩的顶部固定商业与触发块电连接的警示灯。
[0010]优选的，所述卡接组件包括滑动设置于空心柱侧壁下端的T形杆，所述T形杆的杆端固定设有卡接块，所述卡接块的侧壁靠近绝缘板的一端开设有倾斜设置的坡口，所述卡接块的下端与空心柱的内壁之间共同固定设有第二弹簧。
[0011]优选的，所述通孔的内部固定设有导向杆，所述导向杆的杆壁与切换板的侧壁滑动连接。
[0012]优选的，所述切换板的下端固定设有铁条，所述绝缘罩的两个内壁下端均固定设有与铁条位置相对应的磁吸块。
[0013]与现有技术相比，本申请提供了一种TFT晶体管半导体层短路测试装置，具备以下有益效果：
[0014]1、该TFT晶体管半导体层短路测试装置，通过设有的测试台、塑料盒、供电板、绝缘罩、TFT供电组件、切换板、绝缘杆、转接插头、转接插座、测试接线头、TFT安装板的相互配合，可以通过TFT供电组件配合转接插座、转接插头和测试接线头为TFT晶体管半导体层进行短路测试，且通过转接插座、转接插头和测试接线头的冗余设计，可以在测试一个TFT晶体管半导体层时，安装另一个TFT晶体管半导体层，有效减少上下料所浪费的时间，提高整体的测试效率。
[0015]2、该TFT晶体管半导体层短路测试装置，通过设有的短路保护机构，可以利用短路时的瞬时大电流使电磁铁工作断开TFT晶体管半导体层的电路，从而可以对TFT供电组件和TFT晶体管半导体层进行保护。
[0016]该装置中未涉及部分均与现有技术相同或可采用现有技术加以实现，本申请可以有效减少对TFT晶体管半导体层上下料所浪费的时间，提高整体的测试效率，同时可以进行短路保护。
附图说明
[0017]图1为本申请提出的一种TFT晶体管半导体层短路测试装置的结构示意图；
[0018]图2为图1中空心柱的内部结构示意图；
[0019]图3为图1中TFT供电组件的结构示意图。
[0020]图中：1、测试台；2、塑料盒；3、供电板；4、绝缘罩；5、切换板；6、绝缘杆；7、转接插头；8、转接插座；9、测试接线头；10、TFT安装板；11、空心柱；12、绝缘板；13、导电块；14、绝缘隔板；15、铁芯；16、第一弹簧；17、电磁铁；18、AC/DC变换器；19、DC/DC变换器；20、驱动板；21、导向杆；22、导电柱；23、触发块；24、警示灯；25、T形杆；26、卡接块；27、第二弹簧；28、铁条；29、磁吸块。
具体实施方式
[0021]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0022]参照图1
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3，一种TFT晶体管半导体层短路测试装置，包括测试台1，测试台1的上端固定设有塑料盒2，塑料盒2的内部固定设有供电板3，供电板3上设有TFT供电组件，塑料盒2的上端固定设有绝缘罩4，绝缘罩4的端面开设有通孔，且通孔的内部滑动连接有切换板5，切换板5的两个侧壁均固定设有绝缘杆6，两个绝缘杆6相反的一端均固定设有转接插头7，
绝缘罩4的两个内壁均固定设有与转接插头7位置相对于的转接插座8，两个转接插座8均连接有测试接线头9，测试台1上固定设有两个TFT安装板10，塑料盒2的内部设有短路保护机构。
[0023]短路保护机构包括空心柱11，空心柱11的内部活动设有绝缘板12，绝缘板12的侧壁与空心柱11的内壁均固定设有导电块13，两个转接插条均与其中一个导电块13电连接，空心柱11的内部固定设有绝缘隔板14，绝缘隔板14的侧壁滑动连接有铁芯15，铁芯15的端部与绝缘板12的侧壁固定连接，绝缘板12的侧壁与绝缘隔板14的侧壁之间共同固定设有第一弹簧16，空心柱11靠近铁芯15的一端内壁固定设有与TFT供电组件连接的电磁铁17，空心柱11上设有与绝缘板12位置相对应的卡接组件，正常测试情况下，电磁铁17产生的磁吸力小于第一弹簧16的弹力，此时两个导电块13相接触，当发生短路情况时，由于瞬时电流的增加，电磁铁17产生较大的磁吸力，此时可以吸附铁芯15，从而可以通过绝缘板12带动两个导电块13分离，此时即可本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种TFT晶体管半导体层短路测试装置，包括测试台(1)，其特征在于，所述测试台(1)的上端固定设有塑料盒(2)，所述塑料盒(2)的内部固定设有供电板(3)，所述供电板(3)上设有TFT供电组件，所述塑料盒(2)的上端固定设有绝缘罩(4)，所述绝缘罩(4)的端面开设有通孔，且通孔的内部滑动连接有切换板(5)，所述切换板(5)的两个侧壁均固定设有绝缘杆(6)，两个所述绝缘杆(6)相反的一端均固定设有转接插头(7)，所述绝缘罩(4)的两个内壁均固定设有与转接插头(7)位置相对于的转接插座(8)，两个所述转接插座(8)均连接有测试接线头(9)，所述测试台(1)上固定设有两个TFT安装板(10)，所述塑料盒(2)的内部设有短路保护机构。2.根据权利要求1所述的一种TFT晶体管半导体层短路测试装置，其特征在于，所述短路保护机构包括空心柱(11)，所述空心柱(11)的内部活动设有绝缘板(12)，所述绝缘板(12)的侧壁与空心柱(11)的内壁均固定设有导电块(13)，两个所述转接插条均与其中一个导电块(13)电连接，所述空心柱(11)的内部固定设有绝缘隔板(14)，所述绝缘隔板(14)的侧壁滑动连接有铁芯(15)，所述铁芯(15)的端部与绝缘板(12)的侧壁固定连接，所述绝缘板(12)的侧壁与绝缘隔板(14)的侧壁之间共同固定设有第一弹簧(16)，所述空心柱(11)靠近铁芯(15)的一端内壁固定设有与TFT供电组件连接的...
【专利技术属性】
技术研发人员：林国强，李杨，卢列燕，
申请(专利权)人：深圳市浩然显示有限公司，
类型：新型
国别省市：
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