一种电子元件品质的检测筛分平台制造技术

技术编号:36365617 阅读:53 留言:0更新日期:2023-01-14 18:30
本实用新型专利技术公开了一种电子元件品质的检测筛分平台,包括:承接底座,其设置为圆台状支撑结构,所述承接底座上端面设置有限位板,且承接底座上端三个方向均分别独立设置有传输带,所述传输带内部一端辊轧连接有限位电机输出端,所述承接底座内部上端设置有控制器;电动伸缩杆,其设置在所述控制器上端,所述电动伸缩杆上端滑动连接有检测台,且检测台下端设置有球形支架一端。该电子元件品质的检测筛分平台,通过装置内部的元件检测器配合检测台对电子元件进行配套检测使用,利用机械进行电子对比寻找,在进行群组式同步筛选过程当中提高准确率,或者在单个电子元件筛选时提供精准的检测使用过程以及效率,便于筛选作业。便于筛选作业。便于筛选作业。

【技术实现步骤摘要】
一种电子元件品质的检测筛分平台


[0001]本技术涉及电子元件检测
,具体为一种电子元件品质的检测筛分平台。

技术介绍

[0002]电子元器件是电子元件和小型的机器和仪器的组成部分,其本身常由若干零件构成,用于构成对应的电器以及仪表等工业零件,在电子元件生产完成之后,根据不同需求同类元件的型号以及规格不相同,在生产完毕之后,通过对电子元件外表面识别,对电子元件的品质进行筛分,传统的筛分方法采用呈组群多个对应的检测观察,由于每组内部含有大量的电子元件,在检测过程中难以保证对每个电子元件的精准检测使用,使得筛选效率低,且在筛选时,大量的电子元件同步向进料位置以及出料位置位移,容易堵住该端口,影响装置的使用,并且传统根据尺寸大小筛选方法容易导致同等大小不同类型的电子元件之间混合,增加后期工作检测时间。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种电子元件品质的检测筛分平台,以解决上述
技术介绍
中提出在检测过程中难以保证对每个电子元件的精准检测使用,使得筛选效率低,且大量的电子元件同步向进料以及出料位置位移,容易堵住该端口,并且传统根据尺寸大小筛选方法容易导致同等大小不同类型的电子元件之间混合的问题。
[0004]为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:一种电子元件品质的检测筛分平台,包括承接底座,其设置为圆台状支撑结构,所述承接底座上端面设置有限位板,且承接底座上端三个方向均分别独立设置有传输带,所述传输带内部一端辊轧连接有限位电机输出端,所述承接底座内部上端设置有控制器;
[0005]电动伸缩杆,其设置在所述控制器上端,所述电动伸缩杆上端滑动连接有检测台,且检测台下端设置有球形支架一端,所述检测台下端侧边设置有伸缩气囊上端,且伸缩气囊下端与导向台上端内部连接;
[0006]定位板,其侧壁与所述导向台侧壁连接,所述导向台下端设置有电动升降柱输出端,且电动升降柱下端安装在承接底座内部,所述承接底座上端对称设置有定位架,且2个定位架板状结构内部下端设置有元件检测器。
[0007]采用上述技术方案,便于装置内部结构提供输出结构,在检测电子元件时提供准确的筛选操作。
[0008]优选的,所述承接底座侧壁设置有与传输带三个方向对应的支撑板结构,且承接底座一侧设置有开口结构。
[0009]采用上述技术方案,便于位传输带工作位置提供对应的支撑结构,便于装置输出使用。
[0010]优选的,所述限位电机贯穿限位板侧表面,且限位板侧壁转动连接有传输带内部
辊轧两端。
[0011]采用上述技术方案,便于传输带将对应的电子元件向对应方向输出。
[0012]优选的,所述球形支架另一端位于控制器上端,且球形支架由球体结构与杆状结构组成,并且该球体结构表面设置有与传输带方向对应的滑轨结构。
[0013]采用上述技术方案,便于检测台向对应的位置传输带导向,便于电子元件的位移。
[0014]优选的,所述导向台整体由软性材料制成片状结构,且导向台一侧位于传输带一端上方。
[0015]采用上述技术方案,便于导向台将电子元件向对应的传输带进行输出。
[0016]优选的,所述电动升降柱电连接供电箱,且供电箱安装在承接底座上端,并且供电箱电连接控制器。
[0017]采用上述技术方案,在使用时,形成稳定的联动结构,便于对电子元件输出方向提供导向。
[0018]与现有技术相比,本技术的有益效果是:该电子元件品质的检测筛分平台:
[0019]1.在使用该装置时,通过装置内部的元件检测器配合检测台对电子元件进行配套检测使用,利用机械进行电子对比寻找,在进行群组式同步筛选过程当中提高准确率,或者在单个电子元件筛选时提供精准的检测使用过程以及效率,便于快速继续筛选作业;
[0020]2.通过装置内部的电动升降柱与定位板与导向台之间形成开放式结构,在使用时提供更加开阔的位置提供电子元件的工作运输,通过传输带与限位电机的配合作业,使得装置在使用时提供稳定的输出状态进行作业使用,减少电子元件在运输以及出料过程当中的堵塞;
[0021]3.通过装置内部的元件检测器,在使用时对位于检测台上的电子元件进行准确的检测作业使用,其中根据检测不同的电子元件时,通过电动伸缩杆与球形支架配合,形成导向台,便于对不同电子元件位置进行导向作业使用,提高对不同电子元件检测之后的分向筛选过程,缩短检测时间,降低后期检查难度。
附图说明
[0022]图1为本技术整体内部正视结构示意图;
[0023]图2为本技术图1中A处放大结构示意图;
[0024]图3为本技术整体外部俯视结构示意图;
[0025]图4为本技术整体内部侧视结构示意图。
[0026]图中:1、承接底座;2、限位板;3、传输带;4、限位电机;5、控制器;6、电动伸缩杆;7、球形支架;8、检测台;9、伸缩气囊;10、导向台;11、定位板;12、电动升降柱;13、供电箱;14、定位架;15、元件检测器。
具体实施方式
[0027]下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。
[0028]请参阅图1

4,本技术提供一种技术方案:一种电子元件品质的检测筛分平台,包括承接底座1、限位板2、传输带3、限位电机4、控制器5、电动伸缩杆6、球形支架7、检测台8、伸缩气囊9、导向台10、定位板11、电动升降柱12、供电箱13、定位架14和元件检测器15;
[0029]其中,承接底座1,其设置为圆台状支撑结构,承接底座1上端面设置有限位板2,且承接底座1上端三个方向均分别独立设置有传输带3,传输带3内部一端辊轧连接有限位电机4输出端,承接底座1内部上端设置有控制器5,承接底座1侧壁设置有与传输带3三个方向对应的支撑板结构,且承接底座1一侧设置有开口结构,限位电机4贯穿限位板2侧表面,且限位板2侧壁转动连接有传输带3内部辊轧两端;
[0030]在使用该装置时,通过将承接底座1与限位板2之间通过焊接方法固定之后,将承接底座1设有开口位置一侧面向工作人员,使用时将3个传输带3内部辊轧位置与限位板2内壁对应位置转动连接,便于限位板2辅助传输带3进行使用,在传输带3使用时,通过将传输带3内部一个辊轧一端与限位电机4输出端连接,使用时通过使用区域的电力系统控制限位电机4带动传输带3内部辊轧转动带动传输带3将上端的电子元件向外部输出,使用时,传输带3的输出方向为固定,根据分拣需要将传输带3与对应的运输线之间连接,使用时控制器5根据不同需求的电子元件进行检测挑选;
[0031]电动伸缩杆6,其设置在控制器5上端,电动伸缩杆6上端滑动连接有检测台8,且检测本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子元件品质的检测筛分平台,其特征在于,包括:承接底座(1),其设置为圆台状支撑结构,所述承接底座(1)上端面设置有限位板(2),且承接底座(1)上端三个方向均分别独立设置有传输带(3),所述传输带(3)内部一端辊轧连接有限位电机(4)输出端,所述承接底座(1)内部上端设置有控制器(5);电动伸缩杆(6),其设置在所述控制器(5)上端,所述电动伸缩杆(6)上端滑动连接有检测台(8),且检测台(8)下端设置有球形支架(7)一端,所述检测台(8)下端侧边设置有伸缩气囊(9)上端,且伸缩气囊(9)下端与导向台(10)上端内部连接;定位板(11),其侧壁与所述导向台(10)侧壁连接,所述导向台(10)下端设置有电动升降柱(12)输出端,且电动升降柱(12)下端安装在承接底座(1)内部,所述承接底座(1)上端对称设置有定位架(14),且2个定位架(14)板状结构内部下端设置有元件检测器(15)。2.根据权利要求1所述的一种电子元件品质的检测筛分平台,...

【专利技术属性】
技术研发人员:姜蕾
申请(专利权)人:上海多知互联网科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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