一种用于集成电路芯片的测试工装制造技术

本实用新型专利技术涉及领域，具体公开了一种用于集成电路芯片的测试工装，包括工作台和L型支撑台，工作台上表面开设有第一滑槽，第一滑槽的外壁开设有第一限位槽，第一限位槽上滑动连接有第一滑块，第一滑块的一侧外壁固定连接有第二滑块，第二滑块的上表面固定连接有T型限位板，工作台的两侧外壁贯穿开设有双向丝杆，对T型限位板上的芯片进行夹持，使芯片测试位置位于测试台的正下方，此时打开控制开关，首先控制电动伸缩杆下降使测试台下降至合适位置，然后使用控制开关使测试台运转，测试台控制探针对芯片进行检测，使芯片测试时减少因为放置位置偏移导致测试出错的发生。放置位置偏移导致测试出错的发生。放置位置偏移导致测试出错的发生。

【技术实现步骤摘要】
一种用于集成电路芯片的测试工装


[0001]本技术涉及领域，具体是一种用于集成电路芯片的测试工装。

技术介绍

[0002]集成电路芯片是能够实现一定电路功能的微型电子器件，为了保证集成电路芯片的稳定顺利工作，需要对集成电路芯片进行测试，筛选出残次品，而测试工装就是对集成电路芯片进行固定的，以便于稳固对集成电路芯片进行测试的工具。
[0003]目前用于集成电路测试的装置有些需要人工放置在测试台下方，人工放置时，芯片位置有时会发生偏移，从而使检测出来的数据发生错误。

技术实现思路

[0004]针对现有的问题，本技术提供一种用于集成电路芯片的测试工装，有效的解决
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为解决上述问题，本技术采用如下的技术方案：
[0006]一种用于集成电路芯片的测试工装，包括工作台和L型支撑台，所述工作台上表面开设有第一滑槽，所述第一滑槽的内壁开设有第一限位槽，所述第一限位槽内壁滑动连接有第一滑块，所述第一滑块的一侧外壁固定连接有第二滑块，所述第二滑块的上表面固定连接有T型限位板，所述工作台的两侧外壁转动连接有双向丝杆，所述T型限位板的一侧外壁固定连接有安装套，所述安装套的一侧贯穿开设有第二滑槽，所述T型限位板的一侧外壁开设有第三滑槽，所述T型限位板的一侧固定连接有安装块，所述T型限位板的另一侧固定连接有固定块，所述安装块的一侧固定连接有第一弹簧，所述第一弹簧的一端固定连接有第三滑块，所述第三滑块的一侧固定连接有第一限位块，所述第三滑块的另一侧固定连接有第二限位块。
[0007]作为本技术再进一步的方案：所述双向丝杆与第二滑块螺纹连接，所述第二滑块有两个，所述双向丝杆转动时，所述第二滑块向内做同步运动。
[0008]作为本技术再进一步的方案：所述第一限位块的内壁开设有第二限位槽，所述第二限位槽的一侧内壁开设有第三限位槽，所述第二限位槽的一侧内壁贯穿开设有第四限位槽，所述第三限位槽和第四限位槽的连线相互垂直。
[0009]作为本技术再进一步的方案：所述第一限位块的内壁固定连接有第二弹簧，所述第二弹簧的一端固定连接有滑杆，所述滑杆上固定连接有与第四限位槽规格相同的限位杆，所述滑杆的一侧外壁固定连接有L型限位板。
[0010]作为本技术再进一步的方案：所述第二弹簧有四组，所述第二弹簧的规格相同。
[0011]作为本技术再进一步的方案：所述L型支撑台的下表面外壁固定连接有电动伸缩杆，所述电动伸缩杆的下端固定连接有测试台，所述测试台的下端活动连接有探针，所述双向丝杆的一端固定连接有转盘，所述工作台的外壁固定连接有控制开关，所述控制开
关的导线与电动伸缩杆和测试台的导线电性连接。
[0012]与现有技术相比，本技术的有益效果是：使用时，首先将芯片放在T型限位板上，转动转盘，使双向丝杆转动，双向丝杆转动带动第二滑块同步向内运动，因为设置有第一滑块和第一限位槽，使第二滑块向内运动时，位置不会偏移，此时第二滑块带动与之固定连接的T型限位板向内运动，从而对芯片进行夹持和限位，限位后，将两边的第一限位块，向相反方向进行滑动，滑动至芯片两侧，此时向内推动滑杆，转动滑杆，使限位杆对应第三限位槽处，第二弹簧产生的回弹力使限位杆卡接在第三限位槽处，从而使L型限位板旋转九十度并完成限位，因为设置有四组装置，第一弹簧将芯片向中部推动，完成对芯片的装夹以及定位，此时打开控制开关，首先控制电动伸缩杆下降使测试台下降至合适位置，然后使用控制开关使测试台运转，测试台控制探针对芯片进行检测，使芯片测试时减少因为放置位置偏移导致测试出错的发生。
附图说明
[0013]图1为一种用于集成电路芯片的测试工装的结构示意图；
[0014]图2为一种用于集成电路芯片的测试工装中的夹装结构示意图；
[0015]图3为一种用于集成电路芯片的测试工装中的夹装剖视示意图；
[0016]图4为一种用于集成电路芯片的测试工装中的芯片限位结构示意图；
[0017]图5为一种用于集成电路芯片的测试工装中的挡板限位结构示意图；
[0018]图6为一种用于集成电路芯片的测试工装中的挡板结构限位槽放大示意图。
[0019]图中：1、工作台；2、转盘；3、控制开关；4、L型支撑台；5、电动伸缩杆；6、测试台；7、探针；8、T型限位板；9、双向丝杆；10、安装套；11、第二滑块；12、固定块；13、第一滑块；14、第一限位槽；15、第三滑块；16、第一弹簧；17、安装块；18、第一限位块；19、第二滑槽；20、第二限位块；21、第三滑槽；22、第二弹簧；23、第二限位槽；24、第四限位槽；25、第三限位槽；26、滑杆；27、限位杆；28、L型限位板；29、第一滑槽。
具体实施方式
[0020]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0021]如图1
‑
6所示，实施例中，提供了一种用于集成电路芯片的测试工装，包括工作台1和L型支撑台4，工作台1上表面开设有第一滑槽29，第一滑槽29的内壁开设有第一限位槽14，第一限位槽14内壁滑动连接有第一滑块13，第一滑块13的一侧外壁固定连接有第二滑块11，第二滑块11的上表面固定连接有T型限位板8，工作台1的两侧外壁转动连接有双向丝杆9，T型限位板8的一侧外壁固定连接有安装套10，安装套10的一侧贯穿开设有第二滑槽19，T型限位板8的一侧外壁开设有第三滑槽21，T型限位板8的一侧固定连接有安装块17，T型限位板8的另一侧固定连接有固定块12，安装块17的一侧固定连接有第一弹簧16，第一弹簧16的一端固定连接有第三滑块15，第三滑块15的一侧固定连接有第一限位块18，第三滑块15的另一侧固定连接有第二限位块20，通过转动双向丝杆9，使第一滑块13同步向内，对T
型限位板8上的芯片进行夹持，使芯片测试位置位于测试台6的正下方，便于测试。
[0022]本实施例中，双向丝杆9与第二滑块11螺纹连接，第二滑块11有两个，双向丝杆9转动时，第二滑块11向内做同步运动，通过转动双向丝杆9，使第二滑块11同步向内运动，保证夹持位置是在中部。
[0023]本实施例中，第一限位块18的内壁开设有第二限位槽23，第二限位槽23的一侧内壁开设有第三限位槽25，第二限位槽23的一侧内壁贯穿开设有第四限位槽24，第三限位槽25和第四限位槽24的连线相互垂直，通过开设连线相互垂直的第三限位槽25和第四限位槽24，便于限位。
[0024]本实施例中，第一限位块18的内壁固定连接有第二弹簧22，第二弹簧22的一端固定连接有滑杆26，滑杆26上固定连接有与第四限位槽24规格相同的限位杆27，滑杆26的一侧外壁固定本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于集成电路芯片的测试工装，包括工作台(1)和L型支撑台(4)，其特征在于，所述工作台(1)上表面开设有第一滑槽(29)，所述第一滑槽(29)的内壁开设有第一限位槽(14)，所述第一限位槽(14)内壁滑动连接有第一滑块(13)，所述第一滑块(13)的一侧外壁固定连接有第二滑块(11)，所述第二滑块(11)的上表面固定连接有T型限位板(8)，所述工作台(1)的两侧外壁转动连接有双向丝杆(9)，所述T型限位板(8)的一侧外壁固定连接有安装套(10)，所述安装套(10)的一侧贯穿开设有第二滑槽(19)，所述T型限位板(8)的一侧外壁开设有第三滑槽(21)，所述T型限位板(8)的一侧固定连接有安装块(17)，所述T型限位板(8)的另一侧固定连接有固定块(12)，所述安装块(17)的一侧固定连接有第一弹簧(16)，所述第一弹簧(16)的一端固定连接有第三滑块(15)，所述第三滑块(15)的一侧固定连接有第一限位块(18)，所述第三滑块(15)的另一侧固定连接有第二限位块(20)。2.根据权利要求1所述的一种用于集成电路芯片的测试工装，其特征在于，所述双向丝杆(9)与第二滑块(11)螺纹连接，所述第二滑块(11)有两个，所述双向丝杆(9)转动时，所述第二滑块(11)向内做同步运动。3.根据权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡斌，
申请(专利权)人：深圳市富创源科技有限公司，
类型：新型
国别省市：