一种米粒检测设备制造技术

技术编号:36377644 阅读:50 留言:0更新日期:2023-01-18 09:38
本发明专利技术公开了一种米粒检测设备,包括:上料机构,包括料斗、储料仓、振动机构、减振器以及上料支架;米粒传输机构,包括用于逐粒传送米粒的水平料道和倾斜料道;水平料道沿输送方向穿过储料仓,倾斜料道斜向地设置于水平料道的前下方;米粒感应机构,设于倾斜料道下端的米粒出口位置,用于感应是否有米粒掉落至米粒检测区域;视觉检测机构,包括在米粒检测区域的周围均匀分布的至少三个摄像单元,摄像单元用于对米粒进行360

【技术实现步骤摘要】
一种米粒检测设备


[0001]本专利技术涉及检测设备
,尤其涉及一种米粒检测设备。

技术介绍

[0002]为确保粮食安全,粮食流通企业、加工企业、科研检测单位等,需按照相关标准对粮食品质进行严格的检测。
[0003]大米外观品质检测包括分析评价各类大米(例如籼米、粳米、糯米、丝苗米,特种米、有机米等)的粒型、检测样品总米粒数、长度平均值、宽度平均值、长宽比平均值、整米粒数、碎米粒数、整精米率、垩白米粒数、垩白粒率、平均垩白大小、垩白度、透明度等。
[0004]目前,市场上用于检测大米品质的设备基本上都采用2D图像检测技术,不仅检测项目有限,而且检测精度不够可靠。如CN101088633A公开的光学裂纹粒挑选器,其裂纹粒识别单元中的识别部可以根据由CCD摄像机构造的第一CCD传感器接收的通用颗粒的光形成第一米粒图像,并根据由CCD摄像机构造的第二CCD传感器接收的通过颗粒的光形成第二米粒图像,并通过计算两个米粒图像之间光量的差获取裂纹图像,识别裂纹米粒。
[0005]上述设备功能过于单一,只具有识别裂纹米粒的功能,无法完成更多项目的检测,不能独立完成对大米米粒的分析检测。
[0006]有一些米粒检测设备虽然集成有多种功能,但由于结构设计不合理,存在设备尺寸和重量过大、成本过高等问题,根本无法达到便捷的要求,严重限制了此类设备的推广应用。

技术实现思路

[0007]本专利技术的目的在于提供一种米粒检测设备。该设备可实现米粒一次掉落时全外观的检测,并且大大提高了检测的准确率和增加了检测项目范围。
[0008]为实现上述目的,本专利技术提供一种米粒检测设备,包括:
[0009]上料机构,包括料斗和储料仓,所述料斗位于所述储料仓的上方,所述储料仓安装于振动机构,所述振动机构通过减振器安装于上料支架的顶部;
[0010]米粒传输机构,包括用于逐粒传送米粒的水平料道和倾斜料道;所述水平料道沿输送方向穿过所述储料仓,所述倾斜料道斜向地设置于所述水平料道的前下方,所述倾斜料道的上端对应于所述水平料道的前端;
[0011]米粒感应机构,设于所述倾斜料道下端的米粒出口位置,用于感应是否有米粒掉落至米粒检测区域;
[0012]视觉检测机构,包括在所述米粒检测区域的周围均匀分布的至少三个摄像单元,所述摄像单元用于对米粒进行360
°
的全方位拍照;
[0013]米粒回收机构,设于米粒掉落区域,用于收集从米粒检测区域掉落的米粒。
[0014]在一些实施方式中,所述摄像单元配置为当所述米粒感应机构感应到有米粒掉落至米粒检测区域时,所述至少三个摄像单元在米粒掉落的过程中按照设定的顺序依次对米
粒进行拍照。
[0015]在一些实施方式中,各所述摄像单元包括光源和相机;所述光源呈碗形且开口朝向米粒检测区域,所述相机位于所述光源的后方,所述光源的中心处设有对应于相机镜头的通孔。
[0016]在一些实施方式中,所述摄像单元通过支撑组件安装于米粒检测区域的周围,并具有整体倾斜的姿态,所述倾斜料道垂直于所述摄像单元整体所在的平面。
[0017]在一些实施方式中,所述支撑组件包括相机底板和竖向设置的相机支撑板;所述相机底板具有位于中心的圆环体和位于圆环体四周的支撑臂,各所述摄像单元分别安装于对应的支撑臂,所述相机底板通过位于其底部的旋转块与所述相机支撑板相铰接。
[0018]在一些实施方式中,所述支撑臂上设有用于固定相机的相机安装板以及用于安装光源的光源安装支架,所述光源安装支架具有连接于所述支撑臂的支座和连接于所述光源开口边缘的环形部分。
[0019]在一些实施方式中,所述支撑组件还包括与所述相机底板相平行的料道安装板,所述料道安装板呈环形,其与所述相机底板的圆环体通过多根料道支撑柱相连接,所述多根料道支撑柱在所述米粒检测区域的周围均匀分布,所述倾斜料道通过料道垫块固定于所述料道安装板。
[0020]在一些实施方式中,所述料道垫块位于所述倾斜料道的后侧,其一端与所述料道安装板相固定,另一端通过“U”形接头与所述倾斜料道相连接,所述倾斜料道的两侧设有沿长度方向排列分布的若干连接孔。
[0021]在一些实施方式中,所述米粒回收机构包括米粒下料管和米粒收集盒;所述米粒下料管固定于所述相机底板的圆环体下方,其下端具有半封闭的出口;所述米粒收集盒位于所述米粒下料管的前下方,其后侧设有微动开关。
[0022]在一些实施方式中,还包括机壳,所述料斗的进料口位于所述机壳的顶部,所述米粒收集盒的拉手位于所述机壳的侧下方,所述机壳的正面设有显示屏和操作按钮。
[0023]在一些实施方式中,所述米粒感应机构包括反射光纤部件,所述反射光纤部件斜向地设置于所述倾斜料道下端的米粒出口处,其用于发出检测光且检测光的光线路径与米粒的下落路径相交。
[0024]在一些实施方式中,所述水平料道和倾斜料道的料道槽在横断面上呈“V”字形,以逐粒传送米粒。
[0025]本专利技术所提供的米粒检测设备通过上料机构将米粒逐粒传送米粒传输机构的水平料道和倾斜料道中,经过倾斜料道的加速之后,米粒具有一定的速度冲过料道末端进行抛物线运动,在米粒进行抛物线运动时,触发米粒感应机构,进而由分布于米粒检测区域周围的至少三个摄像单元对米粒进行拍照,实现了米粒的逐粒掉落和360
°
的拍照检测,可用于分辨出互混、发黄、垩白、病斑、留皮、留胚、碎米等多种缺陷,并进行分级,扩大了检测的项目和范围,并且大大提高了检测的精度。
附图说明
[0026]图1为本专利技术实施例所提供的一种米粒检测设备的内部结构示意图;
[0027]图2为图1所示米粒检测设备在俯视视角下的轴侧图;
[0028]图3为图1中所示上料机构的结构示意图;
[0029]图4为图1中所示视觉检测机构的结构示意图;
[0030]图5为图1所示米粒检测设备在去掉一个光源之后的侧视图;
[0031]图6为图1所示米粒检测设备在去掉三个光源之后在仰视视角下的轴侧图;
[0032]图7为本专利技术实施例所提供的一种米粒检测设备的外部结构示意图。
[0033]图中:
[0034]10.上料机构11.料斗12.储料仓13.振动机构14.减振器15.上料支架20.米粒传输机构21.水平料道211.“L”形挡板22.倾斜料道221.挡板30.米粒感应机构31.反射光纤部件40.视觉检测机构41.摄像单元411.光源412.相机50.米粒回收机构51.米粒下料管52.米粒收集盒53.微动开关60.支撑组件61.相机底板611.圆环体612.支撑臂613.相机安装板614.光源安装支架62.相机支撑板63.旋转块64.料道安装板65.料道支撑柱66.料道垫块100.机壳101.显示屏102.操作按钮。
具体实施方式
[0035]为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案,下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种米粒检测设备,其特征在于,包括:上料机构,包括料斗、储料仓、振动机构、减振器以及上料支架;所述料斗位于所述储料仓的上方,所述储料仓安装于所述振动机构,所述振动机构通过所述减振器安装于所述上料支架的顶部;米粒传输机构,包括用于逐粒传送米粒的水平料道和倾斜料道;所述水平料道沿输送方向穿过所述储料仓,所述倾斜料道斜向地设置于所述水平料道的前下方,所述倾斜料道的上端对应于所述水平料道的前端;米粒感应机构,设于所述倾斜料道下端的米粒出口位置,用于感应是否有米粒掉落至米粒检测区域;视觉检测机构,包括在所述米粒检测区域的周围均匀分布的至少三个摄像单元,所述摄像单元用于对米粒进行360
°
的全方位拍照;米粒回收机构,设于米粒掉落区域,用于收集从所述米粒检测区域掉落的米粒。2.根据权利要求1所述的米粒检测设备,其特征在于,所述摄像单元配置为当所述米粒感应机构感应到有米粒掉落至所述米粒检测区域时,所述至少三个摄像单元在米粒掉落的过程中按照设定的顺序依次对米粒进行拍照。3.根据权利要求2所述的米粒检测设备,其特征在于,各所述摄像单元包括光源和相机;所述光源呈碗形且开口朝向所述米粒检测区域,所述相机位于所述光源的后方,所述光源的中心处设有对应于所述相机镜头的通孔。4.根据权利要求3所述的米粒检测设备,其特征在于,所述摄像单元通过支撑组件安装于所述米粒检测区域的周围,并具有整体倾斜的姿态,所述倾斜料道垂直于所述摄像单元整体所在的平面。5.根据权利要求4所述的米粒检测设备,其特征在于,所述支撑组件包括相机底板和竖向设置的相机支撑板;所述相机底板具有位于中心的圆环体和位于所述圆环体四周的支撑臂,各所述摄像单元分别安装于对应的支撑臂,所述相机底板通过位于其底部的旋转块...

【专利技术属性】
技术研发人员:郭盼盼薛轶黄志强林钊镔陈晓明何鸣吕江波沈小勇
申请(专利权)人:深圳思谋信息科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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