本申请公开了一种大跨度多光轴平行性测试装置以及测试方法，包括发射单元、平行光管、标定单元和待测光电系统；发射单元发射第一光束至平行光管上，平行光管将第一光束反射，形成第二光束；第二光束能够入射至标定单元与待测光电系统中的任一待测负载上；标定单元包括第一、第二待标定镜组和反射镜组；第一、第二待标定镜组配合，能够形成第一标、第二标定位置与光束平行光路；反射镜组包括第一反射镜与第二反射镜，且两者分别设于第一、第二标定位置处；第一、第二反射镜配合，用于向另一待测负载出射与第二光束平行的光束，从而使两个待测负载能够接收到相互平行的光束。本申请通过平行光管与标定单元配合能够对大跨度光轴进行平行性测试。行性测试。行性测试。
【技术实现步骤摘要】
一种大跨度多光轴平行性测试装置以及测试方法
[0001]本公开一般涉及光学测试领域，具体涉及一种大跨度多光轴平行性测试装置以及测试方法。
技术介绍
[0002]在多光路光电系统中，同时具有红外成像器、可见光成像器与激光测距机等不同类型的光电载荷，以实现对目标的多维度观测。该类系统中需要对各光电载荷进行光轴平行性调节和标定，从而实现各光电载荷对同一目标的稳定观测。
[0003]大型光电系统中各光电载荷之间的光轴空间跨度大，可达米级。在光轴平行性测试时仅使用平行光管对待测设备进行全口径覆盖的方法已不再适用。为此，本申请提出一种大跨度多光轴平行性测试装置以及测试方法能够有效解决上述问题。
技术实现思路
[0004]鉴于现有技术中的上述缺陷或不足，期望提供一种适用于大跨度多光轴的大跨度多光轴平行性测试装置以及测试方法。
[0005]第一方面，本申请提供一种大跨度多光轴平行性测试装置，包括：
[0006]待测光电系统，所述待测光电系统包括至少两个待测负载；
[0007]发射单元，所述发射单元用于向平行光管发射第一光束；
[0008]平行光管，所述平行光管具有物镜，所述物镜能够将所述第一光束反射，形成第二光束；所述第二光束能够入射至所述待测光电系统中的任一待测负载上；
[0009]标定单元，所述标定单元位于所述平行光管与待测光电系统之间；所述标定单元包括第一待标定镜组、第二待标定镜组和反射镜组；
[0010]若所述第一待标定镜组接收到第二光束，并能够将其沿入射光路反射回所述发射单元处，则第一待标定镜组中形成第一标定位置；
[0011]所述第二待标定镜组包括白板，若所述白板能够接收所述第一待标定镜组出射的光束与其经由第二待标定镜组出射的光束，且两光束光斑重合，则此时第二待标定镜组中形成第二标定位置；
[0012]所述反射镜组包括第一反射镜与第二反射镜，且两者分别设于第一标定位置与第二标定位置处；所述第一反射镜与第二反射镜配合，用于向另一待测负载出射与第二光束平行的光束，从而使两个待测负载能够接收到相互平行的光束。
[0013]根据本申请实施例提供的技术方案，所述第一待标定镜组包括：
[0014]第一调节支架，所述第一调节支架为所述第一标定位置；
[0015]分光镜，所述分光镜设置于所述第一调节支架上；所述分光镜用于接收所述第二光束；
[0016]第二调节支架，所述第二调节支架设置于第一调节支架远离平行光管的一侧；
[0017]第一棱镜，所述第一棱镜设置于所述第二调节支架上；所述第一棱镜用于接收分
光镜的透射光束；
[0018]第三调节支架，所述第三调节支架沿垂直于所述第一调节支架与第二调节支架之间的连线设置；
[0019]第三反射镜，所述反射镜设置于所述第三调节支架上；所述第三反光镜用于接收分光镜与第一棱镜的反射光束，且将两光束沿其入射光路反射回发射单元。
[0020]根据本申请实施例提供的技术方案，所述第二待标定镜组还包括：
[0021]第四调节支架，所述第四调节支架设置于所述分光镜的反射光路上；所述第四调节支架为第二标定位置；
[0022]第二棱镜，所述第二棱镜设置于所述第四调节支架上；所述第二棱镜能够接收所述分光镜的反射光束且能够将其反射至所述白板上；
[0023]第五调节支架，所述第五调节支架设置于第二棱镜的出射光路上，所述第五调节支架用于承载所述白板。
[0024]根据本申请实施例提供的技术方案，所述发射单元包括：
[0025]激光发射器，所述激光发射器用于发射第一光束；
[0026]圆孔靶，所述圆孔靶与所述激光发射器对应设置；所述第一光束经由所述圆孔靶入射至所述平行光管。
[0027]第二方面，本申请提供一种大跨度多光轴平行性测试方法，采用上述的一种大跨度多光轴平行性测试装置，包括以下步骤：
[0028]S1、放置所述待测光电系统中任一待测负载于目标范围内，所述目标范围为平行光管的反射范围；
[0029]S2、调整所述激光发射器与圆孔靶，使得第一光束能够穿过圆孔靶入射至平行光管上；
[0030]S3、放置所述第一标定镜组于第一设定位置，所述第一设定位置为第二光束的出射光路上；
[0031]S4、调整所述第一标定镜组的位置，使得第一标定镜组能够将接收到的第二光束沿入射方向回射至圆孔靶处；
[0032]S5、放置所述第二标定镜组于第二设定位置，所述第二设定位置为靠近待测光电系统中另一待测负载的位置；
[0033]S6、调整所述第二标定镜组的位置，使得由第一标定镜组出射的光束均能够入射至白板上，且其光斑重合，并对重合处进行光斑标记，形成初始光斑标记点；
[0034]S7、撤除所述第二棱镜，放置第二反射镜于第二标定位置；
[0035]S8、调整所述第二反射镜位置，使得经由第二反射镜出射的光束能够入射至白板上，且其光斑与第一标定镜组出射的光束的光斑重合；
[0036]S9、撤除所述分光镜，放置第一反射镜于第一标定位置；
[0037]S10、调整所述第一反光镜的位置，使得第一反光镜能够接收第二光束，且能够配合第二反光镜将其反射至白板上，使得其出射光斑与初始光斑标记点重合；
[0038]S11、撤除所述第二调节支架、第五调节支架、第一棱镜和白板。
[0039]根据本申请实施例提供的技术方案，所述步骤S3包括以下步骤：
[0040]S31、沿第二光束的出射方向依次放置所述第一调节支架与第二调节支架；
[0041]S32、放置所述分光镜于第一调节支架上，放置第一棱镜于第二调节支架上；
[0042]S33、放置所述第三调节支架于第一调节支架与第二调节支架之间连线的垂直线上；
[0043]S34、放置所述第三反射镜于第三调节支架上，使得第三反射镜能够接收分光镜与第一棱镜的反射光束。
[0044]根据本申请实施例提供的技术方案，所述步骤S5包括以下步骤：
[0045]S51、撤除所述第三调节支架与第三反射镜；
[0046]S52、放置所述第四调节支架于分光镜的反射光路上；
[0047]S53、放置第五调节支架于第一棱镜的出射光路上；
[0048]S54、放置所述第二棱镜于第四调节支架上，放置白板于第五调节支架上。
[0049]综上所述，本技术方案具体地公开了一种大跨度多光轴平行性测试装置，包括发射单元、平行光管、标定单元和待测光电系统；待测光电系统中至少包括两个待测负载；发射单元用于向平行光管发射第一光束，平行光管具有物镜，接收到第一光束后能够将其反射形成第二光束，第二光束既能够出射至待测光电系统中的待测负载处又能够进入到标定单元，辅助标定单元内的光学元件构成光束平行光路；
[0050]其中，标定单元位于平行光管与待测光电系统之间；标定单元包括第一待标定镜组、第二待标定镜组和反射镜本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种大跨度多光轴平行性测试装置，其特征在于，包括：待测光电系统(17)，所述待测光电系统(17)包括至少两个待测负载；发射单元，所述发射单元用于向平行光管(3)发射第一光束；平行光管(3)，所述平行光管(3)具有物镜，所述物镜能够将所述第一光束反射，形成第二光束；所述第二光束能够入射至所述待测光电系统(17)中的任一待测负载上；标定单元，所述标定单元位于所述平行光管(3)与待测光电系统(17)之间；所述标定单元包括第一待标定镜组、第二待标定镜组和反射镜组；若所述第一待标定镜组接收到第二光束，并能够将其沿入射光路反射回所述发射单元处，则第一待标定镜组中形成第一标定位置；所述第二待标定镜组包括白板(13)，若所述白板(13)能够接收所述第一待标定镜组出射的光束与其经由第二待标定镜组出射的光束，且两光束光斑重合，则此时第二待标定镜组中形成第二标定位置；所述反射镜组包括第一反射镜(15)与第二反射镜(14)，且两者分别设于第一标定位置与第二标定位置处；所述第一反射镜(15)与第二反射镜(14)配合，用于向另一待测负载出射与第二光束平行的光束，从而使两个待测负载能够接收到相互平行的光束。2.根据权利要求1所述的一种大跨度多光轴平行性测试装置，其特征在于，所述第一待标定镜组包括：第一调节支架(4)，所述第一调节支架(4)为所述第一标定位置；分光镜(5)，所述分光镜(5)设置于所述第一调节支架(4)上；所述分光镜(5)用于接收所述第二光束；第二调节支架(6)，所述第二调节支架(6)设置于第一调节支架(4)远离平行光管(3)的一侧；第一棱镜(7)，所述第一棱镜(7)设置于所述第二调节支架(6)上；所述第一棱镜(7)用于接收分光镜(5)的透射光束；第三调节支架(8)，所述第三调节支架(8)沿垂直于所述第一调节支架(4)与第二调节支架(9)之间的连线设置；第三反射镜(9)，所述反射镜(9)设置于所述第三调节支架(8)上；所述第三反光镜(9)用于接收分光镜(5)与第一棱镜(7)的反射光束，且将两光束沿其入射光路反射回发射单元。3.根据权利要求2所述的一种大跨度多光轴平行性测试装置，其特征在于，所述第二待标定镜组还包括：第四调节支架(10)，所述第四调节支架(10)设置于所述分光镜(5)的反射光路上；所述第四调节支架(10)为第二标定位置；第二棱镜(11)，所述第二棱镜(11)设置于所述第四调节支架(10)上；所述第二棱镜(11)能够接收所述分光镜(5)的反射光束且能够将其反射至所述白板(13)上；第五调节支架(12)，所述第五调节支架(12)设置于第二棱镜(11)的出射光路上，所述第五调节支架(12)用于承载所述白板(13)。4.根据权利要求3所述的一种大跨度多光轴平行性测试装置，其特征在于，所述发射单元包括：
激光发射器(...
【专利技术属性】
技术研发人员：祝世民，王建成，张美生，
申请(专利权)人：天津津航技术物理研究所，
类型：发明
国别省市：
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