电子设备的发光二极管灯的测试组件制造技术

本实用新型专利技术提供了一种电子设备的发光二极管灯的测试组件。电子设备(9)包括一个壳体(92)和设置于壳体内部的数个发光二极管灯(96)，壳体(92)上形成与数个发光二极管灯一一相对的透光孔(94)。测试组件包括一个筛光块(10)和数个光电传感器(20)。筛光块(10)上形成有平行开设的数个筛光通孔(12)，其包括一个进光端(14)和一个采集端(16)，筛光块(10)设置成当抵靠在壳体的表面时能使进光端(14)与透光孔(94)一一对应。光电传感器(20)一一对应地设置于筛光块(10)上的采集端(16)。本实用新型专利技术提供的测试组件，利用传感器自动测试电子设备的发光二极管灯，更省时省力。更省时省力。更省时省力。

【技术实现步骤摘要】
电子设备的发光二极管灯的测试组件


[0001]本技术涉及一种测试组件，尤其是一种用于电子设备的发光二极管灯的测试组件。

技术介绍

[0002]电子设备经常设置发光二极管灯以指示运行状态，电子设备在出厂前需要对发光二极管灯进行测试，以确保能够实现指示运行状态的功能。部分电子设备具有数个发光二极管灯，且设置于壳体内距离壳体上透光孔一定距离的位置，在使用传感器对一个发光二极管灯进行测试时容易受到距离较近的另一个发光二极管灯的影响，因此目前通常使用人工识别判断，不仅费力，而且容易出现差错。

技术实现思路

[0003]本技术的目的是提供一种电子设备的发光二极管灯的测试组件，利用传感器自动测试电子设备的发光二极管灯，更省时省力。
[0004]本技术提供了一种电子设备的发光二极管灯的测试组件，电子设备包括一个壳体和设置于壳体内部的数个发光二极管灯，壳体上形成与数个发光二极管灯一一相对的透光孔。测试组件包括一个筛光块和数个光电传感器。筛光块上形成有平行开设的数个筛光通孔，其包括一个进光端和一个采集端，筛光块设置成当抵靠在壳体的表面时能使进光本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.电子设备的发光二极管灯的测试组件，所述电子设备(9)包括一个壳体(92)和设置于所述壳体(92)内部的数个发光二极管灯(96)，所述壳体(92)上形成与数个所述发光二极管灯(96)一一相对的透光孔(94)，其特征在于，所述测试组件包括：一个筛光块(10)，其上形成有平行开设的数个筛光通孔(12)，其包括一个进光端(14)和一个采集端(16)，所述筛光块(10)设置成当抵靠在所述壳体(92)的表面时能使所述进光端(14)与所述透光孔(94)一一对应；以及数个光电传感器(20)，数个所述光电传感器(20)一一对应地设置于所述筛光块(10)上的所述采集端(16)。2.如权利要求1所述的电子设备的发光二极管灯的测试组件，其特征在于，还包括：一个信号转换器(3)，其接收来自所述数个光电传感器(20)的模拟量信号，并生成指示所述电子设备(9)是否通过测试的信号。3.如权利要求2所述的电子设备的发光二极管灯的测试组件，其特征在于，所述信号转换器(3)中有：数个模数转换电路(30)，所述模数转换电路(30)一一对应地连接所述光电传感器(20)，所述模数转换电路(30)能够将接收到的所述模拟量信号并转化为数字量信号；数个延时电路(40)，所述延时电路(40)一一对应地连接所述模数转换电路(30)，所述延时电路(40)能够接收所述模数转换电路(30)转化的所述数字量信号，并且在一个预设的时间内持续输出所述数字量信号；以及一个门电路(50)，其连...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴爽，林哲熙，孙宏书，石林，朱星，
申请(专利权)人：北京西门子西伯乐斯电子有限公司，
类型：新型
国别省市：