影像多重曝光方法及影像视觉对位装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供的一种影像多重曝光方法包括：基于多个待测物体受光面的反光率预设多个第一曝光亮度；基于所述第一曝光亮度在上位机中设定当前曝光亮度需求指令；基于当前曝光亮度需求指令控制曝光亮度对所述待测物体进行曝光。本发明专利技术的影像多重曝光方法无须调节曝光时间即可对不同透光率的产品实施多重曝光视觉对位检测，能够有效避免“热噪”问题，应用灵活、操作便捷；有利于提高检测效率、优化检测工艺。本发明专利技术提供的影像视觉对位装置包括相互通讯连接的上位机、光源控制模组和取像模组，具有相应优势。相应优势。相应优势。

【技术实现步骤摘要】
影像多重曝光方法及影像视觉对位装置


[0001]本专利技术属于视觉对位检测设备
，尤其涉及一种影像多重曝光方法和相应的影像视觉对位装置。

技术介绍

[0002]在工业生产过程当中都有必不可少的品质检测工艺环节，相对于传统测量检验方法，使用基于机器视觉技术进行测量检验具有无接触、快速、准确和智能化的优点。尤其在面板检测行业中，随着质量要求越来越高，高精度的影像视觉对位系统越来越多的应用在面板检测的过程当中。
[0003]视觉对位检测的核心是图像的采集和处理，所有信息均来源于采集的图像之中，图像本身的质量极为关键。对于当前的面板检测行业来说，客户端产品形态日益多样化，不同形态的产品的透光率不同，为了适应客户端产品，影像视觉对位系统的图像采集设备需要多重曝光来应对。常用的高精度对位技术方案通过改变图像采集设备的曝光时间来提高图像采集设备传感器的感光度从而实现对不同透光率的产品取像拍照，但是此方法中图像采集设备需长时间曝光，长时间曝光会使图像采集设备的传感器温度上升，可能导致图像采集设备过热，从而产生噪点增多的现象，就是所谓的“热噪”。“热噪”会对图像质量产生极大的影响，甚至图像失真，无法满足检测需求。长时间曝光的做法间接影响到图像取像抓取的精度和稳定性，与此同时拉高图像采集设备的曝光时间会明显增加TT（Tact time，节拍时间），最终降低设备的综合产出能力。这与企业既要不断优化质量又要持续提高生产效率的现实需求是相悖的，因此依赖改变曝光时间对不同透光率的产品取像拍照并不是有效的做法，现有技术中通过软件来更改图像采集设备自身传感器的曝光时间来得到不同曝光的方案存在缺陷。
[0004]因此目前十分需要研究一种影像多重曝光方法及相应的影像视觉对位装置，能够适用于对不同透光率的产品多重曝光取像拍照，满足检测精度要求且不增加TT（节拍时间），以此进一步推动视觉对位检测技术的深层次发展及有效应用。

技术实现思路

[0005]本专利技术为解决上述现有技术的全部或部分问题提供了一种影像多重曝光方法及相应的影像视觉对位装置，适用于影像视觉对位的多重曝光视觉对位。
[0006]本专利技术提供的一种影像多重曝光方法，包括：基于多个待测物体受光面的反光率预设多个第一曝光亮度；基于所述第一曝光亮度在上位机中设定当前曝光亮度需求指令；基于当前曝光亮度需求指令控制曝光亮度对所述待测物体进行曝光。
[0007]不同形态的待测物体的透光率不同，待测物体在曝光时的受光面（朝向曝光光源的一面）就会有不同的反光率，在企业生产一般情况中，待测物体的种类一般都有一个范围，有多少种不同的反光率是可知的，通过对应预设多个第一曝光亮度，可以满足对不同形态的待测物体在检测中的曝光需求，通过在上位机中相应设定当前曝光亮度需求指令，在
工作中可以便捷的控制曝光光源提供当前检测所需要的曝光亮度，避免了图像采集设备需长时间曝光产生的问题和缺陷，且能够灵活地满足不同形态的待测物体高精度检测的要求，检测效率更高，突破了现有做法对进一步降低节拍时间的限制。
[0008]所述基于多个待测物体受光面的反光率预设多个第一曝光亮度的方法包括：获取所述多个待测物体受光面的反光率，设定所述多个第一曝光亮度与所述多个待测物体受光面的反光率成负相关。待测物体受光面的反光率与暴光亮度是负相关的，即待测物体受光面的反光率越高，相应的曝光亮度越低。获取多个待测物体受光面的反光率，以反光率的大小为自变量，所述第一暴光亮度为因变量，设定所述多个第一曝光亮度与所述多个待测物体受光面的反光率成负相关。
[0009]一般的情况中，所述影像多重曝光方法还包括基于当前待测物体受光面的反光率设定第二曝光亮度，基于所述第二曝光亮度设定所述当前曝光需求指令。提供了手动设定所述第二曝光亮度的方案，当待测物体是全新的产品或者由于环境等因素预设的多个第一曝光亮度不能完全满足当前检测需求时可以手动设定第二曝光亮度，通过上位机设定所述当前曝光需求指令，控制提供精确的曝光亮度满足当前检测精度要求。
[0010]所述在上位机中设定所述当前曝光需求指令的方法包括：在上位机中提供控件，所述控件包括多个选项和输入框；所述多个选项与所述多个第一曝光亮度对应，所述输入框用于输入所述第二曝光亮度；选择所述选项设定当前曝光需求指令或在输入框中手动输入数值设定当前曝光需求指令。
[0011]根据实际测试工作中已知需要测试的产品（物体），事先获取多个待测物体受光面的反光率，通过操作所述选项，对于已知待测物体受光面的反光率是可以快捷的设定相应的所述第一曝光亮度。当实际测试工作中临时遇到新的需要测试产品或考虑特定环境因素时，通过在所述输入框中输入数值可以基于当前待测物体受光面的反光率手动设定所述第二曝光亮度，进一步满足生产应用中多样化的需求。
[0012]基于当前曝光亮度需求指令控制曝光亮度的方法包括：上位机下发不同的曝光亮度需求指令时不同的中间继电器得电；通过控制不同的中间继电器得电设定当前曝光亮度。通过控制中间继电器即可切换当前曝光亮度，切换速度快，曝光更稳定。
[0013]所述不同的中间继电器连接不同的曝光光源；控制不同的中间继电器得电以点亮相应的曝光光源，获得当前曝光亮度。可以设置多个曝光光源，每个曝光光源提供不同的曝光亮度，通过控制中间继电器得电切换工作的曝光光源快速的获得当前工作需要的曝光亮度，易于实施、便于操作、工作稳定性更好、失误概率更小。
[0014]本专利技术提供的一种影像视觉对位装置，包括相互通讯连接的上位机、光源控制模组和取像模组；所述取像模组包括至少一个曝光光源和图像采集设备；所述光源控制模组包括光源适配器和可编程控制模块；所述光源适配器包括至少两个光源亮度调节通道，每个所述光源亮度调节通道分别通过所述可编程控制模块与所述曝光光源电连接；所述可编程控制模块与所述上位机通讯连接，并与所述曝光光源电连接。所述上位机用于设定并发出曝光亮度需求指令，所述可编程控制模块分别与所述光源亮度调节通道及所述曝光光源电连接，以实现所述光源调节通道与所述曝光光源的电连接，所述可编程控制模块响应于所述曝光亮度需求指令切换所述光源亮度调节通道，控制所述曝光光源提供的曝光亮度。所述光源调节通道可以与所述曝光光源一一对应连接以实现用不同的曝光光源提供不同
的亮度，也可以多个所述光源亮度调节通道连接一个所述曝光光源以调整一个所述曝光光源提供不同的亮度用于曝光。基于所述曝光亮度需求指令，所述可编程控制模块根据影像视觉对位实际工作对象相应切换所述光源亮度调节通道，调节或切换不同的曝光亮度进行取像。无须调节图像采集设备的曝光时间即可针对不同透光率的产品实施多重曝光，操作便捷高效且避免了依赖曝光时间长度实施不同透光率产品的多重曝光导致的图像质量不理想、测试精度不达标及测试结果可靠性低的缺陷。
[0015]所述可编程控制模块包括电连接的控制单元和线路开关单元；所述线路开关单元还分别电连接所述光源亮度调节通道以及所述曝光光源。
[0016]所述线路开关单元包括至少两个中间继电器，所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种影像多重曝光方法，其特征在于：包括：基于多个待测物体受光面的反光率预设多个第一曝光亮度；基于所述第一曝光亮度在上位机中设定当前曝光亮度需求指令；基于当前曝光亮度需求指令控制曝光亮度对所述待测物体进行曝光。2.根据权利要求1所述的影像多重曝光方法，其特征在于：所述基于多个待测物体受光面的反光率预设多个第一曝光亮度的方法包括：获取所述多个待测物体受光面的反光率，设定所述多个第一曝光亮度与所述多个待测物体受光面的反光率成负相关。3.根据权利要求1所述的影像多重曝光方法，其特征在于：还包括基于当前待测物体受光面的反光率设定第二曝光亮度，基于所述第二曝光亮度在上位机中设定所述当前曝光需求指令。4.根据权利要求3所述的影像多重曝光方法，其特征在于：所述在上位机中设定所述当前曝光需求指令的方法包括：在所述上位机中提供控件，所述控件包括多个选项和输入框；所述多个选项与所述多个第一曝光亮度一一对应，所述输入框用于输入所述第二曝光亮度；选择所述选项设定当前曝光需求指令或在输入框中输入数值设定当前曝光需求指令。5.根据权利要求1
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4任一项所述的影像多重曝光方法，其特征在于：基于当前曝光亮度需求指令控制曝光亮度的方法包括：上位机下发不同的曝光亮度需求指令时不同的中间继电器得电；通过控制不同的中间继电器得电以设定当前曝光亮度。6.根据权利要求5所述的影...

【专利技术属性】
技术研发人员：周明星，朱涛，
申请(专利权)人：武汉精测电子集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：