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本实用新型涉及领域，具体公开了一种用于集成电路芯片的测试工装，包括工作台和L型支撑台，工作台上表面开设有第一滑槽，第一滑槽的外壁开设有第一限位槽，第一限位槽上滑动连接有第一滑块，第一滑块的一侧外壁固定连接有第二滑块，第二滑块的上表面固定连接...
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