异形件尺寸测量工装制造技术

本实用新型专利技术涉及尺寸检测技术领域，公开一种异形件尺寸测量工装，配合三坐标测量仪使用，所述测量工装包括呈上下位置关系的测量支撑台和定位底座，所述测量支撑台用于放置异形件，所述定位底座安置在三坐标测量仪上，所述测量支撑台外周尺寸小于异形件外周尺寸，所述测量支撑台上设有吸附结构对异形件进行吸附定位。测量支撑台上设置吸附结构对产品进行吸附定位，尤其是通过吸附孔和抽真空孔对产品进行真空吸附，在固定产品的同时不会对产品产生损伤，且产品不会直接与三坐标测量仪平台接触，产品不会划伤平台，产品自身也不会发生磕碰；管道上增加调压阀，可以根据产品大小灵活调节吸力大小，保护产品免于吸力过大变形或吸力过小吸附不稳。力过小吸附不稳。力过小吸附不稳。

【技术实现步骤摘要】
异形件尺寸测量工装


[0001]本技术涉及尺寸检测
，具体地，涉及一种异形件尺寸测量工装。

技术介绍

[0002]在电子行业或其它领域，会有异形件或薄壁件等需要测量各类尺寸的需求，例如针对镜片尺寸检测，通常需通过三坐标测量仪检测，但三坐标测量仪并未配置相应的工装。
[0003]目前针对该类异形产品的尺寸测量，是直接把产品放置于三坐标测量仪的平台上检测，当需要同时检测产品的正面和背面的尺寸数据时，也只能借助A4 纸或者珍珠棉做垫片，这种测量方式存在以下缺点：
[0004]1)如产品属于易碎产品，三坐标测量仪的平台为大理石材质，产品与大理石直接接触时容易产生磕碰导致产品崩边，对人员的要求比较高；
[0005]2)三坐标测量仪精度1.7μm，对于平台的平整性也要求高，产品直接接触平台，使用过程中容易划伤平台台面，这种损伤属于不可逆的损伤，不利于仪器的保养；
[0006]3)需要同时检测产品正面和背面的尺寸数据时，产品直接放于平台上，探针只能检测到一个面的数据，无法接触另一个面进行测量；
[0007]4)采用A4纸或者珍珠棉做垫片时，无法保证A4纸和珍珠棉的平整度，会影响检测结果的准确性以及精度；
[0008]5)如果产品很薄或者重量很轻，三坐标探针接触产品时，会使产品移动，无法固定产品，从而导致检测结果不准确。

技术实现思路

[0009]本技术要解决的技术问题在于克服现有技术的缺陷，提供一种能辅助三坐标测量仪对产品进行顺利且全面精准测量的异形件尺寸测量工装。
[0010]本技术目的通过以下技术方案实现：
[0011]一种异形件尺寸测量工装，配合三坐标测量仪使用，所述测量工装包括呈上下位置关系的测量支撑台和定位底座，所述测量支撑台用于放置异形件，所述定位底座安置在三坐标测量仪上，所述测量支撑台外周尺寸小于异形件外周尺寸，所述测量支撑台上设有吸附结构对异形件进行吸附定位。
[0012]进一步地，所述吸附结构包括开设在测量支撑台与异形件接触的表面上的吸附孔及开设在测量支撑台其它表面上的抽真空孔，所述吸附孔和抽真空孔连通，所述抽真空孔通过管道连接抽真空设备。
[0013]更进一步地，所述管道上设有调压阀。
[0014]进一步地，所述测量支撑台的高度大于三坐标测量仪探针的安全距离。
[0015]进一步地，所述测量支撑台各顶角处均倒角，测量支撑台在各表面相接处均倒棱。
[0016]进一步地，所述测量支撑台为长方体结构。
[0017]进一步地，所述定位底座设计为规则外形。
[0018]更进一步地，所述定位底座为薄板结构。
[0019]更进一步地，所述定位底座各顶角处均倒角。
[0020]进一步地，所述定位底座和测量支撑台一体成型。
[0021]与现有技术相比，本技术具有以下有益效果：
[0022]测量支撑台上设置吸附结构对产品进行吸附定位，尤其是通过吸附孔和抽真空孔对产品进行真空吸附，在固定产品的同时不会对产品产生损伤，且产品不会直接与三坐标测量仪平台接触，产品不会划伤平台，产品自身也不会发生磕碰；
[0023]抽真空的管道上增加了调压阀，可以根据产品大小灵活调节吸力大小，保护产品免于吸力过大变形或吸力过小吸附不稳的状况；
[0024]测量支撑台设计为具有一定高度，便于三坐标测量仪的探针转换角度，探针可以自由移动到产品背面进行打点测量，测量全程不会与工装发生干涉。
附图说明
[0025]图1为实施例1所述的异形件尺寸测量工装的结构示意图；
[0026]图2为图1中测量支撑台的剖面图。
具体实施方式
[0027]下面结合具体实施方式对本技术作进一步的说明，其中，附图仅用于示例性说明，表示的仅是示意图，而非实物图，不能理解为对本专利的限制；为了更好地说明本技术的实施例，附图某些部件会有省略、放大或缩小，并不代表实际产品的尺寸；对本领域技术人员来说，附图中某些公知结构及其说明可能省略是可以理解的。
[0028]实施例1
[0029]如图1所示的镜片尺寸测量工装，其可以辅助三坐标测量仪对产品各项尺寸进行检测，测量工装主要用于固定产品，便于三坐标测量仪探针进入测量。
[0030]测量工装包括呈上下位置关系的测量支撑台1和定位底座2，其中，测量支撑台1用于放置镜片，定位底座2则安置在三坐标测量仪平台上，测量支撑台和定位底座两者可以通过连接件相互连接，也可以通过磁吸连接或者两者一体成型。为便于三坐标测量仪探针对镜片边沿进行接触测量，可使测量支撑台1 外周尺寸小于镜片外周尺寸，此外，测量支撑台上设置吸附结构对镜片进行吸附定位。
[0031]如图2所示，吸附结构包括开设在测量支撑台1与镜片接触的表面(即测量支撑台上表面)上的吸附孔11及开设在测量支撑台侧表面上的抽真空孔12，吸附孔11和抽真空孔12连通，抽真空孔12外接管道，管道另一端连接抽真空设备。管道上设有调压阀(真空设备和调压阀未示出)，测量时可根据产品的大小调节调压阀以调节吸力的大小，以避免吸附孔处吸力过大导致产品变形，也可在吸力过小导致产品吸附不牢固时调大吸力。
[0032]本实施例的测量工装通过抽真空吸附产品进行测量，摒弃了传统测量中引入海绵垫片的做法，一方面能保证产品在测量过程中稳定放置不窜动，另一方面又能辅助精准测得产品相关尺寸，再者真空吸附固定产品不会对产品产生损伤。
[0033]测量支撑台1的高度设计为大于三坐标测量仪探针的安全距离，便于探针转换角度对产品各处进行接触测量，例如探针可以升到产品背面进行打点测量。
[0034]为避免产品和测量支撑台顶角或面与面相接处发生磕碰刮擦引起产品破损，可将测量支撑台1各顶角处进行倒圆角处理，同时将其各表面相接处进行倒棱处理，上述倒圆和倒棱处理可确保即使因人员操作失误导致产品与测量支撑台其它部位发生接触时，也不会触碰到尖角或锐边，同时也避免尖角对操作人员的刮伤风险。
[0035]测量支撑台1一般设计为长方体结构，以便尽可能的检测大尺寸产品，同时减少与产品的接触面，预留位置给三坐标测量仪的探针接触测量。且长方体结构可在满足测量大尺寸产品需求的同时省制作材料。
[0036]如图1所示，定位底座2设计为规则外形的薄板结构，具体到本实施例中定位底座为正方体薄板，当然，正方体薄板的外周尺寸要比测量支撑台的外周尺寸大。定位底座2与平台接触面为正方形，便于根据产品的形状调整工装的摆放方向，正方体薄板在靠近四个顶角处均匀开设四个孔，与三坐标测量仪平台上现有的孔座对应，使测量工装与三坐标测量仪完美契合，在定位底座摆放好后，采用螺钉固定测量工装即可。
[0037]正方体薄板各顶角处也进行倒圆角处理，以避免和三坐标测量仪平台接触时刮伤平台，同时也可防止产品接触其顶角时产生磕碰。
[0038]本测量工装分成上下两部分(上：测量支撑台，下：定位底座)，可减少制作材料本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种异形件尺寸测量工装，配合三坐标测量仪使用，其特征在于，所述测量工装包括呈上下位置关系的测量支撑台和定位底座，所述测量支撑台用于放置异形件，所述定位底座安置在三坐标测量仪上，所述测量支撑台外周尺寸小于异形件外周尺寸，所述测量支撑台上设有吸附结构对异形件进行吸附定位。2.根据权利要求1所述的异形件尺寸测量工装，其特征在于，所述吸附结构包括开设在测量支撑台与异形件接触的表面上的吸附孔及开设在测量支撑台其它表面上的抽真空孔，所述吸附孔和抽真空孔连通，所述抽真空孔通过管道连接抽真空设备。3.根据权利要求2所述的异形件尺寸测量工装，其特征在于，所述管道上设有调压阀。4.根据权利要求1所述的异形件尺寸测量工装，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：赖永艳，欧琳芳，邓卫国，何家花，尹士平，
申请(专利权)人：安徽光智科技有限公司，
类型：新型
国别省市：