调整采样时间参数的方法、系统及应用技术方案

为了克服现有技术的不足，本发明专利技术提供了调整采样时间参数的方法、系统及应用，包括：设定采样电压的标准值和比较时间步径；持续采集采样电压，通过所述标准值和所述比较时间步径，获取采样电压稳定时间点；通过所述采样电压稳定时间点与预设延时时间构成调整后采样时间参数；将所述调整后采样时间参数作为本次采样的开始时间，并将所述调整后采样时间参数存储在寄存器中。在后续的仿真文件转换到某特定机台的pattern文件时，就可以直接调用该调整后采样时间参数，使用调整后采样时间参数对应的时间直接进行采样，而无需AE人员的持续调整，节省了大量时间和工作量。节省了大量时间和工作量。节省了大量时间和工作量。

【技术实现步骤摘要】
调整采样时间参数的方法、系统及应用


[0001]本专利技术涉及芯片设计领域，尤其涉及调整采样时间参数的方法、系统及应用。

技术介绍

[0002]芯片设计，又称集成电路设计（Integrated circuit design, IC design），亦可称之为超大规模集成电路设计（VLSI design），是指以集成电路、超大规模集成电路为目标的设计流程。集成电路设计涉及对电子器件（例如晶体管、电阻器、电容器等）、器件间互连线模型的建立。所有的器件和互连线都需安置在一块半导体衬底材料之上，这些组件通过半导体器件制造工艺（例如光刻等）安置在单一的硅衬底上，从而形成电路。
[0003]而在芯片设计过程中的仿真验证是比较关键的一步；仿真验证不仅能够有效地缩短研发周期，同时还可节省实验研究成本，达到事半功倍效果，助力于前瞻技术的研发，抢占市场先机，实现最大化产业价值。
[0004]但是在仿真验证过程中，将仿真文件转换到某特定机台的pattern文件时，有些参数，如采样时间的确定，需要AE人员手动的不断的调试，直到找到合适的采样时间，这个过本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种调整采样时间参数的方法，其特征在于，包括：设定采样电压的标准值和比较时间步径；持续采集采样电压，通过所述标准值和所述比较时间步径，获取采样电压稳定时间点；通过所述采样电压稳定时间点与预设延时时间构成调整后采样时间参数；将所述调整后采样时间参数作为本次采样的开始时间，并将所述调整后采样时间参数存储在寄存器中。2.根据权利要求1所述的调整采样时间参数的方法，其特征在于，在将所述调整后采样时间参数存储在寄存器后，还包括：从所述寄存器中调用所述调整后采样时间参数；在对待转换成pattern文件的仿真文件中的采样时间参数进行调试时，将所述调整后采样时间参数设定为所述本次采样后续任一采样的采样开始时间。3.根据权利要求1所述的调整采样时间参数的方法，其特征在于，获取所述采样电压稳定时间点的步骤，包括：以预设单位时间作为所述比较时间步径，将实际采样电压与所述标准值进行比较；当，所述实际采样电压连续高于所述标准值N个所述比较时间步径后，将第N个周期对应的时间点作为所述采样电压稳定时间点，N=1，2，3
……
。4.一种如权利要求1
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3任一项所述调整采样时间参数的方法在LCD Driver测试方向上的应用，其特征在于，包括：设定比较器中的标准电压和比较时间步径；采集LCD引脚的电压值作为实际采样电压，并与所述标准电压进行比较；持续采集实际采样电压与所述标准电压的比较结果；当，所述实际采样电压连续高于所述标准值N个所述比较时间步径后，将第N个周期对应的时间点作为所述采样电压稳定时间点，N=1，2，3
……
；将所述采样电压稳定时间点与预设延时时间进行相加，得到开始对LCD引脚采样的调整后采样时间参数；将所述调整后采样时间参数进行存储，写入指定的寄存器。5.根据权利要求4所述的应用，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：邬刚，凌云，
申请(专利权)人：杭州加速科技有限公司，
类型：发明
国别省市：